[發明專利]用于投影光柵建模的影像分析系統及方法

有效

• 申請號: 201910162332.2
• 申請日: 2019-03-05
• 公開（公告）號: CN109767490B
• 公開（公告）日: 2023-07-18
• 發明（設計）人: 袁丹壽;孫燕生;黃沛杰
• 申請（專利權）人: 盎銳（上海）信息科技有限公司
• 主分類號: G06T17/00
• 分類號: G06T17/00;G06T5/00
• 代理公司: 上海知義律師事務所 31304
• 代理人: 劉峰

1.一種用于投影光柵建模的影像分析系統，其特征在于，所述影像分析系統包括一影像采集裝置、一投影儀、一投影屏以及一處理器；

所述投影儀工作時，用于向所述投影屏投射一星狀圖；

所述影像采集裝置用于采集所述星狀圖的影像并向所述處理器傳輸影像信號；

所述處理器用于分析所述影像信號并獲取所述影像信號中目標區域的灰度數據；

所述處理器用于對比所述灰度數據與所述星狀圖上的灰度信息，以獲取影像采集裝置在目標區域的曝光信息；

所述處理器用于根據所述曝光信息調節述影像采集裝置的成像信息；

其中，所述處理器還用于從所述星狀圖的影像中心開始螺旋向外依次選取目標區域；

對于每一目標區域，所述處理器用于分析所述影像信號并根據所述目標區域所在位置對應的權重獲取所述影像信號中目標區域的灰度數據；

其中，目標區域所在位置距離所述影像中心的距離越近，目標區域所在位置對應的權重越大。

2.如權利要求1所述的影像分析系統，其特征在于，

對于每一目標區域，所述處理器用于計算灰度點的平均值作為所述曝光信息，所述平均值為所述目標區域內目標灰度點與目標灰度點的權重乘積的集合再除以目標灰度點數量與目標灰度點的權重乘積的集合。

3.如權利要求2所述的影像分析系統，其特征在于，

對于每一目標區域，目標區域的平均值大于第一預設值時標記所述目標區域為過曝區域；目標區域的平均值小于第二預設值時標記所述目標區域為過暗區域。

4.如權利要求1所述的影像分析系統，其特征在于，

所述處理器分別連接所述影像采集裝置以及所述投影儀，所述處理器向所述影像采集裝置及所述投影儀分別發送觸發信號；

所述影像采集裝置包括一攝像鏡頭，所述投影儀包括一投影鏡頭，所述攝像鏡頭的拍攝方向與所述投影鏡頭的投影方向均對準所述投影屏；

所述投影儀工作時，所述投影屏上投影所述星狀圖；

所述影像采集裝置用于向所述處理器傳輸所述星狀圖的影像信號。

5.如權利要求1所述的影像分析系統，其特征在于，所述處理器包括美國德州儀器公司的型號為DLP?LightCrafter?4500的開發板。

6.如權利要求1所述的影像分析系統，其特征在于，所述星狀圖為siemens?star星狀圖。

7.如權利要求6所述的影像分析系統，其特征在于，所述星狀圖為二值圖像，所述二值圖像中任意兩個相鄰的黑色區域的邊界夾角的最小夾角為11.25度。

8.如權利要求1所述的影像分析系統，其特征在于，所述影像分析系統包括一支撐架，所述支撐架包括兩個支撐桿，每一支撐桿的頂部設有一云臺，所述影像采集裝置及所述投影儀分別設于所述云臺上；

所述支撐架還包括一連接所述投影屏的橫向固定桿，所述橫向固定桿與兩個支撐桿垂直，所述橫向固定桿的長度可調節。

9.一種用于投影光柵建模的影像分析方法，其特征在于，所述影像分析方法通過如權利要求1至8中任意一項所述影像分析系統實現。