[發明專利]一種通過故障測試區分死機問題的方法

有效

• 申請號: 201910132802.0
• 申請日: 2019-02-21
• 公開（公告）號: CN109874008B
• 公開（公告）日: 2020-10-09
• 發明（設計）人: 黃敏君;張坤
• 申請（專利權）人: 晶晨半導體（上海）股份有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00;H04N21/4425
• 代理公司: 上海申新律師事務所 31272
• 代理人: 俞滌炯

本發明涉及智能電視技術領域，尤其涉及一種通過故障測試區分死機問題的方法，其中包括：步驟S1、對片上系統進行復數種不同類型的故障測試，以獲得片上系統對應不同類型的故障類型的復數個反應情況，對復數個反應情況進行匯總，并與對應的故障類型一同存儲至一存儲單元中；步驟S2、根據待測片上系統的對應的反應信息，與存儲單元中存儲的反應情況進行匹配，以獲得待測片上系統當前的故障類型。有益效果在于：根據待測片上系統的對應的反應信息，與存儲單元中存儲的反應情況進行匹配，以獲得待測片上系統當前的故障類型，這樣通過排除法能夠快速定位問題或縮小問題的范圍，為排除問題提供很好的例證。

技術領域

本發明涉及智能電視技術領域，尤其涉及一種通過故障測試區分死機問題的方法。

背景技術

目前，智能電視的系統功能越來越多，CPU(Central Processing Unit，中央處理器)的主頻也越來越高，對外圍電源的穩定性要求也會越來越高。為了保證產品的穩定性以及考量產品的壽命，需要在研發階段進行大量的壓力測試，包括高低溫測試(45度-15度)，或交流開關機測試，或遙控開關機測試。這些測試的特點均是樣品數量多，測試周期長，當在測試過程中出現一些隨機的漏洞時，問題排查與驗證都需要花費很長時間，對整個測試進度產生較大的影響，甚至會影響整個產品的開發進度。

現有技術中的解決方案為，在軟件架構開發過程中，加入盡量多的調試節點，期望把整個系統的運行狀態記錄下來，如果在老化過程中出現異常，打印出來的錯誤日志將會成為最珍貴的分析資料，但是由于片上系統的驅動有較為獨立的標志，當某個模塊在測試過程中出現異常，錯誤日志就能指向相關的模塊，如EMMC(EmbeddedMultimedia Card，內嵌式存儲器)，DDR(Double Data Rate，雙倍速率同步動態隨機存儲器)，TUNER(收音機協調器)等相關的模塊的錯誤，能很明顯從錯誤日志中得到信息，但錯誤日志輸出的前提是片上系統運行正常，如果片上系統出錯，無法輸出任何信息，在這種情況下，就無法通過錯誤信息去分析問題。而這種涉及到系統深度異常，是老化實驗中最棘手及最耗時間的問題。

發明內容

針對現有技術中存在的上述問題，現提供一種通過故障測試區分死機問題的方法。

具體技術方案如下：

一種通過故障測試區分死機問題的方法，用于智能電視，其中包括：

步驟S1、對片上系統進行復數種不同類型的故障測試，以獲得所述片上系統對應不同類型的故障類型的復數個反應情況，對復數個所述反應情況進行匯總，并與對應的故障類型一同存儲至一存儲單元中；

步驟S2、根據待測片上系統的對應的反應信息，與所述存儲單元中存儲的所述反應情況進行匹配，以獲得所述待測片上系統當前的故障類型。

優選的，于所述步驟S1中，對所述片上系統的每一所述反應情況獲取對應的反應信息，所述反應信息包括畫面顯示與對應生成的錯誤日志。

優選的，所述片上系統包括電源模塊；和/或存儲器模塊；和/或收音調諧器模塊。

優選的，于所述步驟S1中，對所述電源模塊的故障測試包括固定引腳短路測試；和/或晶振輸出短路測試。

優選的，于所述步驟S1中，對所述存儲器模塊的故障測試包括存儲器時鐘數據短路測試；和/或存儲器數據線路短路測試。

優選的，于所述步驟S1中，于所述步驟S1中，對所述收音調諧器模塊的故障測試包括正相電源輸入引腳與負相電源輸入引腳的短路測試；和/或低壓差分信號的正相時鐘信號引腳與低壓差分信號的負相時鐘信號引腳的短路測試；和/或高清晰度多媒體接口的正相時鐘信號引腳與高清晰度多媒體接口的負相時鐘信號引腳的短路測試。

優選的，所述固定引腳短路測試包括存儲器短路測試。

優選的，所述固定引腳短路測試包括圖形處理器短路測試。