[發明專利]環形縮距天線測試裝置在審
| 申請號： | 201910197830.0 | 申請日： | 2019-03-15 |
| 公開（公告）號： | CN111693790A | 公開（公告）日： | 2020-09-22 |
| 發明（設計）人： | 張道治 | 申請（專利權）人： | 張道治 |
| 主分類號： | G01R29/10 | 分類號： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京泰吉知識產權代理有限公司 11355 | 代理人： | 張雅軍;孫金瑞 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 環形 天線 測試 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種環形縮距天線測試裝置，其特征在于，包含：
一環形的主反射面；
至少一訊號饋入器，與該環形的主反射面間隔設置；及
至少一輔反射面，其表面幾何形狀由該主反射面的表面公式及所述訊號饋入器的位置共同定義，
三者相互配合用于產生多個不同方向入射之平面波于一測試靜區，供多個天線接收或發射之場型量測之用。
2.根據權利要求1所述的環形縮距天線測試裝置，其特征在于，該環形的主反射面由兩正交之曲線構成，之一曲線的軌跡為圓線，其圓心在該測試靜區的一中心軸線上，另一曲線的軌跡為拋物線、雙曲線、橢圓線、圓線、及可用公式表示之曲線其中之一。
3.根據權利要求1所述的環形縮距天線測試裝置，其特征在于，該環形的主反射面由二曲線構成，一第一曲線為圓形曲線，圓心在測試靜區中心軸線上。
4.根據權利要求3所述的環形縮距天線測試裝置，其特征在于，該環形的主反射面的另一第二曲線為拋物線公式。
5.根據權利要求3所述的環形縮距天線測試裝置，其特征在于，該環形的主反射面的另一第二曲線為雙曲線公式。
6.根據權利要求3所述的環形縮距天線測試裝置，其特征在于，該環形的主反射面的另一第二曲線為橢圓線公式。
7.根據權利要求3所述的環形縮距天線測試裝置，其特征在于，該環形的主反射面的另一第二曲線為可用公式表示之曲線。
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