[發明專利]基于VRAID的數據重建方法、裝置、電子設備在審
| 申請號: | 201910232137.2 | 申請日: | 2019-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN111752748A | 公開(公告)日: | 2020-10-09 |
| 發明(設計)人: | 張學東;劉博偉 | 申請(專利權)人: | 杭州宏杉科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/14 | 分類號: | G06F11/14;G06F3/06 |
| 代理公司: | 北京博思佳知識產權代理有限公司 11415 | 代理人: | 林祥 |
| 地址: | 310053 浙江省杭州市濱江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 vraid 數據 重建 方法 裝置 電子設備 | ||
1.一種基于VRAID的數據重建方法,其特征在于,所述VRAID由對應不同DG的多個DCG交錯構成,其中,每個DCG由來自同一個DG的多個DC組成,所述方法應用于存儲設備,所述方法包括:
監測所述VRAID,獲取壞數據塊對應的DCG以及第一DG,以及所述壞數據塊的數據容量;
檢查所述第一DG的熱備空間是否存在DC,若不存在,則選取所述VRAID的源DCG;
將所述源DCG對應存儲的數據遷移到所述VRAID的目的DCG,并在所述目的DCG中完成數據重建,其中,所述目的DCG為第二DG對應的DCG,所述第二DG為熱備空間存在空閑的DG。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述選取所述VRAID的源DCG,包括:
從所述VRAID選取,DC屬于第一DG并且未使用及非故障的DCG,作為所述源DCG,其中,所述DC屬于第一DG并且未使用及非故障的DCG的容量不小于所述壞數據塊的數據容量。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,若所述DC屬于第一DG并且未使用及非故障的DCG的容量小于所述壞數據塊的數據容量,還包括:
從所述VRAID選取,DC屬于第一DG并且已使用及已降級的DCG,追加作為所述源DCG。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述將所述源DCG對應存儲的數據遷移到所述VRAID的目的DCG,并在所述目的DCG中完成數據重建,包括:
若所述源DCG中的DCG未被使用過,則不執行數據遷移,使用所述第二DG熱備空間的DC,替換所述源DCG中的未被使用過DCG的DC。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,還包括:
若所述源DCG中的DCG存在壞數據塊,則將所述源DCG中的存在壞數據塊的DCG對應存儲的數據,遷移到所述第二DG熱備空間的DC組成的DCG,并對所述第二DG熱備空間的DC組成的DCG執行數據重建。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,還包括:
將所述源DCG中的存在壞數據塊的DCG中的屬于所述第一DG的未損壞DC,標記為所述第一DG熱備空間的DC。
7.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,還包括:
若所述第一DG的熱備空間存在DC,基于屬于所述第一DG的熱備空間的DC,重建所述VRAID中的壞數據塊對應的DCG。
8.一種基于VRAID的數據重建裝置,其特征在于,所述VRAID由對應不同DG的多個DCG交錯構成,其中,每個DCG由來自同一個DG的多個DC組成,所述裝置應用于存儲設備,所述裝置包括:
監測模塊,監測所述VRAID,獲取壞數據塊對應的DCG以及第一DG,以及所述壞數據塊的數據容量;
選取模塊,檢查所述第一DG的熱備空間是否存在DC,若不存在,則選取所述VRAID的源DCG;
重建模塊,將所述源DCG對應存儲的數據遷移到所述VRAID的目的DCG,并在所述目的DCG中完成數據重建,其中,所述目的DCG為第二DG對應的DCG,所述第二DG為熱備空間存在空閑的DG。
9.根據權利要求8所述的裝置,其特征在于,所述選取模塊進一步:
從所述VRAID選取,DC屬于第一DG并且未使用及非故障的DCG,作為所述源DCG,其中,所述DC屬于第一DG并且未使用及非故障的DCG的容量不小于所述壞數據塊的數據容量。
10.根據權利要求9所述的裝置,其特征在于,若所述DC屬于第一DG并且未使用及非故障的DCG的容量小于所述壞數據塊的數據容量,所述選取模塊進一步:
從所述VRAID選取,DC屬于第一DG并且已使用及已降級的DCG,追加作為所述源DCG。
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