[發明專利]原子吸光光度計和原子吸光光度計的極微量分析診斷方法

在審

• 申請號: 201910247666.X
• 申請日: 2019-03-29
• 公開（公告）號: CN110320167A
• 公開（公告）日: 2019-10-11
• 發明（設計）人: 山本和子;西村崇;石田浩康;坂元秀之
• 申請（專利權）人: 日本株式會社日立高新技術科學
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31;G01N21/15
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 孫明浩;黃綸偉

本發明提供原子吸光光度計和原子吸光光度計的極微量分析診斷方法。在電加熱原子吸光中進行極微量分析的情況下，當存在污染的影響時，無法得到正確的分析值。以往，測定者根據經驗反復進行用于確定污染源的事前測定，需要時間和勞力。分析初學者無法進行針對污染的判斷，有時得出錯誤的結果。為了解決上述課題而完成的本發明是具有“極微量分析診斷系統”的裝置和系統，其具有原子吸光光度計主體、自動取樣器和操作用PC，對判定包含反應杯在內的電加熱爐、自動取樣器的送液路徑、樣品杯和測定溶劑等的污染的順序進行自動化。

技術領域

本發明涉及進行極微量分析時的測定系統的污染狀況診斷方法和裝置。

背景技術

一般而言，電加熱原子吸光法測定μg/L級別的金屬。根據測定條件的不同，還能夠進行ng/L級別的極微量無機元素分析。在進行極微量無機元素分析的情況下，當電加熱爐、試樣送液系統存在基于測定對象元素的污染時，無法得到正確的分析值。記述了“數據異常的原因大多由污染引起，因此，對這些要因進行管理。”(非專利文獻1)。

當測定前的污染確認不充分、或者未確定污染源而直接進行測定時，有時無法得到高精度的分析結果，因此，在測定開始之前依次檢查反應杯的污染、樣品杯的污染、試樣送液系統的污染，在確認沒有問題后，轉移到試樣的測定。

專利文獻1公開了如下技術：為了在電加熱原子吸光中進行針對污染的判斷，同時測定兩種以上的金屬并監視來自外部的污染。專利文獻2公開了高效地清洗自動取樣器的噴嘴的技術。專利文獻3記載了去除氫氟酸溶液測定后的氫氟酸的影響的清潔方法的技術。

這里，污染是指，環境或測定對象元素的殘渣等由于以前的測定的試樣產生的物質殘留在測定系統中而對新的測定的值造成影響。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開平04-307353

專利文獻2：日本特開平08-075756

專利文獻3：日本特開平08-261917

非專利文獻

非專利文獻1：平井昭司(2012).有助于實務！從基礎學起的分析化學natsume公司

發明內容

發明要解決的課題

在電加熱原子吸光光度法中進行極微量分析的情況下，當存在污染的影響時，無法得到正確的分析值。因此，以往，測定者根據經驗反復進行用于確定污染源的事前測定，需要時間和勞力。此外，存在如下課題：分析初學者無法進行針對污染的判斷，有時得出錯誤的結果。

根據本發明，能夠提供分析的初學者也能夠沒有錯誤地進行微量分析而不受污染的影響的極微量分析裝置和極微量分析診斷方法。

用于解決課題的手段

為了解決上述課題，本發明的原子吸光分析裝置具有能夠進行電加熱測定的原子吸光光度計主體、自動取樣器和操作用計算機，具有如下的微量分析診斷功能：判定包含反應杯在內的電加熱爐、自動取樣器的送液路徑和樣品杯有無基于測定對象元素的微量污染。

根據本發明的原子吸光分析裝置的微量分析診斷功能，具有如下功能：原子吸光光度計的噪聲水平的測定；所述反應杯、所述加熱爐、包含所述自動取樣器的送液路徑、所述樣品杯、測定用溶劑的污染評價；以及基于標準液的再現性的評價。

根據所述微量分析診斷功能，具有能夠在微量分析診斷開始時選擇診斷級別的功能。