[發(fā)明專利]一種激光清洗能量密度閾值的控制方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910310787.4 | 申請日: | 2019-04-18 |
| 公開(公告)號: | CN111822443A | 公開(公告)日: | 2020-10-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李文戈 | 申請(專利權(quán))人: | 揚(yáng)州洛天依智能裝備有限公司 |
| 主分類號: | B08B7/00 | 分類號: | B08B7/00;B08B13/00 |
| 代理公司: | 北京科家知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11427 | 代理人: | 艾秀麗 |
| 地址: | 225000 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 激光 清洗 能量 密度 閾值 控制 方法 | ||
本發(fā)明公開了激光清洗技術(shù)領(lǐng)域的一種激光清洗能量密度閾值的控制方法,通過外接電源控制開關(guān)所有電器,開啟激光器,激光器所發(fā)出的激光經(jīng)過聚光鏡作用于清洗材料基體的表面,然后通過探測器可對激光等離子體進(jìn)行探測,通過微型處理器進(jìn)行處理計(jì)算;然后重復(fù)操作,得到多組激光能量值與峰值電壓值,并通過微型處理器進(jìn)行處理計(jì)算,即可得到激光清洗能量密度閾值,從而進(jìn)行控制;通過探測器可隨時快速的對激光能量進(jìn)行探測,然后通過與微型處理器的配合,可快速的探測激光能量值和探測激光等離子體的峰值電壓值的關(guān)系計(jì)算激光清洗清洗閾值和激光損傷閾值,避免了需要多次重復(fù)試驗(yàn),縮減了試驗(yàn)的時間與成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及激光清洗技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種激光清洗能量密度閾值的控制方法。
背景技術(shù)
在進(jìn)行激光清洗時,當(dāng)激光能量過高時,容易對需要清洗的材料造成一定程度的破壞,而當(dāng)激光能量過底時,又無法有效的對材料進(jìn)行清洗,雖然現(xiàn)有技術(shù)中已經(jīng)提出了激光清洗能量密度閾值的檢測方法,但均操作復(fù)雜,且無法有效精準(zhǔn)的對激光能量進(jìn)行控制;為此我們提出一種激光清洗能量密度閾值的控制方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種激光清洗能量密度閾值的控制方法,以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:一種激光清洗能量密度閾值的控制方法:包括激光器、聚光鏡、探測器、清洗材料基體、位移傳感器、微型處理器、光譜儀、濾波鏡。
一種激光清洗能量密度閾值的控制方法,包括如下步驟,
S1:通過外接電源控制開關(guān)所有電器,開啟激光器,激光器所發(fā)出的激光經(jīng)過聚光鏡作用于清洗材料基體的表面;
S2:而激光在經(jīng)歷S1步驟后會產(chǎn)生激光等離子體,然后通過探測器可對激光等離子體進(jìn)行探測,
S3:而激光等離子體在經(jīng)過光譜儀與濾波鏡后,會進(jìn)入到微型處理器中,通過微型處理器進(jìn)行處理計(jì)算;
S4:然后重復(fù)操作S1到S3步驟多次,得到多組激光能量值與峰值電壓值,并通過微型處理器進(jìn)行處理計(jì)算,即可得到激光清洗能量密度閾值,從而進(jìn)行控制。
進(jìn)一步的,所述步驟S1到S3需重復(fù)操作五次以上。
進(jìn)一步的,所述步驟S1中的預(yù)設(shè)清洗時間為1秒至1.25秒。
進(jìn)一步的,所述步驟S4中的激光能量值呈由小向大,等范圍改變。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是:
該激光清洗能量密度閾值的控制方法,操作簡單,使用方便,通過探測器可隨時快速的對激光能量進(jìn)行探測,然后通過與微型處理器的配合,可快速的探測激光能量值和探測激光等離子體的峰值電壓值的關(guān)系計(jì)算激光清洗清洗閾值和激光損傷閾值,避免了需要多次重復(fù)試驗(yàn),縮減了試驗(yàn)的時間與成本。
附圖說明
圖1為本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中:1、激光器;2、聚光鏡;3、探測器;4、清洗材料基體;、5、位移傳感器;6、微型處理器;7、光譜儀;8、濾波鏡。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
請參閱圖1,本發(fā)明提供一種技術(shù)方案:一種激光清洗能量密度閾值的控制方法:包括激光器1、聚光鏡2、探測器3、清洗材料基體4、位移傳感器5、微型處理器6、光譜儀7、濾波鏡8。
一種激光清洗能量密度閾值的控制方法,包括如下步驟,
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