[發明專利]除濕裝置和精密儀器設備

有效

• 申請號: 201910273224.2
• 申請日: 2019-04-04
• 公開（公告）號: CN110052054B
• 公開（公告）日: 2023-07-04
• 發明（設計）人: 程時毅
• 申請（專利權）人: 深圳英飛拓仁用信息有限公司
• 主分類號: B01D5/00
• 分類號: B01D5/00;B01D53/00
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 李艷麗

本發明適用于氣態水進行除濕的除濕器領域，提供了除濕裝置和精密儀器設備。其中，除濕裝置包括殼體，冷凝組件和霧化組件，冷凝組件包括半導體制冷元件和冷凝件，所述冷凝件開設有上下貫通的冷卻孔；霧化組件包括振動板、引水芯和集中盤，所述引水芯穿過所述冷卻孔且其下端抵接所述集中盤而其上端抵接所述振動板，振動板、集中盤和殼體圍合形成水氣冷凝反應空間，水氣經冷凝在冷凝件表面聚集形成液態水，引水芯將液態水轉移至振動板的微孔，振動板振動將液態水霧化排出。本發明提供的除濕裝置，能實現長效除濕，且整體結構小巧，實用性強。

技術領域

本發明屬于對氣態水進行除濕的除濕器領域，尤其涉及除濕裝置和精密儀器設備。

背景技術

器械在實際使用過程中均會出現內外空間溫差不均衡的現象，當溫差達到一定范圍時設備內腔在某一相對濕度下，器械內部空間(第一空間)將會出現水氣凝結現象。該現象會導致諸如攝像設備玻璃起霧影響圖象質量、精密電子電路出現短路損壞等問題發生。在實際應用中的常用的解決方案為：在內部空間加干燥劑。該方案雖然能在一定時間長度內防止水氣凝結現象，但干燥劑在長時間吸水后會失效，從而使問題再次發生。

發明內容

本發明的目的在于克服上述現有技術的不足，提供了一種除濕裝置和精密儀器設備，其旨在對器械的內部空間(第一空間)進行除濕。

本發明提供一種除濕裝置，用于將水蒸氣從第一空間轉移至第二空間，第一空間可以是各種器械的內部空間，第二空間指該器械的外部大氣空間。

除濕裝置包括：

殼體，為上下延伸的柱狀結構并在其內開設有一上下貫通的容置腔，所述容置腔與所述第一空間和所述第二空間連通；

冷凝組件，固定在所述容置腔內并包括半導體制冷元件和冷凝件，所述冷凝件連接于所述半導體制冷元件的冷端并用于將所述容置腔的水蒸氣冷凝成液態水，所述冷凝件在其上表面向下開設有上下貫通的冷卻孔；

霧化組件，包括均固定在所述容置腔內且上下順次排列的振動板、引水芯和集中盤，所述引水芯穿過所述冷卻孔且其下端抵接所述集中盤而其上端抵接所述振動板，所述集中盤用于收集所述液態水，并在其側表面向內開設有上下貫通以供所述第一空間的水蒸氣進入所述容置腔的多個進氣孔，所述振動板在與所述引水芯抵接的位置開設有連通所述容置腔和所述第二空間的微孔，所述引水芯用于吸附所述液態水且能夠將所述液態水在毛細管作用下轉移至所述微孔中，并阻擋所述第二空間的水氣從所述微孔進入所述容置腔內，所述振動板高頻振動以將位于所述微孔中的所述液態水移動至所述第二空間。

進一步的，所述冷凝件在其孔壁向外開設有上下貫通的多個引導槽。

進一步的，所述冷凝件在其側表面向內開設有上下貫通的多個延伸槽。

進一步的，所述引水芯的外表面抵接所述冷卻孔的孔壁。

進一步的，所述集中盤在其上表面向結構中心凹陷，所述引水芯抵接于所述集中盤上表面的中心位置。

進一步的，所述半導體制冷元件的熱端與所述殼體連接。

進一步的，所述殼體在其外表面設有外螺紋。

進一步的，所述殼體由上到下順次分為限位段、水密段和連接段，所述殼體在所述限位段設有向外的凸起，所述殼體在所述水密段向內開設有密封槽，所述殼體在所述連接段設有所述外螺紋；

所述除濕裝置還包括密封圈和連接螺母，所述密封圈套設在所述密封槽上，所述連接螺母設有與所述外螺紋配合的內螺紋。

進一步的，所述除濕裝置還包括溫度傳感器、濕度傳感器和控制器，所述溫度傳感器用于感測所述第一空間的溫度并將所述溫度信息傳遞至所述控制器，所述濕度傳感器用于感測所述第一空間的濕度并將所述濕度信息傳遞至所述控制器，所述控制器根據所述溫度和所述濕度控制所述冷凝組件和所述霧化組件的啟閉。