[發(fā)明專利]鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測(cè)裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910261584.0
• 申請(qǐng)日: 2019-04-02
• 公開（公告）號(hào): CN109932371A
• 公開（公告）日: 2019-06-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孫博;郭磊
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 易思維（杭州）科技有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/956
• 分類號(hào): G01N21/956
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于：包括處理器、顯示器、顯示裝置和安裝在所述顯示器周圍的多部相機(jī)；

所述顯示器受控于處理器，用于向待測(cè)鏡面/類鏡面物體表面投射正弦相移圖像；

所述多部相機(jī)中相鄰兩部相機(jī)構(gòu)成雙目視覺系統(tǒng)；所述雙目視覺系統(tǒng)用于獲取待測(cè)鏡面/類鏡面物體表面的正弦相移灰度圖像，并將圖像傳輸至處理器；

所述處理器計(jì)算多幅所述正弦相移灰度圖像上所有點(diǎn)(u,v)處的調(diào)制質(zhì)量Z(u,v)，和所有Z(u,v)的均值μ和標(biāo)準(zhǔn)差σ；

Z(u,v)＝B(u,v)/A(u,v)

其中，A(u,v)為在點(diǎn)(u,v)處的背景光強(qiáng)，B(u,v)為點(diǎn)(u,v)處的調(diào)制光強(qiáng)；

對(duì)圖像上所有點(diǎn)(u,v)，計(jì)算W＝|Z(u,v)-μ|，當(dāng)W≤mσ時(shí)，點(diǎn)(u,v)無缺陷，否則，則標(biāo)記為缺陷點(diǎn)；m為依據(jù)誤差范圍所確定的系數(shù)；

所述顯示裝置與處理器之間通訊，能具體顯示缺陷點(diǎn)的位置。

2.如權(quán)利要求1所述鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于：所述缺陷檢測(cè)裝置安裝在機(jī)器人末端，所述多部相機(jī)均布在顯示器的同一側(cè)。

3.如權(quán)利要求1所述鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于：預(yù)先對(duì)多部相機(jī)和顯示器進(jìn)行標(biāo)定，所述標(biāo)定過程中還包括一部外加相機(jī)以及標(biāo)定板，并從所述多部相機(jī)中選擇一部作為主相機(jī)，所述顯示器顯示出標(biāo)定圖案，將所述外加相機(jī)放置在能夠同時(shí)拍攝到標(biāo)定板和顯示器屏幕的位置，所述標(biāo)定板置于所述外加相機(jī)和主相機(jī)的公共視場范圍內(nèi)；

所述外加相機(jī)采集所述標(biāo)定板上的標(biāo)定圖案，相機(jī)分別采集標(biāo)定板上的標(biāo)定圖案和顯示器上的標(biāo)定圖案，通過剛體變換，解算主相機(jī)與外加相機(jī)之間的坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換關(guān)系、外加相機(jī)與顯示器之間的坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換關(guān)系，通過轉(zhuǎn)站運(yùn)算，得出主相機(jī)與顯示器之間的轉(zhuǎn)換關(guān)系。

4.如權(quán)利要求3所述鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于：所述標(biāo)定板上的標(biāo)定圖案和顯示器上的標(biāo)定圖案為同心圓環(huán)或圓。

5.如權(quán)利要求1所述鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于：所述正弦相移圖像至少有3張。

6.如權(quán)利要求1所述鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于：A(u,v)、B(u,v)是依據(jù)相機(jī)所采集的多幅圖像的灰度值計(jì)算得到的。

7.如權(quán)利要求6所述鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于：圖像中點(diǎn)(u,v)處的灰度值，計(jì)算如下：

其中，為點(diǎn)(u,v)處相位；n為第n幅采集圖像，取值為0～N之間的自然數(shù)；N為相機(jī)采集圖像的總張數(shù)；Ir_n(u,v)為第n張圖在點(diǎn)(u,v)處的灰度值。

8.如權(quán)利要求1所述鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于：顯示器向待測(cè)鏡面/類鏡面物體表面投影正弦相移圖像的幅數(shù)等于相機(jī)采集圖像的張數(shù)。

9.如權(quán)利要求1所述鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于：m＝1～5。