[發明專利]一種測試多晶、單晶或鑄造單晶小方錠端面少子壽命時的自動升降裝置在審
| 申請號： | 201910224892.6 | 申請日： | 2019-03-24 |
| 公開（公告）號： | CN111735928A | 公開（公告）日： | 2020-10-02 |
| 發明（設計）人： | 尹翠哲 | 申請（專利權）人： | 尹翠哲 |
| 主分類號： | G01N33/204 | 分類號： | G01N33/204 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 051230 河北省石家*** | 國省代碼： | 河北;13 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測試 多晶 鑄造 單晶小方錠 端面 少子 壽命 自動 升降 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種測試多晶、單晶或鑄造單晶小方錠端面少子壽命時的自動升降裝置，其特征在于，包括底板、導柱、導套、頂板、擋圈、紅外高度測試儀、垂直傳動裝置，所述底板可以通過螺栓固定在現有少子壽命測試儀基座上，也可以直接放在少子壽命測試儀基座上，所述四個導柱固定底板上，所述四個導套固定在頂板上，所述頂板上表面用來放置待測端面少子壽命的多晶、單晶或鑄造單晶小方錠，所述擋圈用來固定多晶、單晶或鑄造單晶小方錠，防止其滑動。
2.根據權利要求1所述的一種測試多晶、單晶或鑄造單晶小方錠端面少子壽命時的自動升降裝置，其特征在于，所述紅外高度測試儀由導柱、導套、紅外線發射器組成。
3.根據權利要求1所述的一種測試多晶、單晶或鑄造單晶小方錠端面少子壽命時的自動升降裝置，所述導柱和導套采用間隙配合，并且可以跟隨所述垂直傳動裝置在垂直方向上運動。
4.根據權利要求1所述的一種測試多晶、單晶或鑄造單晶小方錠端面少子壽命時的自動升降裝置，其特征在于，所述垂直傳動裝置可以是液壓傳動方式、氣壓傳動方式、螺桿傳動等方式。
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