[發明專利]隔墊物高度測量裝置及隔墊物高度測量方法

有效

• 申請號: 201910219076.6
• 申請日: 2019-03-21
• 公開（公告）號: CN109765705B
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發明（設計）人: 楊星
• 申請（專利權）人: TCL華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/1339;G01B11/02
• 代理公司: 深圳市德力知識產權代理事務所 44265
• 代理人: 林才桂;王中華

本發明提供一種隔墊物高度測量裝置及隔墊物高度測量方法。所述隔墊物高度測量裝置包括：測量鏡頭及與所述測量鏡頭相連的校正模塊；所述測量鏡頭用于按照測量算法拍攝待測量的隔墊物并測量隔墊物的高度；所述校正模塊用于在測量鏡頭拍攝隔墊物并測量隔墊物的高度的同時，對所述測量算法進行自動校正，以調整所述隔墊物在測量鏡頭中的位置及所述隔墊物在測量鏡頭中的清晰度，通過在隔墊物高度測量的同時進行自動校正測量算法，能夠有效減少算法校正時間，提升生產效率。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種隔墊物高度測量裝置及隔墊物高度測量方法。

背景技術

液晶顯示裝置(LCD，Liquid Crystal Display)具有機身薄、省電、無輻射等眾多優點，得到了廣泛的應用。現有市場上的液晶顯示裝置大部分為背光型液晶顯示裝置，其包括液晶顯示面板及背光模組(backlight module)。通常液晶顯示面板由彩膜基板(CF，Color Filter)、薄膜晶體管基板(TFT，Thin Film Transistor)、夾于彩膜基板與薄膜晶體管基板之間的液晶(LC，Liquid Crystal)及密封膠框(Sealant)組成。其中，液晶層厚度即盒厚(Cell Gap)主要通過設置在陣列基板和彩膜基板之間的隔墊物(Photo Spacer，PS)的高度來進行控制，液晶層厚度對液晶顯示裝置的結構參數和顯示質量有重要的影響。

目前使用的隔墊物一般通過掩膜、光刻等工藝形成在彩膜基板上的黑矩陣上；在彩膜基板和薄膜晶體管基板對盒后即形成液晶顯示面板，處于彩膜基板和薄膜晶體管基板之間的隔墊物對上述兩個基板進行支撐以及緩沖作用，從而維持預定的盒厚，保證畫面顯示的穩定。目前，大尺寸高分辨率的電視越來越受到消費者青睞。在大尺寸液晶顯示面板中，通常會使用兩種類型以上的隔墊物，如在在彩膜基板上設置主隔墊物(Main PS)、及輔助隔墊物(Sub PS)，起到多級緩沖的作用，以防止各種Mura或者不良的發生。其中，主隔墊物的高度大于輔助隔墊物的高度，輔助隔墊物的數量大于主隔墊物的數量，兩者需要通過不同工藝形成。當液晶面板成盒后，主隔墊物會有一定的壓縮量，支撐盒厚，處于壓縮狀態，而輔助隔墊物沒有壓縮量。當液晶面板受到過大外力的時候，輔助隔墊物才被壓縮，起到輔助支撐作用。

隔墊物高度測量裝置(PS Height，PSH)主要負責顯示面板的隔墊物的高度進行量測。受PSH機臺的3D量測原理限制，在PSH長時間未量測某一類型的產品后，再次量測該類型的產品時，采用原有的測量算法(Recipe)進行量測時，會出現隔墊物在測量鏡頭中圖像變得模糊，或在測量鏡頭中的位置出現偏移，甚至超出測量鏡頭的拍攝范圍的情況，因此，在PSH對長期未測的某一類型的產品再次進行量測時，均需要人工手動調整測量算法，以保證測量的準確性，且人工手動調整測量算法的過程需要停機進行，效率很低，嚴重影響生產效率，造成產能損失。

發明內容

本發明的目的在于提供一種隔墊物高度測量裝置，能夠通過在隔墊物高度測量的同時通過自動校正測量算法，有效減少算法校正時間，提升生產效率。

本發明的目的還在于提供一種隔墊物高度測量方法，能夠通過在隔墊物高度測量的同時通過自動校正測量算法，有效減少算法校正時間，提升生產效率。

為實現上述目的，本發明提供了一種隔墊物高度測量裝置，包括：測量鏡頭及與所述測量鏡頭相連的校正模塊；

所述測量鏡頭用于按照測量算法拍攝待測量的隔墊物并測量隔墊物的高度；

所述校正模塊用于在測量鏡頭拍攝隔墊物并測量隔墊物的高度的同時，對所述測量算法進行自動校正，以調整所述隔墊物在測量鏡頭中的位置及所述隔墊物在測量鏡頭中的清晰度。

所述隔墊物高度測量裝置還包括與所述校正模塊相連的控制模塊；

所述控制模塊用于接收控制信號，并根據控制信號控制所述校正模塊開始工作或停止工作。