[發(fā)明專利]選擇性增強正面鈍化的PERC太陽能電池及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910306872.3 | 申請日: | 2019-04-17 |
| 公開(公告)號: | CN110212037A | 公開(公告)日: | 2019-09-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 方結(jié)彬;林綱正;張小明 | 申請(專利權(quán))人: | 天津愛旭太陽能科技有限公司;浙江愛旭太陽能科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0216 | 分類號: | H01L31/0216;H01L31/18 |
| 代理公司: | 廣州知友專利商標代理有限公司 44104 | 代理人: | 侯莉 |
| 地址: | 300400 天津市北辰區(qū)天津北辰*** | 國省代碼: | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 鈍化膜 背面鈍化膜 正銀電極 開槽 太陽能電池 選擇性增強 背場 鈍化 鋁柵 全鋁 制備 光電轉(zhuǎn)換效率 降低接觸電阻 背銀電極 鈍化效果 鈍化作用 少子復(fù)合 場鈍化 傳導(dǎo)性 背面 電池 貫通 | ||
1.一種選擇性增強正面鈍化的PERC太陽能電池,包括背銀電極、全鋁背場或鋁柵線、背面鈍化膜、P型硅、N型硅、正面鈍化膜和正銀電極,在所述P型硅的背面上依次設(shè)有所述背面鈍化膜、全鋁背場或鋁柵線、背銀電極,在所述背面鈍化膜上開有貫通背面鈍化膜的開槽,所述P型硅露于所述開槽中,所述全鋁背場或鋁柵線位于開槽內(nèi)的部分與所述P型硅相連,其特征在于:在所述P型硅的正面上依次設(shè)有增強鈍化膜、正面鈍化膜和正銀電極,且所述增強鈍化膜位于P型硅上對應(yīng)正銀電極的區(qū)域,所述增強鈍化膜為N型薄膜,在P型硅的正面上對應(yīng)正銀電極以外的區(qū)域與正面鈍化膜之間設(shè)有N型硅。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的選擇性增強正面鈍化的PERC太陽能電池,其特征在于:在所述P型硅和N型薄膜之間設(shè)有對應(yīng)正銀電極區(qū)域的隧道氧化層。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的選擇性增強正面鈍化的PERC太陽能電池,其特征在于:所述N型薄膜為多晶硅薄膜或碳化硅薄膜。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的選擇性增強正面鈍化的PERC太陽能電池,其特征在于:所述N型薄膜的厚度是5~50nm。
5.根據(jù)權(quán)利要求2~4任一項所述的選擇性增強正面鈍化的PERC太陽能電池,其特征在于:所述隧道氧化層的厚度是5~10nm。
6.一種權(quán)利要求1所述選擇性增強正面鈍化的PERC太陽能電池的制備方法,其特征在于具體包括以下步驟:
⑴在P型硅的正面上形成N型薄膜;
⑵在N型薄膜上沉積氮化硅膜;
⑶對步驟⑵所得產(chǎn)品的正面進行激光刻蝕,去除對應(yīng)正銀電極以外區(qū)域的N型薄膜和氮化硅膜;
⑷在步驟⑶所得產(chǎn)品的正面上制絨,擴散磷源形成N型硅;
⑸去除在擴散過程中形成的磷硅玻璃和周邊PN結(jié),并去除對應(yīng)正銀電極區(qū)域的氮化硅膜,再對產(chǎn)品的背面進行刻蝕;
⑹對由步驟⑸所得產(chǎn)品進行退火;
⑺在由步驟⑹所得產(chǎn)品的正面和背面上分別沉積正面鈍化膜和背面鈍化膜;
⑻在由步驟⑺所得產(chǎn)品的背面上激光開槽貫通背面鈍化膜,使P型硅露于開槽中;
⑼在由步驟⑻所得產(chǎn)品的背面印刷背銀電極漿料并烘干;
⑽在由步驟⑼所得產(chǎn)品的背面印刷鋁漿并烘干;
⑾在由步驟⑽所得產(chǎn)品正面的N型薄膜上印刷正銀電極漿料并烘干;
⑿對由步驟⑾所得產(chǎn)品進行高溫?zé)Y(jié),形成背銀電極、全鋁背場或鋁柵線和正銀電極,全鋁背場或鋁柵線通過開槽與P型硅相連;
⒀對由步驟⑿所得產(chǎn)品進行抗LID退火。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的制備方法,其特征在于:在形成N型薄膜之前,先在P型硅的正面上形成隧道氧化層,再在隧道氧化層上形成N型薄膜,并在所述步驟⑷的制絨過程中,對應(yīng)正銀電極以外區(qū)域的隧道氧化層被去除。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的制備方法,其特征在于:完成步驟⑶后,留存于對應(yīng)正銀電極區(qū)域的隧道氧化層和N型薄膜的面積大于正銀電極的面積。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的制備方法,其特征在于:所述隧道氧化層采用熱氧化工藝、熱硝酸氧化工藝或者臭氧氧化工藝制備而成。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的制備方法,其特征在于:所述N型薄膜采用低壓化學(xué)氣相沉積法或等離子增強化學(xué)氣相沉積法制備而成,工藝氣體為PH3和SiH4,或PH3、SiH4和CH4。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





