[發明專利]基于G(E)函數的放射源運輸容器γ屏蔽性能檢測方法及系統

在審

• 申請號: 201910303514.7
• 申請日: 2019-04-16
• 公開（公告）號: CN110057843A
• 公開（公告）日: 2019-07-26
• 發明（設計）人: 莊大杰;王任澤;夏三強;王學新;張建崗;李國強;孫洪超;孫樹堂;孟東原;陳磊;劉紅艷
• 申請（專利權）人: 中國輻射防護研究院
• 主分類號: G01N23/02
• 分類號: G01N23/02
• 代理公司: 北京天悅專利代理事務所(普通合伙) 11311
• 代理人: 田明;任曉航

1.基于G(E)函數的放射源運輸容器γ屏蔽性能檢測方法，其特征在于，包括：

S1、根據放射源運輸容器的結構特征和材料特征，結合屏蔽要求，建立并優化放射源運輸容器模型；

S2、將多個標準放射源置于所述放射源運輸容器內，基于所述放射源運輸容器模型，建立所述放射源運輸容器的γ模擬譜；

S3、基于所述放射源運輸容器的γ模擬譜，求解G(E)函數；

S4、將放射源置于所述放射源運輸容器內，通過探測器獲取所述放射源運輸容器的γ真實譜；

S5、基于所述放射源運輸容器的γ真實譜，通過所述G(E)函數計算得到所述放射源運輸容器的γ劑量率。

2.根據權利要求1所述的基于G(E)函數的放射源運輸容器γ屏蔽性能檢測方法，其特征在于，步驟S2包括：

S21、將多個標準放射源置于所述放射源運輸容器內，通過所述探測器獲取所述多個標準放射源的γ測量能譜；

S22、對所述多個標準放射源的γ測量能譜進行能量刻度，計算得到所述多個標準放射源的γ測量能譜的能量刻度參數；

S23、對所述多個標準放射源的γ測量能譜進行峰形參數刻度，計算得到所述多個標準放射源的γ測量能譜的峰形參數；

S24、基于所述放射源運輸容器模型，結合所述多個標準放射源的γ測量能譜的能量刻度參數和峰形參數，通過蒙特卡羅方法模擬得到所述放射源運輸容器的γ模擬譜。

3.根據權利要求2所述的基于G(E)函數的放射源運輸容器γ屏蔽性能檢測方法，其特征在于，步驟S22包括：

獲取所述多個標準放射源的γ測量能譜中的各個能量γ射線對應的全能峰中心道址，獲得所述多個標準放射源的γ測量能譜的能量刻度曲線，對各能量刻度曲線作最小二乘拋物線擬合，計算得到所述多個標準放射源的γ測量能譜的能量刻度參數。

4.根據權利要求2所述的基于G(E)函數的放射源運輸容器γ屏蔽性能檢測方法，其特征在于，步驟S23包括：

根據所述多個標準放射源的γ測量能譜和選擇的全能峰感興趣區域，得到各全能峰的半高寬，根據各全能峰的半高寬計算得到所述多個標準放射源的γ測量能譜的峰形參數；

各全能峰的半高寬為：

其中，FWHM為半高寬，a、b為待求解系數，E為入射γ射線能量。

5.根據權利要求1所述的基于G(E)函數的放射源運輸容器γ屏蔽性能檢測方法，其特征在于，步驟S3中，通過最小二乘法求解G(E)函數。

6.基于G(E)函數的放射源運輸容器γ屏蔽性能檢測系統，其特征在于，包括：

模型建立模塊，用于根據放射源運輸容器的結構特征和材料特征，結合屏蔽要求，建立并優化放射源運輸容器模型；

模擬譜建立模塊，用于將多個標準放射源置于所述放射源運輸容器內，基于所述放射源運輸容器模型，建立所述放射源運輸容器的γ模擬譜；

求解模塊，用于基于所述放射源運輸容器的γ模擬譜，求解G(E)函數；

真實譜獲取模塊，用于將放射源置于所述放射源運輸容器內，通過探測器獲取所述放射源運輸容器的γ真實譜；

計算模塊，用于基于所述放射源運輸容器的γ真實譜，通過所述G(E)函數計算得到所述放射源運輸容器的γ劑量率。

7.根據權利要求6所述的基于G(E)函數的放射源運輸容器γ屏蔽性能檢測系統，其特征在于，所述模擬譜建立模塊包括：

獲取子模塊，用于將多個標準放射源置于所述探測器正前方，通過所述探測器獲取所述多個標準放射源的γ測量能譜；

第一計算子模塊，用于對所述多個標準放射源的γ測量能譜進行能量刻度，計算得到所述多個標準放射源的γ測量能譜的能量刻度參數；

第二計算子模塊，用于對所述多個標準放射源的γ測量能譜進行峰形參數刻度，計算得到所述多個標準放射源的γ測量能譜的峰形參數；

模擬子模塊，用于基于所述放射源運輸容器模型，結合所述多個標準放射源的γ測量能譜的能量刻度參數和峰形參數，通過蒙特卡羅方法模擬得到所述放射源運輸容器的γ模擬譜。