[發明專利]一種多物理場LED老化測試裝置及方法

在審

• 申請號: 201910140689.0
• 申請日: 2019-02-26
• 公開（公告）號: CN109669116A
• 公開（公告）日: 2019-04-23
• 發明（設計）人: 劉杰;樊嘉杰;王平;吳偉子
• 申請（專利權）人: 河海大學常州校區
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01M7/02;G01M11/02;G01M11/08
• 代理公司: 南京縱橫知識產權代理有限公司 32224
• 代理人: 董建林

1.一種多物理場LED老化測試裝置，其特征在于：包括老化模塊、測試模塊和滑動裝置；所述老化模塊包括高溫老化箱（1）、振動裝置（5）、電路板裝置（7），所述振動裝置（5）包括振動器（51）和支撐柱（52），所述電路板裝置（7）包括電路板支撐板（71）以及電路板（72），所述電路板（72）上均勻分布若干LED芯片；所述電路板支撐板（71）下方通過伸縮機構（12）連接固定支撐板（11），所述固定支撐板（11）與振動裝置的支撐柱（52）固定連接；所述振動裝置（5）與電路板裝置（7）置于高溫老化箱（1）內；所述老化模塊還包括電源（6），電源（6）與LED芯片電連接；

所述測試模塊包括紅外熱信號采集模塊（2）、積分球光信號采集模塊（3）、數據處理模塊（4），所述數據處理模塊（4）包括PC機、以及分別與PC機連接的電信號巡檢儀、溫度巡檢儀、光譜巡檢儀；所述紅外熱信號采集模塊（2）設置在第一常溫密封箱內，包括紅外熱成像儀（21），所述紅外熱成像儀（21）通過線路與溫度巡檢儀相連；所述積分球光信號采集模塊（3）設置在第二常溫密封箱內，包括活塞移動機構（31）和積分球（32），所述活塞移動機構（31）固定在第二常溫密封箱頂部，所述積分球（32）固定在活塞移動機構（31）的下端部，所述積分球（32）通過線路與光譜巡檢儀相連；所述電信號巡檢儀通過線路與電路板（72）上的LED芯片相連；

所述滑動裝置（8）包括滑塊（82）、滑軌（81），滑塊（82）上固定有夾具（9），所述滑軌（81）貫穿高溫老化箱（1）、紅外熱信號采集模塊（2）及積分球光信號采集模塊（3）。

2.根據權利要求1所述的一種多物理場LED老化測試裝置，其特征在于：所述固定支撐板（11）周圍設有四個定位支柱，所述電路板支撐板（71）周圍對應設有四個定位孔。

3.根據權利要求1所述的一種多物理場LED老化測試裝置，其特征在于：所述滑軌（81）設有兩條，軌道槽相對設置；每條滑軌（81）的軌道槽內嵌套設置有滑塊（82），所述滑塊（82）可沿著滑軌（81）滑動，每個滑塊（82）固定連接一夾具（9）。

4.根據權利要求1或3所述的一種多物理場LED老化測試裝置，其特征在于：所述夾具（9）具有U型夾頭。

5.根據權利要求1所述的一種多物理場LED老化測試裝置，其特征在于：所述電源（6）為恒流源，對LED芯片進行供電老化。

6.根據權利要求1所述的一種多物理場LED老化測試裝置，其特征在于：所述高溫老化箱（1）下方設置支座（10），用以支撐高溫老化箱（1）。

7.根據權利要求1所述的一種多物理場LED老化測試裝置，其特征在于：所述高溫老化箱（1）右側設有可供滑動裝置（8）及電路板支撐板（71）通過的缺口。