[發明專利]一種D-D中子管靶及制備工藝在審
| 申請號: | 201910163321.6 | 申請日: | 2019-03-05 |
| 公開(公告)號: | CN109729637A | 公開(公告)日: | 2019-05-07 |
| 發明(設計)人: | 陸景彬;劉佳溪;許旭;李成乾 | 申請(專利權)人: | 吉林大學 |
| 主分類號: | H05H6/00 | 分類號: | H05H6/00;H05H3/06;C25B1/00;C08F110/02;C08F4/50;C08F4/80;C08J5/18 |
| 代理公司: | 長春市恒譽專利代理事務所(普通合伙) 22212 | 代理人: | 李榮武 |
| 地址: | 130012 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 聚乙烯 制備 乙炔 制備工藝 中子管 制取 氘氣 乙烯 氫化物原子 選擇催化劑 電解重水 聚合反應 蒸發法制 氘氣反應 靶材料 金屬氫 碳化鈣 引發劑 原子比 催化 重水 停留 生產 | ||
本發明涉及一種D?D中子管靶及制備工藝,包括以下步驟:第一,制備氘代乙炔,選用碳化鈣與重水反應制取氘代乙炔,第二,制備氘氣,采取電解重水制取氘氣。第三,制備氘代聚乙烯,選擇催化劑催化氘代乙炔加氘氣反應,使反應停留在生產氘代乙烯的階段。加入引發劑,使氘代乙烯發生聚合反應生產氘代聚乙烯。第四,制備氘代聚乙烯靶膜,用溶液蒸發法制備氘代聚乙烯靶膜。本發明通過選擇合適的中子管靶材料,即氘代聚乙烯靶膜,提高了氫化物原子比,解決了有些金屬氫原子比高但阻止本領高,導致總體中子產額降低。
技術領域
本發明屬于氘靶制備領域,具體涉及一種適用于中子管、中子發生器氘靶的制備。
背景技術
中子管應用廣泛,可用于原子核物理、中子物理、反應堆物理、放射化學和放射醫學等基礎科學研究,中子測量和防護材料的實驗研究,中子輻照生物效應和中子醫療診斷等研究試驗工作。也可直接用于工農業生產,例如中子探礦、中子測井、中子輻照養蟬、反應堆點火,也可開展中子水分測量和活化分析等試驗研究工作。
中子管是一種小型加速器中子源,它把離子源、加速系統、靶、氣壓調節系統密封在一個陶瓷管內,構成一支結構緊湊的電真空器件。中子管的中子產額和壽命受靶性能影響。
中子管實際運行中,很多因素會影響中子產額。在離子束的轟擊下,靶表面逐漸形成氧化物,氧化層隨束流強度變大而更致密,氧化層越厚中子產額越低。離子能量不斷沉積,靶表面發生燒蝕,導致靶升溫釋放氚氣,原子比和中子產額下降;離子源發射的束流中存在雜質離子,損壞靶也會降低中子產額。靶膜在中子管內部用來儲存氘氣氣,它也是發生氘氘核反應的界面,其制作工藝、材料、厚度等因素直接決定中子管產額和壽命。目前吸氫靶膜材料有鈦、鋯、鈧等元素,鈦是迄今為止發現的吸氫密度最高的單質金屬料,用鈦金屬制靶利于靶膜吸附更多氚氣或氘氣,增加氘氘核反應概率,進而提高中子產額,是理想的中子管靶膜材料。單質鈦作中子管薄膜材料不可避免地存在材料性能引起的固有缺陷,如鈦吸氫后塑性、柔韌性及抗拉強度大大下降,出現氫脆現象,甚至在體內產生大量裂紋,影響使用。純鈦靶抗濺射性能不理想,C+、N+、O+等雜質離子降低氫在膜表面的吸附幾率,并影響薄膜體內的氫分布,不易滿足長壽命、高產額的要求。
國內外學者采用在鈦靶膜上鍍保護層,如鈀、鎳、鈦,防止薄膜氧化和雜質離子污染,提高鈦膜吸氫能力。向鈦中摻雜其他金屬,可以改善金屬單質的性能,具有良好的塑性。但也存在一些缺陷,鈀膜的原子質量越大,阻止能力越強,能量損失越大,造成中子產額下降。
發明內容
針對目前現有技術存在的缺陷,本發明提出了一種D-D中子管靶及制備工藝,選擇合適的D-D中子管靶的材料,使靶膜的含氘量增加,增大反應截面,提高中子產額。
為達到上述目的,本發明采用如下技術方案實施:提供一種D-D中子管靶及制備工藝,包括以下步驟:
(1)制備氘代乙炔。
在步驟(1)中,選用碳化鈣與重水反應制取氘代乙炔,實驗裝置使用廣口瓶和分液漏斗。并使用硫酸銅除去雜質,用向下排空氣法收集氘代乙炔。
(2)制備氘氣。
在步驟(2)中,采取電解重水制取氘氣,所用的電解池為石英玻璃制作的,電極為鉑金制作,并用精餾的方法分離提純氘氣。
(3)制備氘代聚乙烯。
在步驟(3)中,選擇催化劑催化氘代乙炔加氘氣反應,使反應停留在生產氘代乙烯的階段,所述催化劑為金屬鈀與銀形成的合金催化劑負載在載體二氧化鈦上。加入引發劑,使氘代乙烯發生聚合反應生產氘代聚乙烯。
(4)制備氘代聚乙烯靶膜。
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