[發(fā)明專利]一種高性能RTK處理技術(shù)方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910173684.8
• 申請日: 2019-03-08
• 公開（公告）號: CN110068848B
• 公開（公告）日: 2023-02-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 包學(xué)兵;崔常福
• 申請（專利權(quán)）人: 江蘇北斗星通汽車電子有限公司
• 主分類號: G01S19/43
• 分類號: G01S19/43
• 代理公司: 蘇州國卓知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32331
• 代理人: 明志會

本發(fā)明公開了一種高性能RTK處理技術(shù)方法，包括建立電離層、對流層和多徑誤差模型，體方法為：S1：建立雙差的RTK觀測模型，實時估計用戶和基準站間的基線向量以及電離層參數(shù)；對GNSS雙頻測量數(shù)據(jù)通過載波平滑碼偽距、硬件延遲估計、傾斜垂直轉(zhuǎn)化獲得接收機至衛(wèi)星線路與電離層穿刺點的垂直電離層延遲參數(shù)，S2：選擇待測區(qū)域的多個參考點和多顆參考衛(wèi)星；S3：避開易產(chǎn)生多路經(jīng)環(huán)境的基站，在合適的基站內(nèi)采用抗多路徑誤差的儀器設(shè)備。RTK初始化精度和可靠度更高，定位更加準確，降低系統(tǒng)成本，減小體積，提高在復(fù)雜環(huán)境下的RTK的固定率，簡化算法，并降低RTK的成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及衛(wèi)星導(dǎo)航定位系統(tǒng)領(lǐng)域，具體地說是高性能RTK處理技術(shù)方法。

背景技術(shù)

在高精度定位領(lǐng)域，RTK處理為計算密集型環(huán)節(jié)，每次RTK解算都涉及到雙精度浮點的大矩陣乘法和求逆運算，十分耗費時間和運算資源。因此，高頻次的RTK處理對于SOC的性能要求很高。同時，基帶接收機也需工作在較高頻率上以支持多種衛(wèi)星信號和多個頻點。

發(fā)明內(nèi)容

針對上述問題，為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足,本發(fā)明提供了一種高性能RTK處理技術(shù)方法。

本發(fā)明技術(shù)方案如下：

一種高性能RTK處理技術(shù)方法，包括建立電離層、對流層和多徑誤差模型，具體方法為：

S1：建立雙差的RTK觀測模型，實時估計用戶和基準站間的基線向量以及電離層參數(shù)；

對GNSS雙頻測量數(shù)據(jù)通過載波平滑碼偽距、硬件延遲估計、傾斜垂直轉(zhuǎn)化獲得接收機至衛(wèi)星線路與電離層穿刺點的垂直電離層延遲參數(shù)，步驟為：

S11：使用載波相位觀測量的變化值平滑碼觀測量；

S12：用戶接收機對接收的測量值進行載波平滑；

S2：選擇待測區(qū)域的多個參考點和多顆參考衛(wèi)星，將每個參考點對應(yīng)每顆參考衛(wèi)星在傳播路徑上的對流程延遲轉(zhuǎn)化為該參考站點對應(yīng)于每顆衛(wèi)星在對流層穿刺點處的對流層延遲；

S3：避開易產(chǎn)生多路經(jīng)環(huán)境的基站，在合適的基站內(nèi)采用抗多路徑誤差的儀器設(shè)備。

進一步的，所述步驟S1還包括確定雙差電離層殘差約束模型，將雙差的電離層殘差當(dāng)作未知參數(shù)進行實時估計，并附加先驗約束，空間域和時間域的信息約束，消除雙差電離層殘差影響。

進一步的，所述步驟S2中待測區(qū)域的基準站和參考衛(wèi)星數(shù)量對應(yīng)。

進一步的，所述步驟S1中電離層還需進行信息約束，采用Klobuchar模型或Bent模型，利用IGMAS分析中心提供的實時電離層模型進行先驗信息約束。

進一步，所述步驟S12中平滑同時同捕獲過程一起執(zhí)行。

本發(fā)明的主要優(yōu)點是：

RTK初始化精度和可靠度更高，定位更加準確，降低系統(tǒng)成本，減小體積，提高在復(fù)雜環(huán)境下的RTK的固定率，簡化算法，并降低RTK的成本。

具體實施方式

下面對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

一種高性能RTK處理技術(shù)方法，包括建立電離層、對流層和多徑誤差模型，具體方法為：

S1：建立雙差的RTK觀測模型，實時估計用戶和基準站間的基線向量以及電離層參數(shù)；

對GNSS雙頻測量數(shù)據(jù)通過載波平滑碼偽距、硬件延遲估計、傾斜垂直轉(zhuǎn)化獲得接收機至衛(wèi)星線路與電離層穿刺點的垂直電離層延遲參數(shù)，步驟為：