[發(fā)明專利]一種基于弱測(cè)量技術(shù)的非線性系數(shù)測(cè)量裝置及其測(cè)量方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910179334.2 | 申請(qǐng)日: | 2019-02-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109883952B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-06-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李洪婧;李彥甲;黃靖正;劉苗苗;曾貴華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海交通大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/01 | 分類號(hào): | G01N21/01;G01N21/25 |
| 代理公司: | 上海漢聲知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31236 | 代理人: | 莊文莉 |
| 地址: | 200240 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 測(cè)量 技術(shù) 非線性 系數(shù) 裝置 及其 測(cè)量方法 | ||
本發(fā)明提供了一種基于弱測(cè)量技術(shù)的非線性系數(shù)測(cè)量裝置及其測(cè)量方法,包括探測(cè)部分和非線性產(chǎn)生部分;所述非線性產(chǎn)生部分:將泵浦光照射在待測(cè)非線性材料上,產(chǎn)生非線性現(xiàn)象;所述探測(cè)部分:將探測(cè)光通過(guò)所述泵浦光在待測(cè)非線性材料上的光斑中心,產(chǎn)生中心頻譜偏移,進(jìn)行非線性系數(shù)測(cè)量。本發(fā)明利用弱測(cè)量技術(shù)對(duì)中心頻譜偏移來(lái)進(jìn)行非線性系數(shù)測(cè)量,具有測(cè)量精確高,適用于不同光學(xué)材料的非線性系數(shù)測(cè)量,裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,使用方便,抗環(huán)境干擾能力強(qiáng)等特點(diǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,具體地,涉及一種基于弱測(cè)量技術(shù)的非線性系數(shù)測(cè)量裝置及其測(cè)量方法。
背景技術(shù)
隨著光通信和光信息處理等領(lǐng)域技術(shù)的飛速發(fā)展,非線性光學(xué)材料的研究日益重要。介質(zhì)的非線性特性在通信和精密測(cè)量等領(lǐng)域有重要的應(yīng)用,其中精確測(cè)量介質(zhì)非線性系數(shù)具有重要的意義。具有便捷可靠的測(cè)量方法是尋找理想非線性材料的必要工具。
目前,測(cè)量非線性系數(shù)測(cè)量的方法都是采用間接的方法測(cè)量,如公開(kāi)號(hào)為CN105092477A的專利“非線性厚光子學(xué)材料的光學(xué)非線性測(cè)量裝置及測(cè)量方法”,測(cè)量的靈敏度和精確度受測(cè)量?jī)x器的影響。
弱測(cè)量技術(shù)是在有后選擇的情況下測(cè)量結(jié)果可以被明顯地放大,弱測(cè)量中所考慮的測(cè)量系統(tǒng)和測(cè)量?jī)x器之間的耦合強(qiáng)度比較弱,利用后選擇進(jìn)行測(cè)量結(jié)果的篩選,從而在耦合強(qiáng)度很弱的情況下使測(cè)量結(jié)果得到顯著的放大效果。弱測(cè)量技術(shù)在精密測(cè)量是目前研究的熱門方向,并且具有重要的研究意義。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷,本發(fā)明的目的是提供一種基于弱測(cè)量技術(shù)的非線性系數(shù)測(cè)量裝置及其測(cè)量方法。
根據(jù)本發(fā)明提供的一種基于弱測(cè)量技術(shù)的非線性系數(shù)測(cè)量裝置,包括探測(cè)部分和非線性產(chǎn)生部分;
所述非線性產(chǎn)生部分:將泵浦光照射在待測(cè)非線性材料7上,產(chǎn)生非線性現(xiàn)象;
