[發(fā)明專利]并發(fā)性檢測電路、光子檢測器、脈沖式TOF傳感器以及其實(shí)現(xiàn)方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910147117.5 | 申請日: | 2019-02-27 |
| 公開(公告)號: | CN109799496A | 公開(公告)日: | 2019-05-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 徐淵;潘安;王育斌;黃志宇;陳享 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市光微科技有限公司 |
| 主分類號: | G01S11/12 | 分類號: | G01S11/12;G01J1/44 |
| 代理公司: | 深圳快馬專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44362 | 代理人: | 趙亮;劉朗星 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 單光子雪崩二極管 檢測電路 并發(fā)性 輸出檢測信號 觸發(fā)信號 單光子 光子檢測器 宏像素 脈沖式 傳感器 輸出 飛行時間測量 錯誤觸發(fā) 雪崩信號 低電平 高電平 環(huán)境光 誤觸發(fā) 有效地 光子 淬滅 高電 申請 電路 | ||
本申請?zhí)峁┮环N用于單光子雪崩二極管宏像素的并發(fā)性檢測電路、光子檢測器、脈沖式TOF傳感器以及其實(shí)現(xiàn)方法,單光子雪崩二極管宏像素包括至少一組單光子單元,每組單光子單元包括八個單光子雪崩二極管,每個單光子雪崩二極管連接一淬滅電路后輸出觸發(fā)信號,并發(fā)性檢測電路接收觸發(fā)信號并輸出檢測信號,其中,當(dāng)每組單光子單元中有至少三個單光子雪崩二極管輸出觸發(fā)信號為高電平時,則對應(yīng)的并發(fā)性檢測電路輸出檢測信號為高電平,否則,并發(fā)性檢測電路輸出輸出檢測信號為低電平。本申請能夠有效地避免了單個單光子雪崩二極管被環(huán)境光中的光子“誤觸發(fā)”的錯誤觸發(fā)信號和雪崩信號產(chǎn)生的干擾,有效提高了飛行時間測量的準(zhǔn)確性。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及圖像領(lǐng)域,尤其涉及用于單光子雪崩二極管宏像素的并發(fā)性檢測電路、光子檢測器、脈沖式TOF傳感器以及其實(shí)現(xiàn)方法。
背景技術(shù)
飛行時間測量法(TOF)是一種有效地獲取待測物體的深度信息的方法。對于測量光的飛行時間,現(xiàn)在至少有兩種方法可以實(shí)現(xiàn),分別是直接式TOF測距法(D-TOF)和間接式TOF測距法(I-TOF)。對于D-TOF測距法,需要測量與光源同步的起始脈沖和當(dāng)傳感器接收到光信號后產(chǎn)生的停止脈沖之間的時間差,因此D-TOF測距法也叫脈沖式TOF測距法。對于I-TOF測距法,需要測量發(fā)射的并且經(jīng)過調(diào)制的正弦信號與接收到的光信號之間的相位差,然后利用相位差根據(jù)公式計算出時間差,因此I-TOF測距法也叫相位式TOF測距法。相位式TOF測距法的優(yōu)勢是測量精度非常高,但是相位信號容易受到多周期的回波串?dāng)_,因此測量距離有限,適合近距離測距。脈沖式TOF測距法與相位式TOF測距法相比,測量的速度很快,因此不容易受到目標(biāo)運(yùn)動的影響,此外該方法抵抗環(huán)境光的能力非常強(qiáng),可以對中遠(yuǎn)程距離的目標(biāo)進(jìn)行高精度的測距,因此在汽車無人駕駛方面展示出非常好的前景。
脈沖式TOF測距技術(shù)一般使用紅外,近紅外以及中紅外作為激光光源,在測得激光脈沖在待測目標(biāo)與測距系統(tǒng)之間的往返的飛行時間后,可通過光速與飛行時間求得系統(tǒng)與目標(biāo)之間的距離。
脈沖式TOF傳感器使用單光子雪崩二極管(Single Photon Avalanche Diode,SPAD)作為光子檢測器。當(dāng)反偏電壓大于雪崩電壓時,即在蓋革模式下,單光子雪崩二極管吸收光子會產(chǎn)生電子-空穴對,在高反偏電壓產(chǎn)生的強(qiáng)電場作用下電子-空穴對被加速,從而獲得足夠的能量,然后與晶格發(fā)生碰撞,形成連鎖效應(yīng),形成大量的電子空穴對,產(chǎn)生雪崩現(xiàn)象,單個光子即可使雪崩光電二極管達(dá)到飽和光電流。
光子探測效率對于SPAD來說是一個非常關(guān)鍵的指標(biāo),當(dāng)SPAD進(jìn)行光子探測的時候,并不是所有入射光子都能探測到,因此我們把SPAD探測到的光子的數(shù)量與所有光子數(shù)量之間的比值稱為光子探測效率,這個指標(biāo)是用于衡量SPAD探測光的能力。隨著SPAD兩端的反偏電壓的上升,光子探測效率會隨之上升,但是與此同時,暗計數(shù)也會增加,隨著暗計數(shù)的增加速度變快,光子探測效率會慢慢下降,因此在這個過程中光子探測效率會有一個極值。
由于單個光子的能力就足以使單光子雪崩二極管發(fā)生雪崩擊穿,所以單光子雪崩二極管極易受到外界環(huán)境光和自身暗計數(shù)的干擾而產(chǎn)生自行擊穿,從而產(chǎn)生錯誤的觸發(fā)信號,嚴(yán)重影響脈沖式TOF傳感器測量深度的準(zhǔn)確性。
發(fā)明內(nèi)容
本申請?zhí)峁┮环N用于單光子雪崩二極管宏像素的并發(fā)性檢測電路、光子檢測器、脈沖式TOF傳感器以及其實(shí)現(xiàn)方法,能夠在解決現(xiàn)在脈沖式TOF傳感器使用單光子雪崩二極管作為光子檢測器時因?yàn)槿菀资艿酵饨绛h(huán)境光和自身暗計數(shù)干擾而影響脈沖式TOF傳感器測量準(zhǔn)確性的問題。
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