[發明專利]Cu-Ni-Si系銅合金條有效
| 申請號: | 201910221346.7 | 申請日: | 2019-03-22 |
| 公開(公告)號: | CN110358946B | 公開(公告)日: | 2021-06-18 |
| 發明(設計)人: | 中妻宗彥 | 申請(專利權)人: | 捷客斯金屬株式會社 |
| 主分類號: | C22C9/06 | 分類號: | C22C9/06;C22F1/08 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 陳巍;梅黎 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | cu ni si 銅合金 | ||
[課題]本發明提供強度得到提高、同時平坦性高的Cu?Ni?Si系銅合金條及其制造方法。[解決手段]Cu?Ni?Si系銅合金條,其含有Ni:1.5~4.5質量%、Si:0.4~1.1質量%,且余量由Cu和不可避免的雜質組成,導電率為30%IACS以上、拉伸強度為800MPa以上,按照JCBA?T326?2014,針對軋制方向的陡度,沿著與該軋制方向正交的軋制直角方向以25mm以下的間距測定5處以上時,陡度的平均值為0.5以下,并且,用(陡度的偏差/陡度的平均值)×100表示的陡度的偏差率為12%以下。
技術領域
本發明涉及可適用于制造電子材料等電子部件的Cu-Ni-Si系銅合金條。
背景技術
近年來,隨著IC封裝體的小型化,要求引線框、電子設備的各種端子、連接器等的小型化、進而多引腳化。尤其是,開發了被稱為QFN(四側無引腳扁平封裝,quad flat non-leaded package)的、在LSI封裝體的平面配置電極焊盤而不使引線引腳露出的結構,進一步要求多引腳化、窄間距化。
此處,在形成引線框時,需要對引線框材料實施蝕刻加工。并且,為了提高引線框的生產率,要求增大成為材料的銅合金條的材料寬度。由于這種原因,要求引線框用的銅合金條為寬度寬且平坦性優異的材料,尤其要求蝕刻后的平坦性。
此外,對于這些銅合金還要求高的強度和導電率,作為引線框用材料,使用時效析出型的Cu-Ni-Si系銅合金(專利文獻1)。
現有技術文獻
專利文獻
專利文獻1:日本特開平4-231419號公報。
發明內容
發明所要解決的問題
另外,作為矯正材料的形狀而提高平坦性的方法,有表面光軋,但Cu-Ni-Si系銅合金的材料強度高,因此無法充分地進行利用表面光軋的形狀矯正,有時平坦性差。另外,專利文獻1中記載了在進行去應變退火后實施表面光軋這一點,其雖然能夠確保材料的強度,但平坦性的改善不充分。
即,本發明是為了解決上述課題而做出的,其目的在于,提供強度得到提高、同時平坦性高的Cu-Ni-Si系銅合金條。
用于解決問題的手段
本發明人等進行了各種研究,結果發現:通過在Cu-Ni-Si系銅合金的表面光軋之前實施中間去應變退火,且控制表面光軋的加工度,能夠提高材料的加工性而不損害強度,能夠提高表面光軋后的平坦性。
即,本發明的Cu-Ni-Si系銅合金條是含有Ni:1.5~4.5質量%、Si:0.4~1.1質量%,余量由Cu和不可避免的雜質組成的Cu-Ni-Si系銅合金條,導電率為30%IACS以上、拉伸強度為800MPa以上,按照JCBA-T326-2014,針對軋制方向的陡度,沿著與該軋制方向正交的軋制直角方向以25mm以下的間距測定5處以上時,上述陡度為0.5以下,并且,用(上述陡度的偏差/上述陡度的平均值)×100表示的陡度的偏差率為12%以下。
進而,優選含有合計為0.005~0.8質量%的選自Mg、Fe、P、Mn、Co和Cr中的一種以上。
發明效果
根據本發明,能夠得到強度高且平坦性高的Cu-Ni-Si系銅合金條。
附圖說明
圖1是表示本發明的實施方式所涉及的Cu-Ni-Si系銅合金條的材料應變的俯視圖的一例的圖。
圖2是表示陡度的測定方法的示意圖。
圖3是表示引線框加工時的平坦性的測定方法的示意圖。
圖4是圖3后續的示意圖。
具體實施方式
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于捷客斯金屬株式會社,未經捷客斯金屬株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910221346.7/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





