[發明專利]一種頻率測量方法、系統、裝置及計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 201910141467.0
• 申請日: 2019-02-26
• 公開（公告）號: CN109633266B
• 公開（公告）日: 2020-12-01
• 發明（設計）人: 李鍵;周強;張太勤;劉強;鄧澤東
• 申請（專利權）人: 重慶新世杰電氣股份有限公司
• 主分類號: G01R23/10
• 分類號: G01R23/10
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

1.一種頻率測量方法，其特征在于，包括：

根據預設采樣頻率對被測信號進行采樣得到采樣值，并根據所述采樣值計算得到所述被測信號在工頻整周期采樣點數下的預估頻率；

根據所述預估頻率確定實際整周期采樣點數的范圍；

分別計算所述范圍內各整周期采樣點數對應的各段所述采樣值的和值；

選取最接近于零值的所述和值對應的所述整周期采樣點數作為所述實際整周期采樣點數，并根據所述采樣值計算得到所述實際整周期采樣點數下所述被測信號的測量頻率；

所述根據所述采樣值計算得到所述被測信號在工頻整周期采樣點數下的預估頻率，包括：

根據當前工頻周期下的所述工頻整周期采樣點數個所述采樣值，通過DFT算法得到基波向量的相角；

根據得到所述預估頻率；

其中，f_p為所述預估頻率，為所述當前工頻周期下的基波向量的相角，為先前工頻周期下的基波向量的相角，N為所述工頻整周期采樣點數，F_S為所述預設采樣頻率，50為電網工頻，單位為Hz；

所述根據所述預估頻率確定實際整周期采樣點數的范圍，包括：

根據確定所述實際整周期采樣點數的范圍；

其中，N_min為所述實際整周期采樣點數的下限，N_max為所述實際整周期采樣點數的上限，Floor為向下取整，Ceil為向上取整，F_S為所述預設采樣頻率，f_p為所述預估頻率，K_rel為所述預估頻率與所述被測信號的實際頻率之間的最大偏差的絕對值。

2.根據權利要求1所述的頻率測量方法，其特征在于，所述根據所述采樣值計算得到所述實際整周期采樣點數下所述被測信號的測量頻率前還包括：

根據預設時間窗求取各所述實際整周期采樣點數的均值，得到均值實際整周期采樣點數；

對應的，所述根據所述采樣值計算得到所述實際整周期采樣點數下所述被測信號的測量頻率，包括：

根據所述采樣值計算得到所述均值實際整周期采樣點數下所述被測信號的測量頻率。

3.一種頻率測量系統，其特征在于，包括：

采樣模塊，用于根據預設采樣頻率對被測信號進行采樣得到采樣值，并根據所述采樣值計算得到所述被測信號在工頻整周期采樣點數下的預估頻率；

確定模塊，用于根據所述預估頻率確定實際整周期采樣點數的范圍；

和值計算模塊，用于分別計算所述范圍內各整周期采樣點數對應的各段采樣值的和值；

選取模塊，用于選取最接近于零值的所述和值對應的所述整周期采樣點數作為所述實際整周期采樣點數；

頻率計算模塊，用于根據所述采樣值計算得到所述實際整周期采樣點數下所述被測信號的測量頻率；

所述采樣模塊包括：

第一計算單元，用于根據當前工頻周期下的所述工頻整周期采樣點數個所述采樣值，通過DFT算法得到基波向量的相角；

第二計算單元，用于根據得到所述預估頻率；

其中，f_p為所述預估頻率，為所述當前工頻周期下的基波向量的相角，為先前工頻周期下的基波向量的相角，N為所述工頻整周期采樣點數，F_S為所述預設采樣頻率，50為電網工頻，單位為Hz；

所述確定模塊具體用于：

根據確定所述實際整周期采樣點數的范圍；

其中，N_min為所述實際整周期采樣點數的下限，N_max為所述實際整周期采樣點數的上限，Floor為向下取整，Ceil為向上取整，F_S為所述預設采樣頻率，f_p為所述預估頻率，K_rel為所述預估頻率與所述被測信號的實際頻率之間的最大偏差的絕對值。

4.根據權利要求3所述的頻率測量系統，其特征在于，還包括：

均值計算模塊，用于根據預設時間窗求取各所述實際整周期采樣點數的均值，得到均值實際整周期采樣點數；

對應的，所述頻率計算模塊具體用于：

根據所述采樣值計算得到所述均值實際整周期采樣點數下所述被測信號的測量頻率。