[發明專利]一種工藝裝備以及一種電子裝置的輻射值的測量方法有效
| 申請號: | 201910147185.1 | 申請日: | 2019-02-27 |
| 公開(公告)號: | CN109921868B | 公開(公告)日: | 2021-04-27 |
| 發明(設計)人: | 李文興 | 申請(專利權)人: | OPPO廣東移動通信有限公司 |
| 主分類號: | H04B17/30 | 分類號: | H04B17/30;G01R31/00 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 唐雙 |
| 地址: | 523860 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 工藝 裝備 以及 電子 裝置 輻射 測量方法 | ||
本申請公開了一種工藝裝備以及一種電子裝置的輻射值的測量方法,該工藝裝備包括:支撐架、升降機構和升降臺,升降機構固定于支撐架上,升降臺固定在升降機構上,支撐架用于放置電子裝置,升降臺用于放置金屬片,支撐架的用于放置電子裝置的平面與升降臺的用于放置金屬片的平面平行,升降機構用于驅動金屬片靠近或者遠離電子裝置。通過上述工藝裝備可以完成對電子裝置的輻射值地精準測量。
技術領域
本申請涉及輻射值的測量的技術領域,特別是涉及一種工藝裝備以及一種電子裝置的輻射值的測量方法。
背景技術
電子裝置與外界設備進行無線通訊主要是通過電子裝置的天線發射和接收電磁波來實現的,而電磁波對人體會造成一定干擾。在本技術領域中,引入輻射值這個概念來評價電子裝置的干擾破壞能力,在電子裝置出廠時,都會對電子裝置的輻射值進行人工手動測量,但是測量的數值不夠精準。
發明內容
本申請采用的一個技術方案是:提供一種工藝裝備,該工藝裝備包括:支撐架、升降機構和升降臺,升降機構固定于支撐架上,升降臺固定在升降機構上,支撐架用于放置電子裝置,升降臺用于放置金屬片,支撐架的用于放置電子裝置的平面與升降臺的用于放置金屬片的平面平行,升降機構用于驅動金屬片靠近或者遠離電子裝置。
本申請采用的另一個技術方案是:提供一種電子裝置的輻射值的測量方法,該測量方法在工藝裝備的輔助下完成,該工藝裝備包括支撐架、升降機構和升降臺,升降機構固定于支撐架上,升降臺固定在升降機構上;該測量方法包括:放置金屬片在升降臺上;放置電子裝置在支撐架上;其中,電子裝置的顯示平面與金屬片平行;使升降機構驅動金屬片靠近電子裝置,并記錄電子裝置的輻射值。
在本申請中,工藝裝備包括有支撐架和升降機構,支撐架和升降機構分別用于放置電子裝置和金屬片,支撐架的用于放置電子裝置的平面與升降臺的用于放置金屬片的平面平行,從而保證了在測量的過程中電子裝置的顯示平面和金屬片始終保持在一個平行的狀態,保證了在任意時刻下,電子裝置的任意一點與金屬片的垂直距離是相等的,進而確保了測量的準確性。
附圖說明
為了更清楚地說明本申請實施例中的技術方案,下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實施例,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是本申請提供的工藝裝備的一實施例的裝配結構示意圖;
圖2是本申請提供的工藝裝備的一實施例的分解結構示意圖;
圖3是本申請提供的工藝裝備的另一實施例的裝配結構示意圖;
圖4是本申請提供的工藝裝備的另一實施例的裝配結構示意圖;
圖5是本申請提供的電子裝置的一實施例的結構示意圖;
圖6是本申請提供的工藝裝備在一狀態下的另一實施例的分解示意圖;
圖7是本申請提供的工藝裝備在另一狀態下的另一實施例的分解示意圖;
圖8是本申請提供的工藝裝備的另一實施例的分解示意圖;
圖9是本申請提供的測量方法的一實施例的流程示意圖。
具體實施方式
下面將結合本申請實施例中的附圖,對本申請實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述。可以理解的是,此處所描述的具體實施例僅用于解釋本申請,而非對本申請的限定。另外還需要說明的是,為了便于描述,附圖中僅示出了與本申請相關的部分而非全部結構。基于本申請中的實施例,本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例,都屬于本申請保護的范圍。
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