[發(fā)明專利]雙晶直探頭判斷扁平金屬板材中夾雜物群缺陷的方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910138529.2 | 申請日： | 2019-02-25 |
| 公開（公告）號： | CN109781856A | 公開（公告）日： | 2019-05-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 岳土民;陳建超;王智聰;盧鳳飛;劉明生 | 申請（專利權(quán)）人： | 河北普陽鋼鐵有限公司 |
| 主分類號： | G01N29/04 | 分類號： | G01N29/04 |
| 代理公司： | 石家莊眾志華清知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(特殊普通合伙) 13123 | 代理人： | 張建 |
| 地址： | 056305*** | 國省代碼： | 河北;13 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 缺陷波 夾雜物群 雙晶直探頭 扁平金屬 波峰 波高 底面 回波 超聲波檢測技術(shù) 超聲波探傷儀 圖像 超聲波探傷 機械工程 內(nèi)部缺陷 缺陷位置 選擇安裝 板厚 簇狀 聲程 顯示屏 判定 垂直 觀察 能源 | ||
1.雙晶直探頭判斷扁平金屬板材中夾雜物群缺陷的方法，其特征在于：
選擇安裝5Pφ20F10的雙晶直探頭超聲波探傷儀對扁平金屬板材進行探傷，找到缺陷位置后，觀察超聲波探傷儀的顯示屏的圖像，圖像滿足以下條件時，可判定該處缺陷為夾雜物群：
缺陷波F與第一次底面回波B1同時存在，缺陷波F的波高不高于第一次底面回波B1的波高；缺陷波F位于板厚1/4處或3/4處；缺陷波F的波形為簇狀，缺陷波F在儀器垂直聲程上有多個波峰且波峰參差不齊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙晶直探頭判斷扁平金屬板材中夾雜物群缺陷的方法，其特征在于：扁平金屬板材厚度不小于6mm， 超聲波探傷儀選用A型脈沖反射式超聲波探傷儀。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙晶直探頭判斷扁平金屬板材中夾雜物群缺陷的方法，其特征在于：選用檢定周期內(nèi)的探傷儀進行調(diào)校儀器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙晶直探頭判斷扁平金屬板材中夾雜物群缺陷的方法，其特征在于：判斷缺陷時將與顯示屏尺寸相配合的校對透明板貼合在顯示屏上判斷是否滿足夾雜物群缺陷的所有條件，校對透明板包括透明板面（1），透明板面（1）上設(shè)置有標(biāo)明尺寸的橫縱向不透明的尺寸線和對照波形。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的雙晶直探頭判斷扁平金屬板材中夾雜物群缺陷的方法，其特征在于：所述透明板面（1）上繪制有不透明的第一次底面回波B1對照波形（5）、對照標(biāo)線（7）和缺陷波F示意波形（6），對照標(biāo)線（7）設(shè)置有兩條，缺陷波F示意波形對照標(biāo)線（7）位于第一次底面回波B1對照波形（5）與透明板面（1）側(cè)邊間距的1/4處和3/4的位置；缺陷波F示意波形（6）位于透明板面（1）的下底邊，缺陷波F示意波形（6）的波高低于第一次底面回波B1對照波形（5）的波高，缺陷波F示意波形（6）的波形為簇狀，缺陷波F示意波形（6）設(shè)置有兩簇，每一簇缺陷波F示意波形（6）均是以對照標(biāo)線（7）為對稱軸左右對稱的圖形，缺陷波F示意波形（6）在透明板面（1）上有多個波峰且波峰參差不齊。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的雙晶直探頭判斷扁平金屬板材中夾雜物群缺陷的方法，其特征在于：所述校對透明板還包括將透明板面（1）嵌套在內(nèi)部的邊框（2）、設(shè)置在邊框（2）兩側(cè)的把手（3）以及固定連接在邊框（2）上邊緣的與顯示屏上邊緣相配合的按壓在顯示器上表面的搭鉤（4）。
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