[發明專利]精密檢測裝置、刀具輔件和機械加工系統

在審

• 申請號: 201910293892.1
• 申請日: 2019-04-12
• 公開（公告）號: CN109945761A
• 公開（公告）日: 2019-06-28
• 發明（設計）人: 董偉吉
• 申請（專利權）人: 赫克測控技術(蘇州)有限公司
• 主分類號: G01B5/012
• 分類號: G01B5/012;G01B5/016
• 代理公司: 蘇州智慧羅盤知識產權代理事務所(普通合伙) 32349
• 代理人: 王元博

1.一種精密檢測裝置，其特征在于，包括：

測桿,用于通過觸碰的方式檢測與待測對象之間的微間距；

觸感反饋組件，用于將所述微間距信息進行反饋；

復位組件，用于當所述測桿與待測對象之間為非接觸狀態時，將所述測桿進行復位；

其中，所述復位組件包括至少兩個磁體。

2.根據權利要求1所述的精密檢測裝置，其特征在于，所述觸感反饋組件包括導電球體和與所述導電球體配合的導電桿；

所述導電桿與所述測桿聯動；

所述導電桿分布于一對所述導電球體之間。

3.根據權利要求2所述的精密檢測裝置，其特征在于，所述導電桿分布于一對所述導電球體之間形成一組觸感反饋單元；

所述觸感反饋單元包括三組；

所述觸感反饋單元等間距地均勻分布于圓周。

4.根據權利要求2所述的精密檢測裝置，其特征在于，所述觸感反饋組件包括套接所述測桿的安裝部；

所述安裝部插置所述導電桿。

5.根據權利要求4所述的精密檢測裝置，其特征在于，所述精密檢測裝置還包括座體；

所述座體與至少兩個磁體中的一個磁體聯動；

所述測桿與至少兩個磁體中的另一個磁體聯動。

6.根據權利要求5所述的精密檢測裝置，其特征在于，所述安裝部設有容納磁體的第一收容部。

7.根據權利要求6所述的精密檢測裝置，其特征在于，所述精密檢測裝置還包括封閉殼；

所述封閉殼設有容納磁體的第二收容部。

8.根據權利要求7所述的精密檢測裝置，其特征在于，所述封閉殼還設有容納所述導電球體的球孔。

9.一種刀具輔件，其特征在于，包括：

權利要求1-8中任一項所述的精密檢測裝置；

柄體，與所述精密檢測裝置固定連接，以便被夾持。

10.一種機械加工系統，其特征在于，包括：

機床主體；

包括權利要求9中所述的刀具輔件的、供所述機床主體使用的刀具庫。