[發明專利]一種輻照后板型元件厚度測量專用夾具

在審

• 申請號: 201910167984.5
• 申請日: 2019-03-06
• 公開（公告）號: CN109737860A
• 公開（公告）日: 2019-05-10
• 發明（設計）人: 陳哲;熊源源;余飛楊;傅源杰;江林志;尹春艷;高艮濤
• 申請（專利權）人: 中國核動力研究設計院
• 主分類號: G01B7/06
• 分類號: G01B7/06;B25B11/00
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 廖慧敏

本發明公開了一種輻照后板型元件厚度測量專用夾具，解決了現有技術中的采用單測頭測量不平整的板型元件時會產生較大的厚度測量誤差，進而影響測量結果準確性的問題。本發明包括測量架，設置在測量架上用于放置輻照后板型元件的測量臺面；所述測量臺面上設置有測量通槽，所述測量臺面下方設置有第一電感測頭夾頭，該第一電感測頭夾頭的測尖穿過測量通槽與測量臺面的上平面位于同一平面內；所述測量臺面上方還設置有第二電感測頭夾頭，以及用于將第二電感測頭夾頭下降到輻照后板型元件上表面的高度調節裝置。本發明可以提高測量準確性，并確保測量時兩個測頭之間夾持力的一致性，使測量結果具有較高的重復性。

技術領域

本發明涉及核輻照檢驗領域，具體涉及一種輻照后板型元件厚度測量專用夾具。

背景技術

輻照后的板型燃料元件由于具有較強的放射性，需要在熱室(專用進行高放射性試驗和操作的屏蔽試驗室)內利用機械手遠距離操作進行相關的輻照后檢驗。板型燃料元件輻照前后的厚度變化值對于分析燃料元件的輻照腫脹及失效行為非常重要。

電感測微儀作為熱室內比較常用的接觸式尺寸測量方法之一，測量精度很高。采用電感測微儀測量厚度時，需要保證兩個電感測頭接觸板型元件表面，并且兩個電感測頭的測尖在同一豎直位置。現有技術中為了達到采用電感測微儀進行厚度測量的目的，在進行輻照后板型元件厚度測量時，通常使板型元件保持豎直狀態，然后借助特殊的工裝夾具將電感測頭接觸板型元件表面，這種測量方法往往采用單測頭，而輻照后的板型元件表面并不十分平整，因此采用單測頭測量時會產生較大的厚度測量誤差。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是：現有技術中的采用單測頭測量不平整的板型元件時會產生較大的厚度測量誤差，進而影響測量結果準確性的問題，本發明的目的在于提供一種輻照后板型元件厚度測量專用夾具，其可以方便地在熱室外利用機械手進行遠程操作，通過調節兩個電感測頭之間的距離，實現對不同厚度板型元件的測量，測量時刻有效避免輻照后不平整的板型元件的厚度測量誤差，提高測量準確性；同時夾具的設計可以確保測量時兩個測頭之間夾持力的一致性，使測量結果具有較高的重復性。

本發明通過下述技術方案實現：

一種輻照后板型元件厚度測量專用夾具，包括測量架，設置在測量架上用于放置輻照后板型元件的測量臺面；

所述測量臺面上設置有測量通槽，所述測量臺面下方設置有第一電感測頭夾頭，該第一電感測頭夾頭的測尖剛好穿過測量通槽與測量臺面的上平面位于同一平面內；

所述測量臺面上方還設置有第二電感測頭夾頭，以及用于將第二電感測頭夾頭下降到輻照后板型元件上表面的高度調節裝置。

本發明可以方便地在熱室外利用熱室內的機械手進行遠程操作，只需通過調節兩個電感測頭的距離，即可實現對不同厚度板型元件的測量。同時，由于本發明中的第二電感測頭夾頭是通過自身重力接觸輻照后板型元件的上表面，該設計中第一電感測頭夾頭的重量是恒定不變的，因而可以確保測量時兩個測頭之間夾持力的一致性，使測量結果具有較高的重復性，效果十分顯著。

為了更好地保證第一電感測頭夾頭的測尖與測量臺面的上平面位于同一平面內，進而使第一電感測頭夾頭的測尖與輻照后板型元件的底面剛好接觸，使測量結果具有更高的重復性，所述高度調節裝置包括豎直設置在測量架上的螺紋桿，套接在螺紋桿上的外套筒，安裝在螺紋桿上用于限制外套筒在螺紋桿上高度的可調節螺母；所述第二電感測頭夾頭通過測頭支桿固定在外套筒上。當第一電感測頭夾頭的測尖與輻照后板型元件的底面沒有接觸或者接觸過度時，可以通過調節相應的可調節螺母，實現第一電感測頭夾頭位置的調節，達到剛好接觸的目的。

進一步，所述外套筒為兩個，分別用于固定第一電感測頭夾頭和第二電感測頭夾頭；所述第一電感測頭夾頭通過另一個測頭支桿安裝在螺紋桿上。

更進一步，固定第一電感測頭夾頭的外套筒下方也設置有另一個可調節螺母。