[發明專利]一種避免假性瑕疵的晶圓流片表面平整度檢測裝置有效
| 申請號: | 201910165714.0 | 申請日: | 2019-03-06 |
| 公開(公告)號: | CN110021534B | 公開(公告)日: | 2021-05-18 |
| 發明(設計)人: | 周淑英;黃梅玉;駱偉秋;饒榕琦 | 申請(專利權)人: | 深圳思謀信息科技有限公司;上海思謀科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66;H01L21/67 |
| 代理公司: | 佛山市智匯聚晨專利代理有限公司 44409 | 代理人: | 曹麗敏 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市前海深港合作區前*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 避免 假性 瑕疵 晶圓流片 表面 平整 檢測 裝置 | ||
1.一種避免假性瑕疵的晶圓流片表面平整度檢測裝置,其結構包括測試架(1)、掃描板(2)、輸送臺(3),所述測試架(1)與掃描板(2)軌道連接,所述掃描板(2)螺紋連接有螺紋桿(20),所述螺紋桿(20)安裝在測試架(1)上,所述測試架(1)與輸送臺(3)鎖定,其特征在于:
所述輸送臺(3)由圍框(30)、鎖孔(31)、鎖板(32)、內部裝置(33)組成,所述圍框(30)裝設有鎖孔(31)、鎖板(32),所述內部裝置(33)安裝在圍框(30)上;
所述內部裝置(33)包括內部框架(330)、升降裝置(331)、內部掃描裝置(332)、儲倉(333),所述內部框架(330)與升降裝置(331)焊接,所述內部掃描裝置(332)安裝在內部框架(330)上,所述內部框架(330)設有儲倉(333),所述升降裝置(331)包括升降固定桿(3310)、焊桿(3311)、焊球(3312)、升降移動桿(3313),所述焊桿(3311)與焊球(3312)焊接,所述升降固定桿(3310)、升降移動桿(3313)穿過焊球(3312),所述升降固定桿(3310)鎖定有彈性扣圓(33100);
所述內部掃描裝置(332)包括側掃描架(3320)、移動傳動器(3321),所述側掃描架(3320)與移動傳動器(3321)貼合,所述側掃描架(3320)包括鐮架(33200)、鐮形掃描器(33201)、橫架(33202),所述鐮形掃描器(33201)安裝在鐮架(33200)上,所述鐮架(33200)與橫架(33202)鎖定,所述移動傳動器(3321)包括定軌焊架(33210)、焊盤(33211)、傳動皮帶(33212)、傳動皮帶輪(33213),所述焊盤(33211)與定軌焊架(33210)、傳動皮帶輪(33213)焊接,所述傳動皮帶(33212)與傳動皮帶輪(33213)貼合,所述鐮架(33200)與鐮形掃描器(33201)為弧形結構,所述鐮形掃描器(33201)活動連接在鐮架(33200)上,所述橫架(33202)為L形結構,所述橫架(33202)與內部框架(330)貼合并且二者軌道連接;
將檢測裝置安裝在流水線生產設備上,當晶圓輸送至檢測裝置時掃描板(2)對晶圓進行掃描,若為合格品則在輸送臺(3)上繼續輸送至下道工序,若檢測出殘質品,內部裝置(33)進行運行,升降移動桿(3313)下移帶動晶圓的下移,通過內部掃描裝置(332)對晶圓進行二次掃描檢測,內部掃描裝置(332)運行時由移動傳動器(3321)帶動側掃描架(3320)移動,實現掃描距離拉近,提高掃描準確度,掃描時鐮形掃描器(33201)在鐮架(33200)上沿著鐮架(33200)左側弧面上下移動,使掃描更加全面,接著由內部掃描裝置332判斷晶圓是否為假性瑕疵,側面掃描判斷晶圓與塵屑或細微的零件為分離狀態,則為假性瑕疵,若為假性瑕疵則升降裝置(331)將其上升回位繼續輸送至下道工序,若非假性瑕疵,則直接從下移處輸送至下道工序進行返工,完成輸送后升降裝置(331)整體上升回位,便于新的晶圓進行加工掃描。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





