[發明專利]集成器件表面原子級光滑電連接薄片及其制備方法有效
| 申請號: | 201910234423.2 | 申請日: | 2019-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN111755338B | 公開(公告)日: | 2022-08-23 |
| 發明(設計)人: | 鄭泉水;黃軒宇 | 申請(專利權)人: | 深圳清力技術有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/48 | 分類號: | H01L21/48;H01L23/49;H01L23/498;B82Y40/00 |
| 代理公司: | 北京中政聯科專利代理事務所(普通合伙) 11489 | 代理人: | 陳超 |
| 地址: | 518118 廣東省深圳市坪山區龍田街道*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 集成 器件 表面 原子 光滑 連接 薄片 及其 制備 方法 | ||
1.一種集成器件表面原子級光滑電連接薄片的制備方法,其特征在于:所述電連接薄片包括形成在超滑薄片(2)上的電連接結構,其制備方法包括:
步驟一、在基底(1)表面形成原子級平整表面的超滑薄片(2),所述基底(1)的上表面為光滑平面,所述超滑薄片(2)具有與基底(1)接觸的第一表面和背離基底(1)的第二表面,所述超滑薄片(2)的第一表面為超滑面;
步驟二、在所述超滑薄片(2)的所述第二表面上涂敷光刻膠(3),構圖所述光刻膠(3)形成開口,露出所述超滑薄片(2)的部分所述第二表面;
步驟三、在整個表面上形成導電的電連接層(4),所述電連接層(4)填入光刻膠(3)的構圖開口中,并形成在所述超滑薄片(2)的所述第二表面上;
步驟四、采用剝離步驟,去除光刻膠(3)及其上的所述電連接層(4);
步驟五、用樹脂覆蓋層(5)包覆超滑薄片(2)及其上的所述電連接層(4);
步驟六、去除基底(1),露出所述超滑薄片(2)的第一表面,形成具有所述電連接層(4)的超滑薄片(2)。
2.如權利要求1所述的制備方法,其特征在于:所述基底(1)的材料包括Si、SiC、SOI、藍寶石、云母、石墨烯、二硫化鉬之一或其組合。
3.如權利要求1所述的制備方法,其特征在于:所述超滑薄片(2)材料為片狀類金剛石、片狀單晶石墨或片狀單晶二硫化鉬。
4.如權利要求1所述的制備方法,其特征在于:所述超滑薄片(2)的材料包括SiO2、Si3N4、SiNO之一或上述材料組成的疊層結構。
5.如權利要求1所述的制備方法,其特征在于:所述電連接層(4)為Ni、Au、Ag、銅石墨烯復合材料之一或其組合。
6.如權利要求5所述的制備方法,其特征在于:所述電連接層(4)的厚度為10-150nm。
7.如權利要求6所述的制備方法,其特征在于:所述電連接層(4)的厚度為20-50nm。
8.如權利要求1所述的制備方法,其特征在于:還包括去除所述樹脂覆蓋層(5)。
9.如權利要求1-8中任一項所述的制備方法,其特征在于:所述超滑面是原子級光滑的二維材料,所述超滑面的直徑為1μm~100μm,所述超滑薄片(2)厚度為100nm~10μm。
10.一種集成器件表面原子級光滑電連接薄片,所述電連接薄片包括基底(1)和形成在基底(1)上的超滑薄片(2),多個電連接結構間隔地形成在所述超滑薄片(2)上,所述基底(1)最終需去除,以露出超滑薄片(2)的原子級光滑表面,所述電連接薄片包括形成在超滑薄片(2)上的電連接結構,其特征在于:所述原子級光滑電連接薄片由上述權利要求1-9任一方法制備得到的。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





