[發(fā)明專利]一種光斑外形尺寸和位置的精確測(cè)試方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910111186.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-02-12 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110097533B | 公開(公告)日: | 2023-04-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 康為民 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 哈爾濱新光光電科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06T7/13 |
| 代理公司: | 哈爾濱龍科專利代理有限公司 23206 | 代理人: | 高媛 |
| 地址: | 150000 黑龍江省*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光斑 外形尺寸 位置 精確 測(cè)試 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種光斑外形尺寸和位置的精確測(cè)試方法,其特征在于在不顯著增加運(yùn)算量的基礎(chǔ)上,實(shí)現(xiàn)對(duì)光斑的識(shí)別和精確測(cè)量,具體測(cè)量方法為:首先,對(duì)采集到的單幅圖像進(jìn)行亞像元分析,獲得光斑的邊緣信息,然后運(yùn)用橢圓算法對(duì)邊緣信息進(jìn)行擬合處理,獲得精確的光斑外形尺寸,最后利用質(zhì)心算法計(jì)算得到光斑中心位置;本發(fā)明解決了傳統(tǒng)光斑位置測(cè)試過程中運(yùn)算時(shí)間長、精度低的問題,具有方法原理簡(jiǎn)單,運(yùn)算速度快的特點(diǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于目標(biāo)識(shí)別領(lǐng)域,具體涉及一種光斑尺寸和位置的精確測(cè)試方法。
背景技術(shù)
光斑位置的精確測(cè)試對(duì)于激光系統(tǒng)是否能有效作用于目標(biāo)具有重要意義。本發(fā)明提出的光斑尺寸和位置的同步精確測(cè)試方法在很多方面都可應(yīng)用,如自動(dòng)調(diào)焦、激光自動(dòng)焊接、激光武器等。目前光斑位置的精確測(cè)試有多種測(cè)試方法,其原理和特點(diǎn)都各不相同,其缺點(diǎn)在只能通過提高采樣率提高精度,即通過延長計(jì)算時(shí)間來提高精度,極大降低了系統(tǒng)的可靠性。本發(fā)明公開了一種光斑外形尺寸和位置的精確測(cè)試方法,具有原理簡(jiǎn)單、運(yùn)算速度快的特點(diǎn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明解決了傳統(tǒng)光斑位置測(cè)試過程中運(yùn)算時(shí)間長、精度低的問題,提供了一種高速光斑尺寸和位置同步精確測(cè)試方法:采用圖像分割法減少分析數(shù)據(jù)量;采用爬蟲法和橢圓擬合法快速識(shí)別光斑,獲取光斑尺寸;采用質(zhì)心法精確獲取光斑中心位置。解決了光斑尺寸和位置測(cè)量中精度和運(yùn)算量之間的矛盾。
本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:
一種光斑外形尺寸和位置的精確測(cè)試方法,其特征在于在不顯著增加運(yùn)算量的基礎(chǔ)上識(shí)別、測(cè)量光斑。
所述的光斑位置的精確測(cè)試方法具體為:
第一步,在圖像中利用光斑與背景灰度的閾值找到疑似光斑邊緣像素,并依據(jù)亞像元分析對(duì)邊緣像素進(jìn)行處理,獲得精確的邊緣信息;
第二步,根據(jù)此邊緣內(nèi)包含的像素點(diǎn)數(shù)量,判斷光斑是否存在;若像素?cái)?shù)量小于光斑最小尺寸像素?cái)?shù),則判斷光斑不存在,若像素?cái)?shù)量大于光斑最小尺寸像素?cái)?shù),則判斷光斑存在;
第三步,若光斑存在,利用橢圓算法對(duì)光斑邊緣進(jìn)行擬合,得到準(zhǔn)確的光斑形狀和尺寸信息;
第四步,根據(jù)光斑邊緣內(nèi)包含的像素灰度值,運(yùn)用質(zhì)心算法計(jì)算得到光斑中心的準(zhǔn)確位置。
本發(fā)明的有益效果是:
1.采用單幅圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理降低分析數(shù)據(jù)量,提高了運(yùn)算效率;
2.采用橢圓擬合法快速識(shí)別光斑、獲取光斑尺寸;
3.采用質(zhì)心法獲取光斑中心的精確位置。
附圖說明
圖1為一種光斑外形尺寸和位置的精確測(cè)試方法流程圖。
具體實(shí)施方式
一種光斑外形尺寸和位置的精確測(cè)試方法,其特征在于在不顯著增加運(yùn)算量的基礎(chǔ)上識(shí)別、測(cè)量光斑。
如圖1所示,所述的光斑位置的精確測(cè)試方法具體為:
第一步,在圖像中利用光斑與背景灰度的閾值找到疑似光斑邊緣像素,并依據(jù)亞像元分析對(duì)邊緣像素進(jìn)行處理,獲得精確的邊緣信息。
第二步,根據(jù)此邊緣內(nèi)包含的像素點(diǎn)數(shù)量,判斷光斑是否存在;若像素?cái)?shù)量小于光斑最小尺寸像素?cái)?shù),則判斷光斑不存在,若像素?cái)?shù)量大于光斑最小尺寸像素?cái)?shù),則判斷光斑存在。
第三步,若光斑存在,利用橢圓算法對(duì)光斑邊緣進(jìn)行擬合,得到準(zhǔn)確的光斑形狀和尺寸信息。
第四步,根據(jù)光斑邊緣內(nèi)包含的像素灰度值,運(yùn)用質(zhì)心算法計(jì)算得到光斑中心的準(zhǔn)確位置。
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