[發明專利]一種結構面張開度測定裝置及其使用方法

在審

• 申請號: 201910149109.4
• 申請日: 2019-02-28
• 公開（公告）號: CN109780963A
• 公開（公告）日: 2019-05-21
• 發明（設計）人: 王述紅;朱寶強;王鵬宇;王斐笠;賈蓬;于慶磊;孫健
• 申請（專利權）人: 東北大學
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00
• 代理公司: 沈陽東大知識產權代理有限公司 21109
• 代理人: 劉曉嵐

一種結構面張開度測定裝置及其使用方法，屬于巖土工程測量技術領域。所述結構面張開度測定裝置，包括底座支撐板、不銹鋼圓管尺、水平絲桿、千分表和測量定位板，所述底座支撐板水平設置，所述底座支撐板的上方設置有不銹鋼圓管尺，所述不銹鋼圓管尺豎直設置，所述不銹鋼圓管尺上設有水平絲桿，所述水平絲桿上下左右移動，水平絲桿上設有千分表，所述千分表上下移動，所述千分表的測頭下方設有巖石試件的待測結構面，所述巖石試件的待測結構面上方設有測量定位板。所述結構面張開度測定裝置及其使用方法，結構簡單易組裝、操作直觀方便、測量精度高。

技術領域

本發明涉及巖土工程測量技術領域，特別涉及一種結構面張開度測定裝置及其使用方法。

背景技術

天然條件下，巖體中的結構面都具有不同程度的張開度，這些張開的裂隙被空氣、水分、風化物等所填充。結構面的張開度對巖體的強度與穩定性有重要的影響，它也是衡量結構面滲透特性的重要指標。天然狀態下的結構面不僅具有一定的張開度，而且往往具有一定的起伏度和粗糙度，其表面非常的不規則，這使得對結構面張開度的準確測量較為困難，傳統的測量方法一般有測隙規法、印記收集法和熒光染料法，這些方法對結構面張開度的測量都有較大的誤差，不能準確反映出結構面張開度的數值。

發明內容

為了解決現有技術中測量結構面張開度時測定裝置結構復雜、操作困難、誤差較大等技術問題，本發明提供了一種結構面張開度測定裝置及其使用方法，結構簡單易組裝、操作直觀方便、測量精度高。

為了實現上述目的，本發明的技術方案是：

一種結構面張開度測定裝置，包括底座支撐板、不銹鋼圓管尺、水平絲桿、千分表和測量定位板，所述底座支撐板水平設置，所述底座支撐板的上方設置有不銹鋼圓管尺，所述不銹鋼圓管尺豎直設置，所述不銹鋼圓管尺上設有水平絲桿，所述水平絲桿上下左右移動，水平絲桿上設有千分表，所述千分表上下移動，所述千分表的測頭下方設有巖石試件的待測結構面，所述巖石試件的待測結構面上方設有測量定位板。

所述底座支撐板的下方設有水平調節地腳，所述底座支撐板的上方設有圓水準器。

所述不銹鋼圓管尺與水平絲桿通過旋轉夾鉗連接。

所述水平絲桿上設有管水準器。

所述水平絲桿與千分表通過夾持裝置連接。

所述測量定位板設有多排測量孔，相鄰的兩排所述測量孔間隔設置。

所述千分表的量程為30mm。

上述結構面張開度測定裝置的使用方法，包括如下步驟：

步驟一、將不銹鋼圓管尺固定在底座支撐板上，將水平絲桿通過旋轉夾鉗安裝在不銹鋼圓管尺上，將千分表通過夾持裝置安裝在水平絲桿上；

步驟二、調節水平調節地腳，通過圓水準器保證底座支撐板處于水平位置；

步驟三、將巖石試件放置在底座支撐板上，調節旋轉夾鉗和夾持裝置使千分表位于巖石試件的適當位置，通過管水準器保證水平絲桿處于水平位置，記錄此時水平絲桿對應的不銹鋼圓管尺的讀數作為千分表的初始位置，然后將千分表置零；

步驟四、將測量定位板放置在巖石試件的待測結構面上，移動巖石試件，通過千分表得到各點的測量數據，并記錄；

步驟五、重復步驟三和步驟四，得到巖石試件的待測結構面的多組測量數據，通過計算得到巖石試件的結構面張開度。