[發(fā)明專利]一種電子讀數(shù)裝置

在審

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• 申請日: 2019-04-04
• 公開（公告）號: CN110057819A
• 公開（公告）日: 2019-07-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 徐方洲;葛秀龍;方劍秋
• 申請（專利權(quán)）人: 浙江東方基因生物制品股份有限公司
• 主分類號: G01N21/84
• 分類號: G01N21/84;G01N33/558;G01N33/543
• 代理公司: 杭州天昊專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 33283
• 代理人: 向慶寧

1.一種電子讀數(shù)裝置，用于讀取測試元件上的化驗(yàn)測試結(jié)果，所述裝置包括：

至少兩個光檢測器，包括第一光檢測器和第二光檢測器，用于接受來自測試元件相應(yīng)區(qū)域的反射光線，其特征在于，所述的至少兩個光檢測器中的一個被分隔在獨(dú)立的空間內(nèi)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子讀數(shù)裝置，其特征在于，通過圍合在光檢測器周圍的擋光元件將至少一個光檢測器分隔在獨(dú)立的空間內(nèi)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子讀數(shù)裝置，其特征在于，所述擋光元件上具有讓來自測試元件的光透過的缺口。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子讀數(shù)裝置，其特征在于，所述缺口設(shè)置于對應(yīng)測試元件的測試區(qū)或控制區(qū)所在的位置。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子讀數(shù)裝置，其特征在于，所述缺口包括第一缺口和/或第二缺口。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子讀數(shù)裝置，其特征在于，所述擋光元件包括用于分隔光檢測器與發(fā)光元件的第一擋光部件,所述第一擋光部件上具有第一缺口。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子讀數(shù)裝置，其特征在于，所述第一缺口為傾斜的缺口。

8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子讀數(shù)裝置，其特征在于，所述擋光元件進(jìn)一步包括用于分隔光檢測器與測試元件的第二擋光部件,所述第二擋光部件上具有第二缺口。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的電子讀數(shù)裝置，其特征在于，所述的第二缺口與第一缺口相連通。

10.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子讀數(shù)裝置，其特征在于，所述擋光元件進(jìn)一步包括用于分隔所述至少兩個光檢測器的第三擋光部件，所述第三擋光部件上不具有缺口。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子讀數(shù)裝置，其特征在于，所述裝置還包括發(fā)光元件，所述的發(fā)光元件設(shè)置于對應(yīng)測試元件的測試區(qū)或控制區(qū)所在的位置。

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的電子讀數(shù)裝置，其特征在于，所述的發(fā)光元件至少為兩個，所述的至少兩個發(fā)光元件之間不具有擋光元件。

13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的電子讀數(shù)裝置，其特征在于，所述的至少兩個發(fā)光元件之間還包括第三光檢測器。

14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的電子讀數(shù)裝置，其特征在于，所述的至少兩個發(fā)光元件和/或第三光檢測器呈線性排列。

15.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子讀數(shù)裝置，其特征在于，所述的電子讀數(shù)裝置還包括橫向流動測試元件，所述測試元件上包括測試區(qū)和控制區(qū)。