[發明專利]評估追蹤系統對要求的集合的符合性的方法和相關裝置

在審

• 申請號: 201910245064.0
• 申請日: 2019-03-28
• 公開（公告）號: CN110321521A
• 公開（公告）日: 2019-10-11
• 發明（設計）人: 克里斯多夫·拉布勒謝;尼古拉斯·奧諾雷;奧利維爾·皮尼亞爾
• 申請（專利權）人: 泰雷茲公司
• 主分類號: G06F17/15
• 分類號: G06F17/15;G06Q10/06
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270
• 代理人: 徐川;姚開麗

本發明涉及一種用于評估追蹤系統對要求的集合的符合性的方法，至少一個要求是強制性要求并且至少一個要求是建議性要求，評估方法通過計算機來執行，評估方法至少包括以下步驟：監督學習對要求的符合性的評估函數，以獲得學習的評估函數，對要求的符合性的評估函數采用分段線性函數的形式，線性函數包括至少三個分段，優選地至少六個分段；將所述學習的評估函數應用于所述追蹤系統以獲得評估值；以及使用所述評估值來獲得評估所述追蹤系統對所述要求的集合的符合性的總得分。

技術領域

本發明涉及一種用于評估追蹤系統對要求的集合的符合性的方法。本發明還涉及使得該方法能夠被實施的計算機程序產品和可讀信息介質。

背景技術

在航空電子領域，追蹤系統是非常重要的系統，特別是考慮到追蹤系統保證飛機之間不存在碰撞。因此，追蹤系統是必須遵守一組待認證的強制性約束和用來提高安全性的建議的系統。

因此，期望能夠評估追蹤系統的合規性得分。

為此，追蹤系統受到包括以二元方式評估每個標準的簡單評估，即，如果滿足標準則為100％，如果不滿足標準則為0％。

然而，在與強制性約束和建議性約束的復雜混合對應并且旨在改進追蹤系統的多個標準的情況下，這種評估通常是不夠的。

因此，需要一種用于評估追蹤系統對要求的集合的符合性的方法，使得可以獲得對追蹤系統的符合性的更精細評估。

發明內容

為此，本說明書涉及一種用于評估追蹤系統對要求的集合的符合性的方法，至少一個要求是強制性要求并且至少一個要求是建議性要求，評估方法通過計算機來執行，評估方法至少包括以下步驟：監督學習對要求的符合性的評估函數，以獲得學習的評估函數，對要求的符合性的評估函數采用分段線性函數的形式，線性函數包括至少三個分段，優選地至少六個分段；將學習的評估函數應用于追蹤系統以獲得評估值；以及使用評估值來獲得評估追蹤系統對要求的集合的符合性的總得分。

根據具體的實施例，單獨或根據所有技術上可能的組合，方法包括以下特征中的一個或多個：

該方法包括通過以下方式計算每種類型的要求的總得分：聚合所考慮類型的要求中的所有要求的評估函數，評估所述追蹤系統對所述要求的集合的符合性的總得分通過聚合各要求類型的總得分來獲得。

方法進一步包括：用于監督學習評估值的聚合函數的步驟，聚合函數對追蹤系統對要求的集合中對應于特定屬性的要求的一部分的符合性進行評估；以及使用步驟，該使用步驟包括：使用評估值和學習的聚合函數來獲得要求的集合中對應于特定屬性的要求的每個部分的值，以及使用在使用期間獲得的值和聚合函數來獲得總得分。

在監督學習步驟中，每個線性函數是具有五個分段的線性函數。

要求設置了要遵守的閾值，以下屬性中的至少一個被驗證：

每個線性函數包括多個閾值，所述閾值中的一個是由所述要求設置的閾值；

每個線性函數包括多個閾值，具有所述評估函數的第二低值的閾值是由所述要求設置的閾值；

每個線性函數包括四個閾值，第一閾值對應于所述評估函數的最大值，第二閾值對應于所述最大值的88％，第三閾值對應于所述最大值的35％，并且第四閾值對應于0；以及

每個線性函數包括四個閾值，所述第一閾值對應于所述評估函數的最大值，所述第二閾值對應于所述最大值的80％，所述第三閾值對應于所述最大值的20％，并且所述第四閾值對應于0。

每個線性函數包括多個閾值，并且要求設置了要遵守的閾值，以下屬性中的至少一個被驗證：

每個閾值是由要求設置的閾值的線性函數；以及

閾值中的一個是其他兩個閾值的算術平均值。