[發明專利]一種分析致密砂巖孔隙結構狀態的方法

在審

• 申請號: 201910131372.0
• 申請日: 2019-02-22
• 公開（公告）號: CN109884731A
• 公開（公告）日: 2019-06-14
• 發明（設計）人: 張克滿
• 申請（專利權）人: 遼寧工程技術大學
• 主分類號: G01V11/00
• 分類號: G01V11/00
• 代理公司: 濟南泉城專利商標事務所 37218
• 代理人: 張貴賓

1.一種分析致密砂巖孔隙結構狀態的方法，其特征在于：包括以不同孔隙結構在測井響應特征上的差異為基礎，利用測井曲線分析致密砂巖孔隙結構狀態。

2.根據權利要求1所述的分析致密砂巖孔隙結構狀態的方法，其特征是：利用測井曲線分析致密砂巖孔隙結構狀態，其中：獲取目的層段的自然伽馬曲線以及聲波密度曲線重疊差；分析所述自然伽馬曲線以及所述聲波密度曲線重疊差以判斷巖石孔隙結構情況。

3.根據權利要求2所述的分析致密砂巖孔隙結構狀態的方法，其特征是：分析目的層段自然伽馬曲線以及聲波密度曲線重疊差判斷巖石孔隙結構情況，其中，在不同的目的層段中：自然伽馬值相對較低、聲波密度曲線重疊差相對較大的目地層段具有相對較好的孔隙結構；自然伽馬值相對較高，聲波密度曲線重疊差相對較小的目地層段具有相對較差孔隙結構。

4.根據權利要求3所述的分析致密砂巖孔隙結構狀態的方法，其特征是：在不同的目的層段中：所述聲波密度曲線重疊差相對較大體現為密度曲線在聲波時差曲線左邊且離聲波時差曲線相對較遠；所述聲波密度曲線重疊差相對較小體現為聲波時差曲線與密度曲線接近重合或密度曲線在聲波時差曲線右邊。

5.根據權利要求2-4中任一項所述分析致密砂巖孔隙結構狀態的方法，其特征是：獲取目的層段的聲波密度曲線重疊差，其中：確定鈣質夾層；設置聲波時差曲線與密度曲線的左右刻度，使得兩者左右刻度代表的孔隙度差相等；使兩條曲線在所述鈣質夾層處重疊以獲取所述聲波密度曲線重疊差。

6.根據權利要求5所述的分析致密砂巖孔隙結構狀態的方法，其特征在于，設置聲波時差曲線與密度曲線的左右刻度，使得兩者左右刻度代表的孔隙度差相等，其中，所述聲波時差曲線與所述密度曲線的左右刻度滿足下式：

式中，ACL、ACR為分別聲波時差曲線左、右刻度，ACM、ACF分別為巖石骨架、地層流體聲波時差值，DENL、DENR為分別密度曲線左、右刻度，DENM、DENF分別為巖石骨架、地層流體密度值。

7.根據權利要求5所述的分析致密砂巖孔隙結構狀態的方法，其特征在于，依據測井曲線特征確定所述鈣質夾層。

8.根據權利要求7所述的分析致密砂巖孔隙結構狀態的方法，其特征在于，依據測井曲線特征確定所述鈣質夾層，相較于其它層段，所述鈣質夾層滿足以下特征：伽馬值相對較低；中子、聲波時差值相對較小；密度值相對較大；淺探測電阻率相對較大。