[發明專利]一種監測次臨界反應堆反應性的方法有效
| 申請號: | 201910201201.0 | 申請日: | 2019-03-18 |
| 公開(公告)號: | CN109903866B | 公開(公告)日: | 2020-12-22 |
| 發明(設計)人: | 劉洋;羅皇達;朱慶福;周琦;梁淑紅;王藩 | 申請(專利權)人: | 中國原子能科學研究院 |
| 主分類號: | G21C17/104 | 分類號: | G21C17/104;G21C17/108 |
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| 地址: | 102413 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 監測 臨界 反應堆 反應 方法 | ||
1.一種監測次臨界反應堆反應性的方法,其特征在于:在反應堆的兩處不同位置放置中子探測器用于獲取中子計數率,用兩個所述中子探測器記錄到的中子計數率的比值C來表征中子通量密度空間分布形狀的特征參數;逐漸改變反應堆的反應性,并記錄同一時刻的中子計數率的比值C和有效增殖系數keff;建立坐標系,通過所記錄的各個時刻中子計數率的比值C與有效增殖系數keff擬合出C與keff的刻度曲線圖;在實際監測次臨界反應堆的反應性時,實時記錄兩個所述中子探測器的中子計數率,得到二者的比值,并將其代入制成的刻度曲線圖中,即可得到此時反應堆的有效增殖系數。
2.如權利要求1所述的監測次臨界反應堆反應性的方法,其特征在于:所述中子探測器采用BF3計數管。
3.如權利要求1所述的監測次臨界反應堆反應性的方法,其特征在于:通過勻速分段插入調節棒引入負反應性的方式改變反應堆的反應性。
4.如權利要求1所述的監測次臨界反應堆反應性的方法,其特征在于:通過跳源法確定各個時刻反應堆的有效增殖系數keff。
5.如權利要求1所述的監測次臨界反應堆反應性的方法,其特征在于:所述坐標系以C為橫坐標,keff為縱坐標,繪制C與keff的刻度曲線圖。
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