[發明專利]一種基于線激光雙目立體視覺的電路板立體掃描檢測方法

在審

• 申請號: 201910209951.2
• 申請日: 2019-03-19
• 公開（公告）號: CN111738971A
• 公開（公告）日: 2020-10-02
• 發明（設計）人: 董霄劍;曾洪慶
• 申請（專利權）人: 北京偉景智能科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/33;G06T7/80
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于線激光雙目立體視覺的電路板立體掃描檢測方法，其特征在于，包括：投射線激光到電路板上；利用線激光雙目測量方法測定電路板上激光掃描線的三維數據；線激光完整掃描電路板，利用線激光雙目測量方法得到電路板完整的輪廓三維數據；根據電路板完整的輪廓三維數據生成電路板輪廓點云圖；將生成的電路板輪廓點云圖與預先存儲的標準電路板模型數據進行比對；在設定的誤差范圍內判定比對結果是否一致；輸出比對結果并在比對結果不一致時發出系統警報。

2.根據權利要求1所述的基于線激光雙目立體視覺的電路板立體掃描檢測方法，其特征在于，所述線激光雙目測量方法包括：對雙目相機進行立體標定；通過雙目相機的左攝像頭和右攝像頭分別獲取電路板的左圖像和右圖像；對獲取的左圖像和右圖像進行立體校正，使校正后的左圖像和右圖像行對準；對校正后的左圖像和右圖像進行匹配得到線激光成像匹配點對；根據線激光成像匹配點對得到左右圖像視差，根據左右圖像視差計算該激光線投射處的電路板輪廓三維數據。

3.根據權利要求2所述對校正后的左圖像和右圖像進行匹配得到線激光成像匹配點對，其特征在于，在匹配之前利用亞像素數值極值檢測算法精確定位激光線的位置，所用亞像素數值極值檢測算法可以是高斯近似、拋物線近似、質心算法、線性插值、數值微分濾波。

4.根據權利要求1所述的基于線激光雙目立體視覺的電路板立體掃描檢測方法，其特征在于，所述線激光完整掃描電路板的操作方式可以是勻速移動線激光發射器及雙目相機，也可以是勻速移動電路板。

5.根據權利要求3所述的線激光發射器及雙目相機，其特征在于，所述線激光發射器及雙目相機位置相對固定。

6.根據權利要求1所述的基于線激光雙目立體視覺的電路板立體掃描檢測方法，其特征在于，所述生成電路板輪廓點云圖包括：獲取左右視圖視差后計算各點深度值得到深度圖；根據深度圖轉換成點云圖。

7.根據權利要求1所述的基于線激光雙目立體視覺的電路板立體掃描檢測方法，其特征在于，所述誤差范圍根據電路板工業要求自行確定。

8.根據權利要求1所述的基于線激光雙目立體視覺的電路板立體掃描檢測方法，其特征在于，所述發出系統警報包括但不限于在顯示器上顯示不一致的比對結果、系統發出警報聲音、系統暫停運行。