[發明專利]密封面缺陷光學檢測裝置及方法

在審

• 申請號: 201910245770.5
• 申請日: 2019-03-28
• 公開（公告）號: CN109884083A
• 公開（公告）日: 2019-06-14
• 發明（設計）人: 王建濤
• 申請（專利權）人: 中廣核核電運營有限公司;中國廣核集團有限公司;中國廣核電力股份有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01M3/38
• 代理公司: 深圳市瑞方達知識產權事務所(普通合伙) 44314
• 代理人: 王少虹;高瑞

本發明公開了一種密封面缺陷光學檢測裝置及方法，密封面缺陷光學檢測裝置包括用于對應密封面上缺陷的位置壓緊在密封面上的壓緊體和密封件、光源件和感光探頭；壓緊體的第一表面上設有覆蓋在缺陷上的凹槽和密封槽，密封槽呈環形環繞在凹槽的外圍并與凹槽相連通；密封件包括密封圈、連接在密封圈內側并用于貼合密封在密封面的缺陷上的密封條；密封圈容置在密封槽內，密封條位于凹槽內，將凹槽分隔成位于密封條相對兩側的發光腔室和探測腔室；光源件和感光探頭分別設置在發光腔室和探測腔室內。本發明用于檢測發電機氫冷器、發電機空冷器等設備上密封面的缺陷是否影響密封條回裝后的密封效果，是否會發生氣體或液體的泄漏，準確性高。

技術領域

本發明涉及電氣維修技術領域，尤其涉及一種密封面缺陷光學檢測裝置及方法。

背景技術

現場設備比如：發電機氫冷器、發電機空冷器、發電機人孔門、發電機冷卻水管道、汽車發動機氣門室蓋、發電機出線套管等大量使用密封膠條貼緊金屬密封面的方法實現氣體或液體的密封。

當設備的密封面因檢修拆裝等原因，導致在密封面上出現了劃痕、小坑等缺陷時，就要評估此缺陷是否影響密封膠條回裝后的密封效果、是否會在回裝后出現泄漏。上述對于缺陷的評估一般是依靠經驗判斷缺陷是否會影響密封，然而依靠人為主觀的經驗判斷難以保證判斷的準確性，一旦判斷失誤，設備投運后會造成泄漏，帶來不良后果。

發明內容

本發明要解決的技術問題在于，提供一種密封檢測準確性高的密封面缺陷光學檢測裝置及密封面缺陷光學檢測方法。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：提供一種密封面缺陷光學檢測裝置，包括用于對應密封面上缺陷的位置壓緊在密封面上的壓緊體和密封件、光源件和感光探頭；

所述壓緊體包括相背的第一表面和第二表面；所述壓緊體的第一表面上設有覆蓋在所述缺陷上的凹槽和密封槽，所述密封槽呈環形環繞在所述凹槽的外圍并與所述凹槽相連通；

所述密封件包括密封圈、連接在所述密封圈內側并用于貼合密封在密封面的缺陷上的密封條；所述密封圈容置在所述密封槽內，所述密封條位于所述凹槽內，將所述凹槽分隔成位于所述密封條相對兩側的發光腔室和探測腔室；所述光源件和感光探頭分別設置在所述發光腔室和探測腔室內，通過所述感光探頭在所述探測腔室內對光的探測判斷是否有光從所述發光腔室通過所述密封面上的缺陷穿透至所述探測腔室。

優選地，所述密封件的厚度大于所述密封槽的深度，使得所述密封圈和密封條分別凸出所述壓緊體的第一表面。

優選地，所述凹槽為腰形槽。

優選地，所述壓緊體的第二表面上設有把手。

優選地，所述密封面缺陷光學檢測裝置還包括與所述感光探頭電連接的控制單元，所述感光探頭將探測到的信號發送至所述控制單元；或者，所述密封面缺陷光學檢測裝置還包括與所述感光探頭電連接的光強度表。

優選地，所述密封面缺陷光學檢測裝置還包括將所述壓緊體壓緊在所述密封面上的固定組件。

優選地，所述固定組件包括至少一個固定座；所述固定座包括設置在所述壓緊體第二表面上的第一固定板、連接所述第一固定板并配合在所述壓緊體側面的第二固定板、以及穿設在所述第一固定板上并抵緊所述壓緊體第二表面的螺桿組件。

優選地，所述密封面為發電機氫冷器、發電機空冷器、發電機人孔門、發電機冷卻水管道、汽車發動機氣門室蓋或發電機出線套管上用于實現氣體或液體密封的密封面。

本發明還提供一種密封面缺陷光學檢測方法，采用以上任一項所述的密封面缺陷光學檢測裝置，所述密封面缺陷光學檢測方法包括以下步驟：

S1、將裝有密封件的壓緊體對應密封面上的缺陷位置壓緊在密封面上；

所述密封件的密封條壓緊在所述缺陷上；