[發明專利]一種光源光功率檢測裝置及激光光源在審
| 申請號: | 201910203216.0 | 申請日: | 2019-03-18 |
| 公開(公告)號: | CN109813425A | 公開(公告)日: | 2019-05-28 |
| 發明(設計)人: | 高文宏;郭澤彬 | 申請(專利權)人: | 北京鐳創高科光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G01J1/04 | 分類號: | G01J1/04;H01S3/00 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 駱宗力;王寶筠 |
| 地址: | 100176 北京市北京經濟技術*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 分光光束 光源光功率 檢測裝置 分光模塊 激光光源 入射光線 檢測光束 檢測模塊 出射口 出射 分光 光源 光功率檢測 匯聚 工作功能 光線匯聚 人員定位 日常維護 設備維護 故障點 光功率 檢測 預設 參考 傳輸 申請 | ||
1.一種光源光功率檢測裝置,其特征在于,包括:光線匯聚模塊、分光模塊和檢測模塊;其中,
所述光線匯聚模塊,用于接收入射的入射光線,并將所述入射光線匯聚后想所述分光模塊傳輸;
所述分光模塊,用于將匯聚后的所述入射光線進行分光處理,形成第一分光光束和第二分光光束;所述第一分光光束從所述分光模塊的第一出射口出射,所述第二分光光束從所述分光模塊的第二出射口出射;所述第一分光光束的光通量與所述入射光線的光通量之比為預設值,所述預設值大于或等于90%;
所述檢測模塊,用于對所述第二分光光束進行處理,以獲得檢測光束,并根據所述檢測光束和所述預設值確定所述入射光線的光功率。
2.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述分光模塊包括:耦合固定裝置、窗口鏡和出射耦合裝置;其中,
所述耦合固定裝置包括入射口、第一出射端和第二出射端;所述第一出射端為所述分光模塊的第一出射口,所述第二出射端為所述分光模塊的第二出射口;所述入射口用于接收所述入射光線;所述第一出射端用于供所述第一分光光束出射;所述第二出射端用于供所述第二分光光束出射;
所述窗口鏡,用于透過部分所述入射光線,并反射其余所述入射光線,透射的所述入射光線形成所述第一分光光束,反射的所述入射光線形成所述第二分光光束;
所述出射耦合裝置,設置于所述第二出射口中,用于接收所述第一分光光束并使所述第一分光光束出射。
3.根據權利要求2所述的裝置,其特征在于,所述窗口鏡包括:
平面鏡和分別位于所述平面鏡上下表面的增透膜。
4.根據權利要求2所述的裝置,其特征在于,所述出射耦合裝置為光纖插芯。
5.根據權利要求2所述的裝置,其特征在于,所述檢測模塊包括:散射片和光敏傳感器;其中,
所述散射片,用于對所述第二分光光束進行散射后獲得所述檢測光束;
所述光敏傳感器,用于接收所述檢測光束,并根據散射后的第二分光光束和所述預設值確定所述入射光線的光功率。
6.根據權利要求2所述的裝置,其特征在于,所述檢測模塊包括:散射片、衰減片光敏傳感器;其中,
所述散射片,用于對所述第二分光光束進行散射后向所述衰減片傳送;
所述衰減片,用于對散射后的第二分光光束進行衰減處理,以獲得光通量位于所述光敏傳感器量程內的所述檢測光束;
所述光敏傳感器,用于接收所述檢測光束,并根據散射后的第二分光光束和所述預設值確定所述入射光線的光功率。
7.根據權利要求5或6所述的裝置,其特征在于,所述光敏傳感器為單波長光敏傳感器或色彩傳感器。
8.根據權利要求5或6所述的裝置,其特征在于,還包括:補償裝置;
所述補償裝置的反射面垂直于所述窗口鏡的反射面,且所述補償裝置的光軸中心與所述檢測裝置的光軸中心位于同一條直線上,所述補償裝置用于將所述第二分光光束反射向所述檢測裝置。
9.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,還包括:與所述檢測模塊連接的顯示裝置;
所述顯示裝置,用于顯示所述入射光線的光功率。
10.一種激光光源,其特征在于,包括:激光發射裝置和如權利要求1-9任一項所述的光源光功率檢測裝置;
所述激光發射裝置,用于出射單波長激光或多波長激光作為所述光源光功率檢測裝置的入射光線;
所述光源光功率檢測裝置,用于接收所述入射光線,并檢測所述入射光線的光功率。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京鐳創高科光電科技有限公司,未經北京鐳創高科光電科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910203216.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





