[發(fā)明專利]一種存儲器的干擾死機的測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910164980.1 | 申請日： | 2019-03-05 |
| 公開（公告）號： | CN109887538B | 公開（公告）日： | 2021-10-19 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 肖運涓;張坤;黃敏君 | 申請（專利權(quán)）人： | 晶晨半導(dǎo)體（上海）股份有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/44 | 分類號： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 上海申新律師事務(wù)所 31272 | 代理人： | 俞滌炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦東新區(qū)中國*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 存儲器 干擾 死機 測試 方法 | ||
1.一種存儲器的干擾死機的測試方法，應(yīng)用于雙倍速率同步動態(tài)隨機存儲器，所述雙倍速率同步動態(tài)隨機存儲器設(shè)置有多種信號線，其特征在于，所述測試方法包括以下步驟：
步驟S1，將所述雙倍速率同步動態(tài)隨機存儲器的至少一根所述信號線進行短路處理；
步驟S2，對所述雙倍速率同步動態(tài)隨機存儲器進行讀寫操作；
步驟S3，記錄所述雙倍速率同步動態(tài)隨機存儲器響應(yīng)每次所述讀寫操作的每個測試結(jié)果；
所述測試結(jié)果包括屏幕顯示結(jié)果和串口打印提示。
2.如權(quán)利要求1所述的存儲器的干擾死機的測試方法，其特征在于，所述步驟S1具體包括：將每根所述信號線同時進行短路處理。
3.如權(quán)利要求1所述的存儲器的干擾死機的測試方法，其特征在于，所述步驟S1具體包括：將每根所述信號線依次進行短路處理。
4.如權(quán)利要求1所述的存儲器的干擾死機的測試方法，其特征在于，在步驟S3后包括：步驟S4，將所述測試結(jié)果填入一表格中。
5.如權(quán)利要求1所述的存儲器的干擾死機的測試方法，其特征在于，所述信號線包括地址線、數(shù)據(jù)線、電源線、時鐘信號線、數(shù)據(jù)選通線、BA0線、列地址信號線、行地址信號線、時鐘使能信號線、片內(nèi)端接信號線片選信號線、復(fù)位線、WE線和基準電壓信號線。
6.如權(quán)利要求1所述的存儲器的干擾死機的測試方法，其特征在于，所述屏幕顯示結(jié)果包括畫面顯示和屏幕變色。
7.如權(quán)利要求6所述的存儲器的干擾死機的測試方法，其特征在于，所述畫面顯示包括畫面消失、畫面靜止和畫面閃屏。
8.如權(quán)利要求6所述的存儲器的干擾死機的測試方法，其特征在于，所述屏幕變色后的顏色包括綠色、紅色、藍色、白色和灰色。
9.如權(quán)利要求1所述的存儲器的干擾死機的測試方法，其特征在于，所述串口打印提示包括串口打印卡死并無報錯打印，以及串口打印內(nèi)核出錯并拿不到數(shù)據(jù)。
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