[發明專利]一種目標的快速檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 201910174066.5
• 申請日: 2019-03-08
• 公開（公告）號: CN109919228B
• 公開（公告）日: 2023-04-11
• 發明（設計）人: 劉若堃;肖立波;張濤
• 申請（專利權）人: 旺微科技（浙江）有限公司
• 主分類號: G06V10/70
• 分類號: G06V10/70
• 代理公司: 合肥市浩智運專利代理事務所(普通合伙) 34124
• 代理人: 丁瑞瑞

1.一種目標的快速檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

1)、獲取待檢測圖像，以及針對所述待檢測圖像的檢測框尺寸，且所述檢測框尺寸不大于待檢測圖像的尺寸；

2)、針對每一個哈爾特征的特征子集，根據所述特征子集的特征權重與除自身之外的其他特征子集特征權重之間的比值，將所述特征子集的特征權重與所述比值對應的其他特征子集的特征權重合并，并將所述特征子集的特征權重與所述比值對應的其他特征子集的特征權重更新為合并后的特征權重；

所述步驟2)，包括：

A：針對每一個特征子集，在特征子集的特征值的種類數大于設定數量時，判斷根據所述特征子集的特征權重與除自身之外的其他特征子集的特征權重之間的比值是否大于第一預設閾值；

B：若是，將所述特征子集的特征權重與除自身之外的其他特征子集的特征權重均更新為，所述特征子集的特征權重與除自身之外的其他特征子集的特征權重的平均值，并更新特征子集的特征值的種類數；

C：若否，判斷更新后的特征子集的特征值的種類數是否大于設定數量，若是，按照設定步長調大所述第一預設閾值，得到第二預設閾值，并將所述第一預設閾值更新為第二預設閾值，返回執行所述A步驟，直至更新后的特征子集的特征值的種類數不大于設定數量；若否，執行所述步驟3)；

3)、根據所述檢測框的尺寸在所述待檢測圖像中獲取對應尺寸范圍內的特征子集，并根據每一個特征子集的特征權重計算檢測框區域內的每一個特征子集的積分值；

4)、判斷所述檢測框區域內的特征子集的積分值是否大于設定門限值；

5)、若是，按照檢測框的滑動方向，將所述檢測框滑動第一步長，并返回執行所述步驟3)，直至所述待檢測圖像中的目標被檢測完成；

6)、若否，按照檢測框的滑動方向，將所述檢測框滑動第二步長并返回執行所述步驟3)，直至所述待檢測圖像中的目標被檢測完成。

2.根據權利要求1所述的一種目標的快速檢測方法，其特征在于，所述根據合并后的特征權重計算檢測框區域內的每一個特征子集的積分值，包括：

預先將待檢測圖像中的每一個特征子集的特征值更新為，合并后的特征權重與完整圖像中每一像素的積分值的乘積作為新的積分值；再根據每一個特征子集的特征權重與對應的像素點的新的積分值的積，計算檢測框區域內的每一個特征子集的積分值。

3.根據權利要求1所述的一種目標的快速檢測方法，其特征在于，所述判斷所述檢測框區域內的特征子集的積分值是否大于設定門限值，包括：

利用公式，if(featureValue[node]th_node[node]*detec_nf)，判斷所述檢測框區域內的特征子集的積分值是否大于設定門限值，其中，

if()為判斷函數；featureValue[node]為所述檢測框區域內的特征子集的積分值；th_node[node]為設定門限值；detec_nf為檢測框的方差值，node對應每個特征子集的下標。

4.根據權利要求3所述的一種目標的快速檢測方法，其特征在于，所述判斷所述檢測框區域內的特征子集的積分值是否大于設定門限值，包括：

利用公式，判斷所述檢測框區域內的特征子集的積分值是否大于設定門限值，其中，

if()為判斷函數；featureValue[node]為所述檢測框區域內的特征子集的積分值；b為整數；a為整數；detec_nf為檢測框的方差值，node對應每個特征子集的下標。