[發(fā)明專利]武器系統(tǒng)半實(shí)物仿真數(shù)據(jù)相似性檢驗(yàn)方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910277598.1 | 申請日: | 2019-04-08 |
| 公開(公告)號: | CN110119097B | 公開(公告)日: | 2021-08-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉進(jìn);馬行;李宇平;黃偉愷;吳鈞;鄭丹力;謝維建;李春健;黨衛(wèi)兵;孟凡;徐勝利 | 申請(專利權(quán))人: | 上海機(jī)電工程研究所 |
| 主分類號: | G05B17/02 | 分類號: | G05B17/02 |
| 代理公司: | 上海漢聲知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31236 | 代理人: | 莊文莉 |
| 地址: | 201100 上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 武器系統(tǒng) 實(shí)物 仿真 數(shù)據(jù) 相似性 檢驗(yàn) 方法 | ||
1.一種武器系統(tǒng)半實(shí)物仿真數(shù)據(jù)相似性檢驗(yàn)方法,其特征在于,
在一次數(shù)學(xué)仿真過程中,通過等時(shí)間間隔的時(shí)刻點(diǎn)記錄下各仿真參數(shù)取值時(shí)間序列,形成數(shù)學(xué)仿真結(jié)果數(shù)據(jù),用二維矩陣M=M(t,p),(t,p∈N)表示,其中t為時(shí)刻點(diǎn)標(biāo)記,p為仿真參數(shù)標(biāo)記;
一次數(shù)學(xué)仿真完畢后,采用多種分系統(tǒng)組合方案d=0,1,2,...,s,分別進(jìn)行半實(shí)物仿真,并以等時(shí)間間隔記錄下仿真參數(shù)取值時(shí)間序列,用W(d)=W(d)(t,p)表示;
找出W(d)中與M距離最小的半實(shí)物仿真結(jié)果W,假設(shè)距離公式為:
L(d)=L(M,W(d),w) (1)
其中w=(w0,w1,w2,...,wn),n∈N為各仿真參數(shù)權(quán)重因子,相似性檢驗(yàn)數(shù)學(xué)模型為:
min L=min(L(M,W(d),w)) (2)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的武器系統(tǒng)半實(shí)物仿真數(shù)據(jù)相似性檢驗(yàn)方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1:通過經(jīng)驗(yàn)分析方法獲取正例特征樣本集;
步驟2:通過經(jīng)驗(yàn)分析方法獲取反例樣本集;
步驟3:組合正例特征樣本集和反例樣本集,得到綜合樣本集K(k)和樣本集標(biāo)記F(k):
步驟4:數(shù)學(xué)仿真結(jié)果數(shù)據(jù)和半實(shí)物仿真結(jié)果數(shù)據(jù)分類數(shù)量計(jì)算,設(shè)Q(d,p)為分類數(shù)量集合,待分析仿真結(jié)果數(shù)據(jù)為M,待分析半實(shí)物仿真結(jié)果數(shù)據(jù)為W(d),其中d為分系統(tǒng)組合方案數(shù)量,p為仿真參數(shù)數(shù)量,分別求取W(d)中各參數(shù)時(shí)間序列與M中各參數(shù)時(shí)間序列之間差值時(shí)間序列的分類標(biāo)記,并填充Q(d,p);
步驟5:疊加權(quán)重因子,對權(quán)重因子w(p)進(jìn)行行拓展,得到拓展后的權(quán)重因子w(d,p),計(jì)算Q(d,p)=Q(d,p)·w(d,p);
步驟6:求取各分系統(tǒng)組合方案分類數(shù)量Hd:
步驟7:輸出H(d)中最大元素對應(yīng)的分系統(tǒng)組合方案d,完成本方法。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的武器系統(tǒng)半實(shí)物仿真數(shù)據(jù)相似性檢驗(yàn)方法,其特征在于,所述步驟1包括如下步驟:
步驟1.1:按照經(jīng)驗(yàn)分析方法,從經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)中提取最佳分系統(tǒng)組合方案對應(yīng)的參數(shù)取值時(shí)間序列M(t,p′)和W(t,p′);
步驟1.2:對M(t,p′)和W(t,p′)進(jìn)行歸一化處理;
步驟1.3:計(jì)算差值時(shí)間序列K(t,p′)=M(t,p′)-W(t,p′),設(shè)Δt,Δt≤t為分段時(shí)間間隔,將K(t,p′)截取長度為t′的若干正例樣本集K1(Δt)={K(0~Δt),K(Δt~2Δt),...,K(nΔt~(n-1)Δt)},n=t\Δt-1;
步驟1.4:利用k-均值算法對K1(Δt)聚類,得到k1個(gè)具有不同特征的簇,從距每個(gè)簇的中心點(diǎn)最近的正例樣本中抽取若干樣本組成集合K1,即為正例特征樣本集,k-均值算法模型如下:
K1=kMeans(K1(Δt),k1) (3)
其中k1為中心點(diǎn)數(shù)量。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的武器系統(tǒng)半實(shí)物仿真數(shù)據(jù)相似性檢驗(yàn)方法,其特征在于,步驟2包括如下步驟:
步驟2.1:按照經(jīng)驗(yàn)分析方法,從經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)中提取非最佳分系統(tǒng)組合方案參數(shù)取值時(shí)間序列和
步驟2.2:對和進(jìn)行歸一化處理;
步驟2.3:計(jì)算差值時(shí)間序列利用步驟1.2中的Δt,隨機(jī)從K(t,p′)中抽取k0個(gè)長度為Δt的反例樣本,組成反例樣本集K0。
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