[發明專利]基于任意取向微波鏈路的雙偏振雷達衰減訂正方法

有效

• 申請號: 201910253715.0
• 申請日: 2019-03-30
• 公開（公告）號: CN110018448B
• 公開（公告）日: 2023-03-28
• 發明（設計）人: 張鵬;劉西川;李兆明;周則明;宋堃
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍陸軍工程大學
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40;G01S13/95
• 代理公司: 南京理工大學專利中心 32203
• 代理人: 馬魯晉

1.一種基于任意取向微波鏈路的雙偏振雷達衰減訂正方法，其特征在于，具體步驟為：

步驟1、根據微波鏈路路徑總衰減觀測值，計算雷達路徑平均衰減系數，公式為：

式中，Attenu_ML為微波鏈路路徑總衰減觀測值，L_ML(km)為鏈路長度；

步驟2、設定衰減系數與比差分相位之比α的初始值，根據雷達觀測量計算鏈路路徑平均衰減系數，公式為：

式中，N_ML為沿鏈路路徑的雷達距離庫數，A_Hi為鏈路路徑每個格點的衰減系數，為鏈路路徑平均衰減系數；

步驟3、計算目標函數，所述目標函數為雷達路徑平均衰減系數和鏈路路徑平均衰減系數的絕對差異，具體為：

式中，A_ML為雷達路徑平均衰減系數，鏈路路徑平均衰減系數；

步驟4、調整衰減系數與比差分相位之比α的值，重復執行步驟2～3，將目標函數最小時的衰減系數與比差分相位之比α作為最優參數值；

步驟5、根據最優α值以及衰減系數計算公式確定鏈路橫跨方位范圍內的每個雷達距離庫的最優衰減系數A_H(r；α_opt)，實現雷達反射率因子的衰減訂正。

2.根據權利要求1所述的基于任意取向微波鏈路的雙偏振雷達衰減訂正方法，其特征在于，鏈路路徑每個格點的衰減系數具體計算公式為：

式中，r₀為第一個有降水的距離庫，r₁為有降水的最遠距離庫，r₀＜r＜r₁，Z'_H(r)為實測的雷達反射率因子，b為指數系數，α為衰減系數與比差分相位之比，/為距離r₁和r₂處差分相位的差異。

3.根據權利要求1所述的基于任意取向微波鏈路的雙偏振雷達衰減訂正方法，其特征在于，步驟5實現雷達反射率因子的衰減訂正的具體公式為：

式中，Z_H和Z'_H分別為真實雷達反射率因子和實測雷達反射率因子。