[發明專利]一種非接觸式三維測量系統在審
| 申請號: | 201910311347.0 | 申請日: | 2019-04-18 |
| 公開(公告)號: | CN109959346A | 公開(公告)日: | 2019-07-02 |
| 發明(設計)人: | 劉建立 | 申請(專利權)人: | 蘇州臨點三維科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/25 | 分類號: | G01B11/25;G01B11/02 |
| 代理公司: | 蘇州謹和知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 32295 | 代理人: | 葉棟 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 待測物體 條紋 三維測量系統 三維測量 投射模塊 光調節裝置 非接觸式 光線反射 光軸 圖像 三維測量技術 測量需求 控制模塊 取像模塊 三維形狀 圖像測量 圖像計算 相對測量 錯誤率 平面的 入射角 投射 照射 拍攝 申請 | ||
1.一種非接觸式三維測量系統,其特征在于,所述系統包括:
n個投射模塊,沿對應的光軸朝向待測物體照射條紋光線,不同投射模塊的光軸相對測量平面的入射角不同;所述n為大于或等于2的整數;每個投射模塊包括光調節裝置,所述光調節裝置改變被投射至所述待測物體的條紋的相位;
取像模塊,用于拍攝不同條紋光線反射下的待測物體的第一圖像,以及不同相位的條紋光線反射下的待測物體的第二圖像;
控制模塊,用于根據多個第一圖像測量所述待測物體的三維形狀,根據多個第二圖像計算所述待測物體三維測量中的錯誤率。
2.根據權利要求1所述的系統,其特征在于,所述投影模塊包括發光裝置和以及光柵;
所述發光裝置能夠改變照度;
所述光柵具有多個條紋彼此間隔預設柵距。
3.根據權利要求2所述的三維測量系統,其特征在于,所述投影模塊還包括光柵移動器以移動所述光柵,所述光柵移動器移動所述光柵時形成所述條紋光線的各種相位角;所述取像模塊拍攝所述待測物體于所述條紋光線的各種相位角反射形成的多個條紋影像。
4.根據權利要求1所述的三維測量系統,其特征在于,所述系統還包括高度計算模塊;
所述高度計算模塊計算所述待測物體的高度,其中所述高度計算模塊整合各個所述第一圖像以取得所述待測物體的整合高度信息。
5.根據權利要求1所述的三維測量系統,其特征在于,所述控制單元,用于:從所拍攝的多個第二圖像中提取同一像素的多個亮度值之間的差;判斷所述亮度值之間的差是否小于第一閾值;將所述亮度值之間的差小于所述第一閾值的像素的比例確定為所述錯誤率。
6.根據權利要求1所述的三維測量系統,其特征在于,所述控制單元,用于:從所拍攝的多個第二圖像中提取同一像素的多個亮度值;判斷所述多個亮度值中的至少一個是否等于或大于第二閾值;將等于或大于所述第二閾值的亮度值的比例確定為所述錯誤率。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于蘇州臨點三維科技有限公司,未經蘇州臨點三維科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910311347.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





