[發明專利]電阻測試治具

在審

• 申請號: 201910178499.8
• 申請日: 2019-03-11
• 公開（公告）號: CN109946522A
• 公開（公告）日: 2019-06-28
• 發明（設計）人: 許根夫;陸志華
• 申請（專利權）人: 深圳市杰普特光電股份有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;G01R1/067
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 羅佳龍;景懷宇

一種電阻測試治具，包括基板、安裝在基板上的電動線性模組、連接電動線性模組的活動探針組件、及連接基板的固定探針組件；電動線性模組包括連接基板的底座、連接底座的驅動電機、及滑動設置在底座上的滑臺；活動探針組件連接滑臺，驅動電機驅動滑臺帶動活動探針組件相對固定探針組件移動；固定探針組件與活動探針組件對應設置；還包括連接滑臺的第一載具組件，第一載具組件包括連接滑臺的第一轉接板、連接第一轉接板的第一卡板、及第一載板；通過驅動電機驅動滑臺相對底座移動，由于活動探針組件與滑臺連接，固定探針組件連接基板，從而可精確地調節活動探針組件與固定探針組件之間的距離，使其與電阻的兩端口之間的距離準確對應。

技術領域

本發明涉及測試輔助裝置，特別是涉及一種電阻測試治具。

背景技術

貼片電阻在批量生產的過程中，需要進行抽檢，在同一批次的電阻中抽取多片進行阻值測量；在進行阻值測量時，需要利用兩組探針分別貼近電阻兩端的端口；由于不同批次的電阻的規格不同，不同規格電阻的兩側端口的間距存在差異，現有方案一般通過人工調節探針，令兩組探針的間距與電阻兩側端口的間距對應，然而人工調節探針的精度較低，導致探針無法與電阻的端口接觸，無法準確實現電阻的阻值測量。

發明內容

基于此，有必要提供一種自動實現探針調節的電阻測試治具。

一種電阻測試治具，包括：基板、安裝在所述基板上的電動線性模組、連接所述電動線性模組的活動探針組件、及連接所述基板的固定探針組件；所述電動線性模組包括連接所述基板的底座、連接所述底座的驅動電機、及滑動設置在所述底座上的滑臺；所述活動探針組件連接所述滑臺，所述驅動電機驅動所述滑臺帶動所述活動探針組件相對所述固定探針組件移動；所述固定探針組件與所述活動探針組件對應設置。

上述電阻測試治具，通過驅動電機驅動滑臺相對底座移動，由于活動探針組件與滑臺連接，固定探針組件連接基板，從而可精確地調節活動探針組件與固定探針組件之間的距離，使其與電阻的兩端口之間的距離準確對應。

在其中一個實施例中，還包括連接所述滑臺的第一載具組件，所述第一載具組件包括連接所述滑臺的第一轉接板、連接所述第一轉接板的第一卡板、及安裝在所述第一轉接板上的第一載板；所述第一轉接板與所述第一卡板之間形成有第一卡槽，所述第一載板安裝在所述第一卡槽中；所述活動探針組件與所述第一載板連接。

在其中一個實施例中，所述第一卡板呈U形設置；所述第一載板上連接有第一推柄，所述第一卡板與所述第一推柄對應設置。

在其中一個實施例中，還包括第二載具組件，所述第二載具組件包括連接所述基板的導軌、連接所述導軌的第二轉接板、及連接所述第二轉接板的鎖定件；所述固定探針組件與所述第二轉接板連接；所述第二轉接板上設有第一腰型孔，所述基板上設有與所述第一腰型孔對應的第二螺孔；所述鎖定件分別穿設所述第一腰型孔及所述第二螺孔中。

在其中一個實施例中，所述第二載具組件還包括安裝在所述基板上的調節器、及連接所述基板的彈簧件；所述第二轉接板上延伸有頂塊，所述調節器的活動端與所述頂塊對應設置；所述彈簧件令所述頂塊與所述調節器的活動端相抵靠。

在其中一個實施例中，所述第二載具組件還包括連接所述第二轉接板的第二卡板、及安裝在所述第二轉接板上的第二載板；所述第二卡板與所述第二轉接板之間形成有第二卡槽，所述第二載板安裝在所述第二卡槽中；所述固定探針組件與所述第二載板連接。

在其中一個實施例中，所述第二卡板呈U形設置；所述第二載板上連接有第二推柄，所述第二卡板與所述第二推柄對應設置。

在其中一個實施例中，所述第二轉接板上設有第三螺孔，所述第二載板上設有與所述第三螺孔對應的第二腰型孔；所述第二腰型孔的延伸方向與所述滑臺的滑動方向對應設置。