[發明專利]圖像處理裝置、異物檢查裝置以及圖像處理方法在審
| 申請號： | 201910256329.7 | 申請日： | 2019-03-29 |
| 公開（公告）號： | CN110335232A | 公開（公告）日： | 2019-10-15 |
| 發明（設計）人： | 加集功士 | 申請（專利權）人： | 住友化學株式會社 |
| 主分類號： | G06T7/00 | 分類號： | G06T7/00;G01N23/04 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人： | 李國華 |
| 地址： | 日本國*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 像素 圖像處理裝置 圖像處理 異物檢查裝置 異物 圖像 檢查對象物 連續區域 存儲部 像素群 運算部 遺漏 存儲 檢測 | ||
1.一種圖像處理裝置，對通過從X射線源放射狀地出射并透過包含異物的檢查對象物的X射線而生成的圖像進行圖像處理，
上述圖像處理裝置具備：
存儲部，對與構成上述圖像的多個像素分別對應的第1像素值進行存儲；
像素值運算部，分別對應上述多個像素，對基于上述第1像素值而得到的第2像素值進行計算；和
像素值累計部，對屬于連續區域的像素群的各第2像素值進行累計。
2.根據權利要求1所述的圖像處理裝置，其中，
上述異物含有相比于上述檢查對象物使上述透過的X射線更大地衰減的材質。
3.根據權利要求1或2所述的圖像處理裝置，其中，
上述像素值累計部將上述多個像素分別設為關注像素，對屬于包含該關注像素的上述連續區域的像素群的上述各第2像素值進行累計從而設為該關注像素的累計值。
4.根據權利要求1～3的任意一項所述的圖像處理裝置，其中，
上述連續區域是比包含上述圖像中的異物的模糊所對應的全部像素的區域大的區域。
5.根據權利要求1～4的任意一項所述的圖像處理裝置，其中，
上述像素值累計部根據假定設為檢測對象的上述異物的形狀，對上述各第2像素值分別進行加權并得到累計值。
6.一種異物檢查裝置，具備：
X射線圖像傳感器；和
權利要求1～5的任意一項所述的圖像處理裝置，
上述存儲部所存儲的上述圖像的第1像素值是通過上述X射線圖像傳感器而獲取的圖像的像素值。
7.一種圖像處理方法，對通過從X射線源放射狀地出射并透過包含異物的檢查對象物的X射線的圖像進行圖像處理，
上述圖像處理方法包含：
存儲工序，對與構成上述圖像的多個像素分別對應的第1像素值進行存儲；
像素值運算工序，分別對應上述多個像素，對基于上述第1像素值而得到的第2像素值進行計算；和
像素值累計工序，對屬于連續區域的像素群的各第2像素值進行累計。
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