[發(fā)明專利]一種改進(jìn)圓盤卡法的CT空間分辨率測(cè)量方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910171729.8 | 申請(qǐng)日: | 2019-03-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109884090B | 公開(公告)日: | 2021-06-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 曾理;程武昌;沈?qū)?/a>;龔長(zhǎng)城 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 重慶大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N23/04 | 分類號(hào): | G01N23/04;G01N23/046 |
| 代理公司: | 北京同恒源知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11275 | 代理人: | 趙榮之 |
| 地址: | 400044 重*** | 國(guó)省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 改進(jìn) 圓盤 ct 空間 分辨率 測(cè)量方法 | ||
1.一種改進(jìn)圓盤卡法的CT空間分辨率測(cè)量方法,其特征在于:該方法具體包括以下步驟:
S1:安裝并開啟CT檢測(cè)裝置,使得射線源(1)產(chǎn)生的有合適的角度的扇形束射線能夠覆蓋圓盤卡(3)的全部區(qū)域,這個(gè)角度設(shè)為;
S2:扇形束射線掃描,使射線源(1)與曲面探測(cè)器(2)繞圓盤卡(3)的圓心至少旋轉(zhuǎn)來(lái)獲得完整的投影數(shù)據(jù),并傳送到控制及圖像處理系統(tǒng)(4)中存儲(chǔ);
S3:重建圓盤卡的二維圖像:根據(jù)得到的投影數(shù)據(jù)利用扇形束濾波反投影(filteredback projection,F(xiàn)BP)算法重建圓盤卡的二維圖像;
S4:利用相對(duì)全變差( Relative Total Variation,RTV)算法來(lái)得到去噪后的灰度圖像,計(jì)算公式為:
其中,
其中,
高斯核函數(shù):
其中,和分別為
S5:使用改進(jìn)的圓盤卡法對(duì)重建的二維圖像和去噪后的灰度圖像進(jìn)行計(jì)算,得到圓盤卡邊緣的平均灰度值;
S6:計(jì)算邊緣相應(yīng)函數(shù)(edge response function, ERF)和點(diǎn)擴(kuò)展函數(shù)(point spreadfunction, PSF)曲線,得到圓盤卡的MTF曲線和CT空間分辨率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種改進(jìn)圓盤卡法的CT空間分辨率測(cè)量方法,其特征在于:步驟S1中所述的檢測(cè)裝置包括射線源(1)、曲面探測(cè)器(2)以及控制及圖像處理系統(tǒng)(4),所述射線源(1)、曲面探測(cè)器(2)的信號(hào)線路與控制與圖像處理系統(tǒng)(4)相連,射線源(1)中心與圓盤卡(3)的圓心連線與曲面探測(cè)器(2)大致垂直,射線源(1)與曲面探測(cè)器(2)繞圓盤卡(3)圓心旋轉(zhuǎn),使得射線源(1)產(chǎn)生的有合適的角度的扇形束射線能夠覆蓋圓盤卡的全部區(qū)域,這個(gè)角度設(shè)為。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種改進(jìn)圓盤卡法的CT空間分辨率測(cè)量方法,其特征在于:所述步驟S2具體包括:在控制及圖像處理系統(tǒng)(4)的控制下,首先將射線源(1)中心對(duì)準(zhǔn)曲面探測(cè)器(2)的中心,射線源(1)與圓盤卡(3)的圓心連線與曲面探測(cè)器(2)大致垂直,射線源與曲面探測(cè)器(2)繞圓盤卡(3)的圓心旋轉(zhuǎn)至少來(lái)獲得完整的投影數(shù)據(jù),然后傳送到控制及圖像處理系統(tǒng)(4)中存儲(chǔ)。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光





