[發明專利]一種用于勵磁機的測距裝置及其測距方法

有效

• 申請號: 201910245150.1
• 申請日: 2019-03-28
• 公開（公告）號: CN109883341B
• 公開（公告）日: 2020-12-04
• 發明（設計）人: 王建濤
• 申請（專利權）人: 中廣核核電運營有限公司;中國廣核集團有限公司;中國廣核電力股份有限公司
• 主分類號: G01B11/14
• 分類號: G01B11/14;G01B5/14
• 代理公司: 深圳市瑞方達知識產權事務所(普通合伙) 44314
• 代理人: 林儉良;高瑞

1.一種用于勵磁機的測距裝置，所述勵磁機(100)包括定子(102)、設置在所述定子(102)外圍的電樞(101)、以及設置在所述定子(102)和所述電樞(101)之間的氣隙(103)；所述定子(102)與所述電樞(101)相對設置的側壁上設有至少一個二極管探頭(105)；所述電樞(101)上設有多個緊固組件(104)；所述多個緊固組件(104)沿所述電樞(101)的內側壁周向并排設置，且每個所述緊固組件(104)朝所述氣隙(103)延伸設置；其特征在于，所述測距裝置包括第一測距單元(200)以及第二測距單元；

所述第一測距單元(200)設置在所述定子(102)上，包括測距探頭(202)，所述測距探頭(202)與所述電樞(101)的內側壁相對設置以在每個所述緊固組件(104)轉至與所述測距探頭(202)相對時測量所述緊固組件(104)到所述測距探頭(202)之間的距離并得出一組第一測量值；

所述第二測距單元置于任意一個所述緊固組件(104)與所述二極管探頭(105)之間，以測量所述緊固組件(104)與所述定子(102)相對設置的端面到所述二極管探頭(105)之間的距離并得出第二測量值，進而由測量同一所述緊固組件(104)對應得到的所述第一測量值與所述第二測量值的差值得出所述測距探頭(202)與所述二極管探頭(105)的偏移量，并由其余的所述緊固組件(104)對應的所述第一測量值與所述偏移量的差值得出其余所述緊固組件(104)與所述定子(102)相對設置的端面到所述二極管探頭(105)之間的距離。

2.根據權利要求1所述的用于勵磁機的測距裝置，其特征在于，所述測距探頭(202)包括激光測距探頭(202)。

3.根據權利要求2所述的用于勵磁機的測距裝置，其特征在于，所述第一測距單元(200)還包括以安裝所述測距探頭(202)的安裝座(201)，所述安裝座(201)安裝在所述定子(102)內側且朝所述定子(102)與所述電樞(101)相對設置的端面凸出設置；所述安裝座(201)與所述電樞(101)相對設置的內側壁的底面上設有供所述激光測距探頭的激光穿出的通孔(2011)，所述通孔(2011)設置在所述安裝座(201)的凸出端，且所述通孔(2011)的延長線與所述二極管探頭(105)的延長線在軸向以及在周向方向上分開且并排設置。

4.根據權利要求3所述的用于勵磁機的測距裝置，其特征在于，所述第一測距單元(200)還包括固定所述安裝座(201)的固定組件(203)；

所述固定組件(203)包括設置在所述安裝座(201)與所述定子(102)內表面相對設置一側的磁吸底座以及設置在所述磁吸底座內側的磁吸件。

5.根據權利要求1所述的用于勵磁機的測距裝置，其特征在于，所述第二測距單元包括可擱置在所述緊固組件(104)與所述定子(102)相對設置的端面上并延伸至所述二極管探頭(105)下方的校準板(300)、以及測量所述校準板(300)到所述二極管探頭(105)距離的測量工具。

6.根據權利要求5所述的用于勵磁機的測距裝置，其特征在于，所述第二測量值為所述校準板(300)到所述二極管探頭(105)距離與所述校準板(300)厚度之和。

7.根據權利要求5所述的用于勵磁機的測距裝置，其特征在于，所述測量工具包括塞尺、或者刻度尺。

8.根據權利要求1所述的用于勵磁機的測距裝置，其特征在于，所述電樞(101)上設有熔斷器；

所述緊固組件(104)包括緊固部(1041)、設置在所述緊固部(1041)一端連接所述熔斷器與所述電樞(101)的連接部(1043)、以及套設在所述連接部(1043)上的墊片(1042)；

所述測距探頭(202)與所述緊固部(1041)相對設置，以測量所述緊固部(1041)相背所述連接部(1043)設置的端面到所述測距探頭(202)之間的距離。