所述探測(cè)部分:將探測(cè)光通過(guò)所述泵浦光在待測(cè)非線性材料7上的光斑中心,產(chǎn)生中心頻譜偏移,進(jìn)行非線性系數(shù)測(cè)量。
較佳的,所述探測(cè)部分包括:探測(cè)光源1、第一格蘭泰勒棱鏡4、第二格蘭泰勒棱鏡12、偏振分束器5、反射鏡6、波片11和光譜儀13;
所述探測(cè)光源1發(fā)出的探測(cè)光經(jīng)過(guò)所述第一格蘭泰勒 棱鏡4產(chǎn)生線性偏振光,線性偏振光進(jìn)入所述偏振分束器5后分成兩束光,所述待測(cè)非線性材料7位于其中一束光的光路上,兩束光分別通過(guò)反射鏡6再次經(jīng)過(guò)所述偏振分束器5輸出到所述波片11并進(jìn)入所述第二格蘭泰勒 棱鏡12,由所述光譜儀13進(jìn)行測(cè)量。
較佳的,所述第一格蘭泰勒 棱鏡4與所述第二格蘭泰勒 棱鏡12之間呈ε角的非正交狀態(tài)。
較佳的,所述ε的取值范圍為0ε<<1。
較佳的,所述非線性系數(shù)測(cè)量包括:
探測(cè)光在待測(cè)非線性材料7中產(chǎn)生的相位變化為:
n=n0+n2|E|2,Δn=n2Ip,
其中,n為總折射率,n0為線性折射率,n2為待測(cè)非線性材料7的非線性系數(shù),E 為光電場(chǎng),Δn為待測(cè)非線性材料7的折射率變化,Ip為泵浦光強(qiáng)度,π為3.14,λ為泵浦光波長(zhǎng),d為待測(cè)非線性材料7的厚度;
探測(cè)光產(chǎn)生的中心頻譜偏移Δω為:
其中,ω為探測(cè)光的頻率,τ為經(jīng)過(guò)待測(cè)非線性材料7后產(chǎn)生的延時(shí),σ為探測(cè)光的線寬;
待測(cè)非線性材料7的非線性系數(shù)n2為:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海交通大學(xué),未經(jīng)上海交通大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910179334.2/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 測(cè)量設(shè)備、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量配件和測(cè)量方法
- 測(cè)量尺的測(cè)量組件及測(cè)量尺
- 測(cè)量輔助裝置、測(cè)量裝置和測(cè)量系統(tǒng)
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量容器、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)、測(cè)量程序以及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量電路、測(cè)量方法及測(cè)量設(shè)備
- 防止技術(shù)開(kāi)啟的鎖具新技術(shù)
- 技術(shù)評(píng)價(jià)裝置、技術(shù)評(píng)價(jià)程序、技術(shù)評(píng)價(jià)方法
- 防止技術(shù)開(kāi)啟的鎖具新技術(shù)
- 視聽(tīng)模擬技術(shù)(VAS技術(shù))
- 用于技術(shù)縮放的MRAM集成技術(shù)
- 用于監(jiān)測(cè)技術(shù)設(shè)備的方法和用戶接口、以及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 用于監(jiān)測(cè)技術(shù)設(shè)備的技術(shù)
- 技術(shù)偵查方法及技術(shù)偵查系統(tǒng)
- 使用投影技術(shù)增強(qiáng)睡眠技術(shù)
- 基于技術(shù)庫(kù)的技術(shù)推薦方法
- 非線性晶體溫度控制裝置
- 非線性晶體溫度控制裝置
- 非線性項(xiàng)的選擇裝置及方法、辨識(shí)系統(tǒng)及補(bǔ)償系統(tǒng)
- 一種寬帶射頻功率放大器記憶非線性模型及建模方法
- 非線性子系統(tǒng)基于作為非線性模型后跟線性模型的級(jí)聯(lián)的模型的自適應(yīng)預(yù)失真
- 一種適用于不確定性系統(tǒng)的非線性度量方法
- 基于分部分段多項(xiàng)式近似的數(shù)字預(yù)失真和后失真
- 數(shù)字調(diào)制器非線性校正
- 用于多非線性參數(shù)耦合系統(tǒng)的參數(shù)辨識(shí)方法及其辨識(shí)設(shè)備
- 一種激光非線性晶體溫控裝置





