[發明專利]一種碳酸鹽巖氣藏儲層溶孔成因類型的薄片識別方法

在審

• 申請號: 201910251975.4
• 申請日: 2019-03-29
• 公開（公告）號: CN111751903A
• 公開（公告）日: 2020-10-09
• 發明（設計）人: 李宏濤;胡向陽;史云清;肖開華
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發研究院
• 主分類號: G01V11/00
• 分類號: G01V11/00
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 吳大建;何嬌

1.一種碳酸鹽巖氣藏儲層溶孔成因類型的薄片識別方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1.觀察目的層巖心樣品，分析目的層碳酸鹽巖的沉積環境與沉積相；

步驟2.利用薄片-巖心-測井曲線相互標定，建立目的層高頻層序格架；

步驟3.在目的層高頻層序格架內，判斷成巖環境的類型及特征；

步驟4.在研究區沉積埋藏過程、古地溫—熱演化分析的基礎上判斷目的層所經歷的最深深度和最高溫度；

步驟5.劃分目的層所經歷的成巖環境，分析溶蝕作用類型；

步驟6.在溶蝕作用類型分析基礎上，確定早期溶蝕孔隙類型；

步驟7.排除識別的早期溶蝕孔隙，進一步識別與區分早埋藏溶蝕和晚埋藏溶蝕孔隙類型。

2.根據權利要求1所述的薄片識別方法，其特征在于，在所述步驟1中，包括，

步驟1.1.利用碳酸鹽巖目的層巖心樣品制作巖心樣品薄片或鑄體薄片，確定目的層碳酸鹽巖主要巖性和巖石類型；

步驟1.2.在確定的目的層碳酸鹽巖主要巖性和巖石類型基礎上，結合區域沉積背景，分析沉積環境與沉積相。

3.根據權利要求2所述的薄片識別方法，其特征在于，在所述步驟2中，利用薄片-巖心-測井曲線相互標定，建立目的層高頻層序格架的方法包括，

步驟2.1.利用所述碳酸鹽巖目的層巖心樣品標定至少一條常規測井曲線；

步驟2.2.從所述至少一條常規測井曲線中確定巖性敏感測井曲線，其中，所述巖性敏感測井曲線包括電阻率測井曲線組合，所述電阻率測井曲線組合包括深側向電阻率測井曲線和淺側向電阻率測井曲線；

步驟2.3.根據所述電阻率測井曲線組合確定三孔隙度測井曲線組合，其中，所述三孔隙度測井曲線組合包括聲波孔隙度測井曲線、密度孔隙度測井曲線和中子孔隙度測井曲線；

步驟2.4.根據所述巖性敏感測井曲線、所述三孔隙度測井曲線組合和所述電阻率測井曲線組合識別低頻層序界面，所述低頻層序界面為四級層序界面或其以上級別層序的界面；

步驟2.5.根據所述低頻層序界面識別高頻層序界面，其中，所述高頻層序界面為五級層序界面或六級層序界面；

步驟2.6.根據識別的高頻層序界面，在步驟1沉積環境認識指導下，開展高頻層序對比，建立高頻層序格架。

4.根據權利要求3所述的薄片識別方法，其特征在于，所述步驟3包括，

步驟3.1.在目的層高頻層序格架內，開展沉積亞相和微相垂向沉積序列分析；

步驟3.2.依據高頻層序單元內的沉積特征，判斷成巖環境的類型及特征。

5.根據權利要求3或4所述的薄片識別方法，其特征在于，在所述步驟6中，在溶蝕作用類型分析基礎上，根據觀察到的溶蝕孔隙類型、邊緣形態及膠結物特征，首先確定同生期-準同生期溶蝕孔隙、構造表生溶蝕孔隙類型。

6.根據權利要求5所述的薄片識別方法，其特征在于，同生期溶蝕孔隙或準同生期溶蝕孔隙總體以選擇性溶蝕孔隙為主，主要表現在少部分生屑或砂屑顆粒具粒內溶孔、鑄模溶孔，和切割碎屑顆粒不明顯的粒間溶蝕孔隙。

7.根據權利要求5所述的薄片識別方法，其特征在于，構造表生溶蝕孔隙以非選擇性溶蝕為主，切割顆粒的特征相對明顯。

8.根據權利要求7所述的薄片識別方法，其特征在于，在所述步驟6或步驟7中，多期溶蝕孔隙能夠在顯微鏡的某一視域下獨立出現或多次疊加、依次改造。