[發明專利]用于超快的具有奇偶校驗的糾錯碼的系統和方法有效
| 申請號: | 201910305027.4 | 申請日: | 2019-04-16 |
| 公開(公告)號: | CN110597654B | 公開(公告)日: | 2023-08-15 |
| 發明(設計)人: | 陳杰;吳子寧 | 申請(專利權)人: | 英韌科技(上海)有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/10 | 分類號: | G06F11/10 |
| 代理公司: | 上海一平知識產權代理有限公司 31266 | 代理人: | 成春榮;竺云 |
| 地址: | 201210 上海市浦東新區中國*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 具有 奇偶校驗 糾錯碼 系統 方法 | ||
1.一種在非易失性存儲設備中存儲數據的方法,包括:
將一個用戶數據單元劃分為多個具有相同大小的數據塊;
生成多個糾錯碼ECC碼字和至少一個ECC奇偶校驗塊,其中所述生成多個ECC碼字和至少一個ECC奇偶校驗塊包括:分別對每個所述多個數據塊進行編碼以生成所述多個ECC碼字中的各個ECC碼字,并通過對所述多個ECC碼字進行至少一個包括XOR操作的奇偶校驗操作以生成所述至少一個ECC奇偶校驗塊;或者,通過至少一個包括XOR操作的奇偶校驗操作從所述多個數據塊生成至少一個奇偶校驗數據塊,并對所述至少一個奇偶校驗數據塊進行編碼以生成所述至少一個ECC奇偶校驗塊,其中所述多個數據塊中的每一個數據塊被編碼成為所述多個ECC碼字中每一個相對應的ECC碼字;以及
將所述多個ECC碼字和所述至少一個ECC奇偶校驗塊發送到非易失性存儲設備的多個通道,其中對于所述多個ECC碼字和所述至少一個ECC奇偶校驗塊要被存儲在所述多個通道的不同通道中;
從所述非易失性存儲設備并行讀取所述多個ECC碼字和所述至少一個ECC奇偶校驗塊;
解碼所述多個ECC碼字以獲得多個數據塊;
如果所述多個ECC碼字中的一個或多個未能成功解碼;
解碼至少一個ECC奇偶校驗塊以生成至少一個奇偶校驗塊;
通過對至少一個奇偶校驗塊和成功解碼ECC碼字生成的數據塊進行至少一個包括XOR操作的奇偶校驗操作來恢復至少一個丟失的數據塊。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述非易失性存儲設備的每個通道包括多個顆粒,以及所述多個ECC碼字和所述至少一個ECC奇偶校驗塊中的每一個存儲在不同通道的不同顆粒中。
3.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述非易失性存儲設備是以下之一:NAND閃存、NOR閃存、磁阻隨機存取存儲器MRAM、電阻隨機存取存儲器RRAM、相變隨機存取存儲器PCRAM和納米隨機存儲器。
4.如權利要求1所述的方法,還包括:
從所述非易失性存儲設備的總共(M+F)個通道中的M個通道并行讀取M個數據片,其中所述多個ECC碼字和所述至少一個ECC奇偶校驗塊是存儲在所述(M+F)個通道中的(M+F)個數據片,其中M是大于1的整數,F是大于或等于1的整數;
確定所述M個數據片對應于所述多個ECC碼字;以及
解碼所述M個數據片以獲得所述多個數據塊,利用其中所述至少一個ECC奇偶校驗塊提供恢復支持。
5.如權利要求1所述的方法,還包括:
從所述非易失性存儲設備的總共(M+F)個通道中的M個通道并行讀取M個數據片,其中所述多個ECC碼字和所述至少一個ECC奇偶校驗塊是存儲在(M+F)個通道中的(M+F)個數據片,其中M是大于1的整數,F是大于或等于1的整數;
確定所述M個數據片包括所述至少一個ECC奇偶校驗塊;
通過對所述M個數據片的至少一個奇偶校驗操作,獲得不包括在M個數據片中的至少一個ECC碼字;和
解碼所述多個ECC碼字以獲得相應的多個數據塊,并利用所述(M+F)個通道中剩余F個通道中的F個數據片提供恢復支持。
6.如權利要求1所述的方法,還包括:
從所述非易失性存儲設備的總共(M+F)個通道中的M個通道并行讀取M個數據片,其中所述多個ECC碼字和所述至少一個ECC奇偶校驗塊是存儲在(M+F)個通道中的(M+F)個數據片,其中M是大于1的整數,F是大于或等于1的整數;
確定所述M個數據片包括所述至少一個ECC奇偶校驗塊;
解碼所述M個數據片以獲得多個數據塊的子集和至少一個奇偶校驗塊;以及
通過對所述多個數據塊的子集和所述至少一個奇偶校驗進行至少一個奇偶校驗操作獲得至少一個數據塊,以完成所述多個數據塊的完整集合,并利用所述(M+F)通道中剩余F個通道的F個數據片提供恢復支持。
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