[發(fā)明專利]電化學(xué)電鍍方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910263027.2 | 申請(qǐng)日: | 2015-03-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110233099B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-05-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 約翰·W·萊姆;伊斯梅爾·埃邁什;羅伊·沙維夫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 應(yīng)用材料公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/288 | 分類號(hào): | H01L21/288;H01L21/324;H01L21/768;H01L23/532;C23C18/16;C25D3/12;C25D5/10;C25D5/14;C25D5/50;C25D7/00;C25D7/12 |
| 代理公司: | 北京律誠(chéng)同業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁揮;趙靜 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電化學(xué) 電鍍 方法 | ||
1.一種電化學(xué)方法,所述方法包含以下步驟:
把基板放入以與含鈷鹽的電化學(xué)電鍍?cè)〗佑|,所述基板具有薄的鈷種晶層,且所述電鍍?cè)〉膒H為大于4且多達(dá)9;
引導(dǎo)電流通過(guò)所述浴,以減少所述電鍍?cè)≈械拟掚x子,和沉積鈷的共形膜至所述鈷種晶層上;及
以200至450℃的溫度退火處理所述基板,其中所述鈷沉積至所述種晶層上的亞微米特征內(nèi),且所述退火處理步驟促使所述共形膜填充所述特征而無(wú)接縫線缺陷;
其中所述電鍍?cè)](méi)有實(shí)質(zhì)上侵蝕或蝕刻所述種晶層。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,所述電鍍?cè)“拾彼帷?/p>
3.如權(quán)利要求1所述的方法,所述電鍍?cè)〉膒H為6.5至8.3。
4.如權(quán)利要求1所述的方法,所述電流為1-50毫安/平方厘米的范圍。
5.如權(quán)利要求1所述的方法,其中所述退火處理是在H2/He、N2/H2、還原氣體、純氫、或氨的環(huán)境中進(jìn)行。
6.如權(quán)利要求1所述的方法,其中所述電鍍?cè)〉膒H為7.5至8.5。
7.如權(quán)利要求3所述的方法,所述種晶層位于所述基板的阻擋層上。
8.如權(quán)利要求1所述的方法,所述基板無(wú)阻擋層。
9.如權(quán)利要求7所述的方法,進(jìn)一步包含以下步驟:重復(fù)所述的步驟至少一次以提供多步驟多循環(huán)的電化學(xué)沉積和退火處理工藝。
10.如權(quán)利要求9所述的方法,進(jìn)一步包含以下步驟:經(jīng)歷至少兩次循環(huán)的電鍍、干燥及退火處理所述基板。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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