[發明專利]鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測裝置在審
| 申請號: | 201910261584.0 | 申請日: | 2019-04-02 |
| 公開(公告)號: | CN109932371A | 公開(公告)日: | 2019-06-25 |
| 發明(設計)人: | 孫博;郭磊 | 申請(專利權)人: | 易思維(杭州)科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/956 | 分類號: | G01N21/956 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 310051 浙江省杭州*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 處理器 相機 顯示器 缺陷檢測裝置 鏡面 調制信息 鏡面物體 顯示裝置 質量圖 雙目視覺系統 正弦條紋圖像 灰度圖像 顯示缺陷 標準差 漆涂層 缺陷點 微米級 檢出 可控 受控 相移 正弦 調制 圖像 檢測 通訊 分析 | ||
1.一種鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測裝置,其特征在于:包括處理器、顯示器、顯示裝置和安裝在所述顯示器周圍的多部相機;
所述顯示器受控于處理器,用于向待測鏡面/類鏡面物體表面投射正弦相移圖像;
所述多部相機中相鄰兩部相機構成雙目視覺系統;所述雙目視覺系統用于獲取待測鏡面/類鏡面物體表面的正弦相移灰度圖像,并將圖像傳輸至處理器;
所述處理器計算多幅所述正弦相移灰度圖像上所有點(u,v)處的調制質量Z(u,v),和所有Z(u,v)的均值μ和標準差σ;
Z(u,v)=B(u,v)/A(u,v)
其中,A(u,v)為在點(u,v)處的背景光強,B(u,v)為點(u,v)處的調制光強;
對圖像上所有點(u,v),計算W=|Z(u,v)-μ|,當W≤mσ時,點(u,v)無缺陷,否則,則標記為缺陷點;m為依據誤差范圍所確定的系數;
所述顯示裝置與處理器之間通訊,能具體顯示缺陷點的位置。
2.如權利要求1所述鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測裝置,其特征在于:所述缺陷檢測裝置安裝在機器人末端,所述多部相機均布在顯示器的同一側。
3.如權利要求1所述鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測裝置,其特征在于:預先對多部相機和顯示器進行標定,所述標定過程中還包括一部外加相機以及標定板,并從所述多部相機中選擇一部作為主相機,所述顯示器顯示出標定圖案,將所述外加相機放置在能夠同時拍攝到標定板和顯示器屏幕的位置,所述標定板置于所述外加相機和主相機的公共視場范圍內;
所述外加相機采集所述標定板上的標定圖案,相機分別采集標定板上的標定圖案和顯示器上的標定圖案,通過剛體變換,解算主相機與外加相機之間的坐標系轉換關系、外加相機與顯示器之間的坐標系轉換關系,通過轉站運算,得出主相機與顯示器之間的轉換關系。
4.如權利要求3所述鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測裝置,其特征在于:所述標定板上的標定圖案和顯示器上的標定圖案為同心圓環或圓。
5.如權利要求1所述鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測裝置,其特征在于:所述正弦相移圖像至少有3張。
6.如權利要求1所述鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測裝置,其特征在于:A(u,v)、B(u,v)是依據相機所采集的多幅圖像的灰度值計算得到的。
7.如權利要求6所述鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測裝置,其特征在于:圖像中點(u,v)處的灰度值,計算如下:
其中,為點(u,v)處相位;n為第n幅采集圖像,取值為0~N之間的自然數;N為相機采集圖像的總張數;Irn(u,v)為第n張圖在點(u,v)處的灰度值。
8.如權利要求1所述鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測裝置,其特征在于:顯示器向待測鏡面/類鏡面物體表面投影正弦相移圖像的幅數等于相機采集圖像的張數。
9.如權利要求1所述鏡面/類鏡面物體的缺陷檢測裝置,其特征在于:m=1~5。
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