[發(fā)明專利]一種智能繼電保護(hù)裝置過程層異常自動(dòng)測試系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910136366.4
• 申請日: 2019-02-25
• 公開（公告）號(hào): CN109856532A
• 公開（公告）日: 2019-06-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 賀春;陳新美;趙華云;孫迅雷;鄭蓬;劉洛陽;李衛(wèi)東;張又珺;劉園偉;王俊輝;任春梅;銀慶偉;范艷峰;李嘉;原曉磊
• 申請（專利權(quán)）人: 許昌開普檢測研究院股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/327
• 分類號(hào): G01R31/327
• 代理公司: 北京科億知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11350
• 代理人: 趙蕊紅

1.一種智能繼電保護(hù)裝置過程層異常自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于：

設(shè)置有上位機(jī)、工控機(jī)和過程層網(wǎng)絡(luò)；

所述上位機(jī)分別與工控機(jī)、被測裝置信號(hào)連接，所述過程層網(wǎng)絡(luò)分別與所述工控機(jī)、被測裝置連接；

所述上位機(jī)將測試命令發(fā)送至所述工控機(jī)；所述工控機(jī)根據(jù)測試命令計(jì)算需要輸送至被測裝置的測試數(shù)據(jù)以及需要采集的信息形成第二命令，所述工控機(jī)根據(jù)第二命令通過過程層網(wǎng)絡(luò)發(fā)送測試數(shù)據(jù)并采集被測裝置接收到測試數(shù)據(jù)后相應(yīng)的動(dòng)作信息，所述工控機(jī)將所述動(dòng)作信息發(fā)送至所述上位機(jī)，被測裝置根據(jù)測試數(shù)據(jù)將測試信息反饋至所述上位機(jī)；所述上位機(jī)分別將被測裝置反饋的信息以及工控機(jī)反饋的動(dòng)作信息進(jìn)行解析，并進(jìn)行對比判斷。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能繼電保護(hù)裝置過程層異常自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于：

所述上位機(jī)設(shè)置有命令組件、文件解析組件以及對比組件；所述命令組件分別與所述文件解析組件、所述對比組件以及所述工控機(jī)信號(hào)連接；

所述文件解析組件分別與所述工控機(jī)、所述被測裝置、所述對比組件信號(hào)連接；

所述命令組件發(fā)布測試命令于所述工控機(jī)，所述工控機(jī)根據(jù)所述測試命令將測試數(shù)據(jù)發(fā)送到被測裝置，所述被測裝置根據(jù)所述測試數(shù)據(jù)將對應(yīng)的信息發(fā)送至所述文件解析組件，所述工控機(jī)同時(shí)收集被測裝置接收到測試數(shù)據(jù)后的動(dòng)作信息并發(fā)送至所述文件解析組件，所述文件解析組件分別將接收到的所述被測裝置反饋的信息、所述工控機(jī)反饋的動(dòng)作信息進(jìn)行解析，并將解析后的動(dòng)作信息發(fā)送至所述對比組件，所述對比組件通過與所述測試命令進(jìn)行對比判斷。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的智能繼電保護(hù)裝置過程層異常自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于：

所述工控機(jī)設(shè)置有CPU處理組件以及FPGA組件；

所述CPU處理組件分別與所述命令組件、所述FPGA組件以及所述文件解析組件連接，所述FPGA組件與所述過程層網(wǎng)絡(luò)連接；

所述CPU處理組件根據(jù)所述命令組件的測試命令計(jì)算出需要輸送至被測裝置的數(shù)據(jù)信息以及需要采集的信息并形成所述第二命令，所述CPU處理組件將所述第二命令發(fā)送至所述FPGA組件，所述FPGA組件根據(jù)所述第二命令通過所述過程層網(wǎng)絡(luò)發(fā)送對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)至被測裝置并采集被測裝置接收到測試數(shù)據(jù)后相應(yīng)的動(dòng)作信息，所述FPGA組件將采集到的動(dòng)作信息發(fā)送至所述CPU處理組件，所述CPU處理組件將所述動(dòng)作信息發(fā)送至所述文件解析組件。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的智能繼電保護(hù)裝置過程層異常自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于：

所述上位機(jī)還設(shè)置有后臺(tái)仿真模型，所述后臺(tái)仿真模型分別與所述命令組件、所述文件解析組件、所述對比組件以及所述CPU處理組件連接；所述后臺(tái)仿真模型通過收集記錄所述命令組件的測試命令、所述文件解析組件的解析信息、所述對比組件的對比結(jié)果以及所述CPU處理組件輸出的動(dòng)作信息，并形成映射模型。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的智能繼電保護(hù)裝置過程層異常自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于：

所述上位機(jī)通過MMS網(wǎng)絡(luò)與所述被測裝置連接。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的智能繼電保護(hù)裝置過程層異常自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于：

所述過程層網(wǎng)絡(luò)設(shè)置有SV網(wǎng)絡(luò)以及GOOSE網(wǎng)絡(luò)；所述SV網(wǎng)絡(luò)以及所述GOOSE網(wǎng)絡(luò)分別與所述FPGA組件連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的智能繼電保護(hù)裝置過程層異常自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于：

所述工控機(jī)還設(shè)置有SV接口以及GOOSE接口，所述SV接口分別與所述SV網(wǎng)絡(luò)以及所述FPGA組件連接，所述GOOSE接口分別與所述GOOSE網(wǎng)絡(luò)以及所述FPGA組件連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的智能繼電保護(hù)裝置過程層異常自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于：

所述上位機(jī)還設(shè)置有第一連接接口以及第二連接接口；

所述第一連接接口分別與所述命令組件、所述被測裝置、所述文件解析組件信號(hào)連接；

所述第二連接接口分別與所述命令組件、所述對比組件、所述CPU處理組件以及所述后臺(tái)仿真模型信號(hào)連接。