[發(fā)明專利]一種HSI時(shí)鐘頻率的校準(zhǔn)方法和裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910301317.1
• 申請(qǐng)日: 2019-04-15
• 公開（公告）號(hào): CN110174922B
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 韓飛;王南飛;張金安;王永成;張箭
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 合肥格易集成電路有限公司;北京兆易創(chuàng)新科技股份有限公司;上海格易電子有限公司
• 主分類號(hào): G06F1/08
• 分類號(hào): G06F1/08
• 代理公司: 北京潤(rùn)澤恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11319
• 代理人: 莎日娜

本發(fā)明實(shí)施例提供一種HSI時(shí)鐘頻率的校準(zhǔn)方法和裝置，方法包括：在HSI分頻后一個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)，通過MCU內(nèi)部的計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)MCU外部預(yù)設(shè)精準(zhǔn)時(shí)鐘的第一時(shí)鐘周期數(shù)；根據(jù)預(yù)設(shè)頻率計(jì)算公式和第一時(shí)鐘周期數(shù)獲取HSI的第一頻率值；根據(jù)第一校準(zhǔn)公式和第一頻率值獲取第一步長(zhǎng)校準(zhǔn)值以更新HSI時(shí)鐘頻率；在HSI分頻后一個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)，通過計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)預(yù)設(shè)精準(zhǔn)時(shí)鐘的第二時(shí)鐘周期數(shù)；根據(jù)預(yù)設(shè)頻率計(jì)算公式和第二時(shí)鐘周期數(shù)獲取HSI的第二頻率值；若第二頻率值在目標(biāo)頻率范圍內(nèi)，則完成對(duì)HSI時(shí)鐘頻率的校準(zhǔn)。本發(fā)明實(shí)施例極大提高了對(duì)HSI時(shí)鐘頻率的校準(zhǔn)精度。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及芯片技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種HSI時(shí)鐘頻率的校準(zhǔn)方法和一種HSI時(shí)鐘頻率的校準(zhǔn)裝置。

背景技術(shù)

近年來，隨著物聯(lián)網(wǎng)和汽車電子的發(fā)展，32位MCU(Microcontroller Unit，微控制單元)的應(yīng)用越來越廣泛，32位MCU應(yīng)用產(chǎn)品的種類也越來越多樣化。HSI(High SpeedInternal Clock Signal，高速內(nèi)部時(shí)鐘)是32位MCU內(nèi)部的高速RC振蕩電路，HSI可以給MCU提供基準(zhǔn)的時(shí)鐘頻率。但是，現(xiàn)有制造工藝使得不同MCU芯片的HSI時(shí)鐘頻率不同，因此，需要對(duì)HSI時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn)。

目前，32位MCU(Microcontroller Unit，微控制單元)的生產(chǎn)測(cè)試選用性能比較先進(jìn)的ATE(Automatic Test Equipment，自動(dòng)測(cè)試機(jī))機(jī)臺(tái)。一般通過Socket(帶有彈簧針的插座)和DUT(Device Under Test，測(cè)試設(shè)備)Board(板)將MCU和ATE機(jī)臺(tái)的母板連接，以對(duì)MCU進(jìn)行FT(Final Test，最終測(cè)試)測(cè)試。其中，Socket分為老化測(cè)試插座和POGO Pin(彈簧針式)測(cè)試插座兩種，DUT Board與ATE機(jī)臺(tái)的母板之間的連接方式分為Din connect(歐式插座直連)方式和40cm長(zhǎng)的Cable排線連接方式兩種。

現(xiàn)有技術(shù)中HSI時(shí)鐘頻率的校準(zhǔn)方法為：通過ATE機(jī)臺(tái)測(cè)量HSI輸出的時(shí)鐘頻率F1，將時(shí)鐘頻率F1代入固定的校準(zhǔn)公式，算出校準(zhǔn)步長(zhǎng)值C1后，將C1寫入HSITRIM寄存器里來實(shí)現(xiàn)對(duì)HSI時(shí)鐘頻率的校準(zhǔn)，并可依據(jù)校準(zhǔn)后的HSI頻率是否達(dá)到在目標(biāo)頻率范圍內(nèi)，來決定是否需要再次采用上述步驟進(jìn)行校準(zhǔn)。

現(xiàn)有技術(shù)中HSI時(shí)鐘頻率的校準(zhǔn)方法存在以下缺點(diǎn)：Socket、DUT Board以及ATE機(jī)臺(tái)的母板兩兩之間存在接觸阻抗，Cable排線的寄生電容會(huì)引起負(fù)載效應(yīng)，這兩者都會(huì)對(duì)ATE機(jī)臺(tái)測(cè)量HSI時(shí)鐘頻率F1的準(zhǔn)確性產(chǎn)生影響，從而使校準(zhǔn)公式算出的校準(zhǔn)步長(zhǎng)值C1偏差很大，對(duì)HSI時(shí)鐘頻率的校準(zhǔn)精度很低。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于上述問題，本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種HSI時(shí)鐘頻率的校準(zhǔn)方法和相應(yīng)的一種HSI時(shí)鐘頻率的校準(zhǔn)裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)中HSI時(shí)鐘頻率的校準(zhǔn)方法存在的對(duì)HSI時(shí)鐘頻率的校準(zhǔn)精度很低的問題。

為了解決上述問題，本發(fā)明實(shí)施例公開了一種HSI時(shí)鐘頻率的校準(zhǔn)方法，包括：

在HSI分頻后一個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)，通過MCU內(nèi)部的計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)MCU外部預(yù)設(shè)精準(zhǔn)時(shí)鐘的第一時(shí)鐘周期數(shù)；

根據(jù)預(yù)設(shè)頻率計(jì)算公式和所述第一時(shí)鐘周期數(shù)獲取HSI的第一頻率值；

根據(jù)第一校準(zhǔn)公式和所述第一頻率值獲取第一步長(zhǎng)校準(zhǔn)值以更新HSI時(shí)鐘頻率；

在HSI分頻后一個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)，通過所述計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)所述預(yù)設(shè)精準(zhǔn)時(shí)鐘的第二時(shí)鐘周期數(shù)；

根據(jù)所述預(yù)設(shè)頻率計(jì)算公式和所述第二時(shí)鐘周期數(shù)獲取HSI的第二頻率值；

若所述第二頻率值在目標(biāo)頻率范圍內(nèi)，則完成對(duì)所述HSI時(shí)鐘頻率的校準(zhǔn)。

可選地，若所述第二頻率值不在所述目標(biāo)頻率范圍內(nèi)，所述校準(zhǔn)方法還包括：