[發(fā)明專利]測試用例的處理及數(shù)據(jù)處理方法及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910266530.3
• 申請日: 2019-04-03
• 公開（公告）號(hào): CN110134582A
• 公開（公告）日: 2019-08-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 何青松
• 申請（專利權(quán)）人: 口碑(上海)信息技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 北京清源匯知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11644
• 代理人: 馮德魁;竇曉慧

本申請公開了一種測試用例的處理方法，包括：獲得測試用例數(shù)據(jù)；根據(jù)所述測試用例數(shù)據(jù)，運(yùn)行所述測試用例數(shù)據(jù)對應(yīng)的測試用例；獲得所述測試用例本次運(yùn)行對應(yīng)的函數(shù)調(diào)用數(shù)據(jù)；根據(jù)所述函數(shù)調(diào)用數(shù)據(jù)，調(diào)整所述測試用例。采用所述方法，解決了被測軟件系統(tǒng)中引入新增函數(shù)以及變更函數(shù)的情況下集成測試的漏測以及不確定性問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及軟件測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種測試用例的處理方法及裝置。本申請同時(shí)涉及一種數(shù)據(jù)處理方法及裝置，本申請還涉及另一種數(shù)據(jù)處理方法。

背景技術(shù)

集成測試是軟件研發(fā)過程中的重要環(huán)節(jié)，也稱為聯(lián)調(diào)測試。所謂集成測試，是以測試環(huán)境模擬真實(shí)場景對被測軟件系統(tǒng)進(jìn)行驗(yàn)證的軟件測試活動(dòng)，例如，驗(yàn)證被測軟件系統(tǒng)是否能滿足需求，以及檢驗(yàn)被測軟件系統(tǒng)在可能存在的異常場景下的處理是否能滿足預(yù)期要求。如果集成測試不通過，則被測軟件系統(tǒng)無法進(jìn)入生產(chǎn)運(yùn)營；另外，被測軟件系統(tǒng)通過集成測試之后，一般將不會(huì)再在測試環(huán)境進(jìn)行全面而深入的測試，因此，如果集成測試遺漏了bug(軟件系統(tǒng)中存在的沒有被發(fā)現(xiàn)的缺陷)，那么集成測試之后的其他測試活動(dòng)(例如驗(yàn)收測試和灰度測試)，往往也難以發(fā)現(xiàn)這些缺陷，最終導(dǎo)致軟件缺陷遺漏到線上，影響用戶的使用體驗(yàn)。集成測試的重要性使得作為集成測試基礎(chǔ)的測試用例的處理成為影響軟件質(zhì)量的重要因素。

目前，軟件研發(fā)過程中一般根據(jù)需求文檔細(xì)化軟件可能的使用場景，并據(jù)此設(shè)計(jì)測試用例，例如以細(xì)化后的場景作為測試用例。在測試用例的設(shè)計(jì)過程中，沒有考慮到測試用例和軟件系統(tǒng)的代碼之間的關(guān)系，使得被測軟件系統(tǒng)中新增的、變更的函數(shù)可能沒有如預(yù)期中一樣被測試覆蓋到，存在漏測的風(fēng)險(xiǎn)。另外，集成測試中還存在根據(jù)需求和直觀判斷構(gòu)造用例是否通過的評(píng)判規(guī)則，這依賴測試工程師的主觀經(jīng)驗(yàn)，如果測試工程師對于系統(tǒng)代碼不熟悉往往會(huì)出現(xiàn)漏測的情況，或者由于測試工程師無法準(zhǔn)確判斷出測試用例是否已經(jīng)覆蓋了新增函數(shù)以及變更函數(shù)，使得集成測試存在非常大的不確定性。

因此，需要解決的問題是針對被測軟件系統(tǒng)中引入新增函數(shù)以及變更函數(shù)時(shí)如何降低集成測試的漏測風(fēng)險(xiǎn)以及不確定性。

發(fā)明內(nèi)容

本申請?zhí)峁┮环N測試用例的處理方法，以解決被測軟件系統(tǒng)中引入新增函數(shù)以及變更函數(shù)的情況下集成測試的漏測以及不確定性問題。

本申請?zhí)峁┮环N測試用例的處理方法，包括：

獲得測試用例數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述測試用例數(shù)據(jù)，運(yùn)行所述測試用例數(shù)據(jù)對應(yīng)的測試用例；

獲得所述測試用例本次運(yùn)行對應(yīng)的函數(shù)調(diào)用數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述函數(shù)調(diào)用數(shù)據(jù)，調(diào)整所述測試用例。

可選的，所述根據(jù)所述測試用例數(shù)據(jù)，運(yùn)行所述測試用例數(shù)據(jù)對應(yīng)的測試用例，包括：

從所述測試用例數(shù)據(jù)中獲取所述測試用例本次運(yùn)行的輸入信息；

根據(jù)所述輸入信息調(diào)用被測軟件系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)所述測試用例的預(yù)期功能的目標(biāo)函數(shù)；

返回針對所述目標(biāo)函數(shù)的調(diào)用結(jié)果。

可選的，所述根據(jù)所述輸入信息調(diào)用被測軟件系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)所述測試用例的預(yù)期功能的目標(biāo)函數(shù)，包括：

根據(jù)所述輸入信息調(diào)用被測軟件系統(tǒng)的接口層函數(shù)；

通過所述接口層函數(shù)調(diào)用所述目標(biāo)函數(shù)和所述目標(biāo)函數(shù)的下一級(jí)函數(shù)中的至少一個(gè)函數(shù)；

所述獲得所述測試用例本次運(yùn)行對應(yīng)的函數(shù)調(diào)用數(shù)據(jù)，包括：

獲得函數(shù)調(diào)用鏈路上的調(diào)用數(shù)據(jù)，所述函數(shù)調(diào)用鏈路包括所述目標(biāo)函數(shù)和所述目標(biāo)函數(shù)的下一級(jí)函數(shù)中的至少一個(gè)函數(shù)以及所述接口層函數(shù)。

可選的，所述獲得所述測試用例本次運(yùn)行對應(yīng)的函數(shù)調(diào)用數(shù)據(jù)，包括：