[發明專利]顯示屏壞點檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質

有效

• 申請號: 201910226784.2
• 申請日: 2019-03-25
• 公開（公告）號: CN110009607B
• 公開（公告）日: 2021-10-26
• 發明（設計）人: 徐倩茹;邱又海;趙平林
• 申請（專利權）人: 深圳市洲明科技股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/62;G06T7/13
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 葉劍;左幫勝

本申請提供一種顯示屏壞點檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質，其中，一種顯示屏壞點檢測方法，包括：獲取顯示屏的原始圖像；對原始圖像進行二值化處理，得到第一二值化圖像；對第一二值化圖像進行輪廓查找，得到每一個燈珠在圖像中對應的面積；對原始圖像進行均值濾波處理，得到均值濾波后的圖像；對均值濾波處理后的圖像進行二值化處理，得到第二二值化圖像；將第二二值化圖像進行反向處理；對反向處理后的第二二值化圖像進行輪廓查找，得到死燈在圖像中的總面積；根據每一個燈珠在圖像中的面積以及死燈在圖像中的總面積計算得到死燈數量，實現顯示屏壞點檢測，無需人工肉眼檢測，提高檢測效率及檢測精度。

技術領域

本發明涉及顯示屏檢測技術領域，尤其涉及一種顯示屏壞點檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質。

背景技術

LED顯示屏(Light Emitting Diode，發光二極管)作為新型的顯示技術，以其節能、環保、高亮等優點越來越受到用戶的青睞，但由于LED燈的質量、生產工藝以及生產環境的影響，LED顯示屏在生產的過程中容易出現LED顯示屏中的LED燈壞死現象，導致LED顯示屏圖像顯示存在缺陷，影響用戶正常使用，目前對于LED顯示屏壞燈檢測通常采用人工肉眼檢測，但由于人眼視力的局限性，導致LED顯示屏壞燈檢測效率低下以及準確率低的問題。

發明內容

基于此，有必要針對人工肉眼檢測效率及準確率低的問題，提供一種顯示屏壞點檢測方法、裝置、計算機設備和存儲介質。

一種顯示屏壞點檢測方法，包括：獲取顯示屏的原始圖像；對所述原始圖像進行二值化處理，得到第一二值化圖像；對所述第一二值化圖像進行輪廓查找，得到每一個燈珠在所述原始圖像中對應的面積；對所述原始圖像進行均值濾波處理，得到均值濾波后的圖像；對所述均值濾波處理后的圖像進行二值化處理，得到第二二值化圖像；將所述第二二值化圖像進行前景和背景的反向處理；對反向處理后的所述第二二值化圖像進行輪廓查找，得到死燈在所述原始圖像中對應的總面積；根據所述每一個燈珠在所述原始圖像中對應的面積以及所述死燈在所述原始圖像中對應的總面積計算得到死燈數量。

在其中一個實施例中，所述對所述原始圖像進行二值化處理，得到第一二值化圖像的步驟包括：將所述原始圖像進行灰度化處理，得到灰度化后的圖像；將所述灰度化后的圖像進行二值化處理，得到所述第一二值化圖像。

在其中一個實施例中，所述對所述第一二值化圖像進行輪廓查找，得到每一個燈珠在所述原始圖像中對應的面積的步驟包括：將所述第一二值化圖像依次進行形態學運算處理、距離變換處理、歸一化處理、閾值分割處理，得到第一預處理圖像；將所述第一預處理圖像進行輪廓查找，得到每一燈珠在所述原始圖像中對應的面積。

在其中一個實施例中，所述對所述原始圖像進行均值濾波處理，得到均值濾波后的圖像的步驟，包括：基于燈珠的發光顏色，對所述原始圖像進行通道分離處理，得到分離后的圖像；對所述分離后的圖像進行均值濾波處理，得到均值濾波后的圖像。

在其中一個實施例中，所述的對反向處理后的所述第二二值化圖像進行輪廓查找，得到死燈在所述原始圖像中對應的總面積的步驟，包括：對反向處理后的第二二值化圖像進行形態學運算，得到第二預處理圖像；對所述第二預處理圖像進行輪廓查找，得到死燈在所述原始圖像中對應的總面積。

在其中一個實施例中，所述對所述第一二值化圖像進行輪廓查找，得到每一個燈珠在所述原始圖像中對應的面積的步驟包括：對所述第一二值化圖像進行輪廓查找，得到亮燈數量及亮燈在所述原始圖像中對應的總面積；根據所述亮燈數量及亮燈在所述原始圖像中對應的總面積，計算的到每一燈珠在所述原始圖像中對應的面積。

在其中一個實施例中，所述獲取顯示屏的原始圖像的步驟之后，還包括：判斷所述原始圖像的相鄰的兩個燈珠的間距是否小于預設閾值，當所述原始圖像的相鄰的兩個燈珠的間距小于預設閾值時，對所述原始圖像進行放大處理。

一種顯示屏壞點檢測裝置，所述裝置包括：